80/20mol%P(VDF-TrFE)等温结晶动力学的超快扫描量热研究
2023-06-18冯晓雯马忠亮
王 鑫,冯晓雯,马忠亮,卫 来,2*
(1.伊犁师范大学物理科学与技术学院,新疆凝聚态相变与微结构实验室,新疆伊宁 835000;2.伊犁师范大学物理科学与技术学院,伊犁绿色硅基材料工程研究中心,新疆伊宁 835000)
0 引言
聚(偏氟乙烯-三氟乙烯)(P(VDF-TrFE))是一种半结晶的聚合物[1],体系因具有优良的铁电、热释电、压电、电光特性,在微电子学方面具有巨大的应用前景,激起了科研人员的极大兴趣.已知的P(VDF-TrFE)关于铁电相变的晶体结构有3种不同的结晶相[2-4]:铁电低温相(LP)、顺电高温相(HP)和冷却相(CP).在室温下,P(VDF-TrFE)表现出稳定的铁电相,许多研究人员对此进行了研究,Tashiro、Lovinger等人[5]作出了显著贡献.P(VDF-TrFE)相较于聚偏氟乙烯(PVDF)来说,优点在于P(VDF-TrFE)不需要任何特殊处理就可以获得β相.如图1所示,P(VDF-TrFE)β相的分子链是以全反式构象堆积而成的极性晶体结构,主链的两侧分别分布着氟原子和氢原子,产生高偶极矩.因此它具有铁电性.因其具有较大的介电常数、压电常数和热释电常数,且易制成薄膜形式.所以较多应用于传感器和检测器等方面,是目前研究最广泛的聚合物之一.目前,对于P(VDF-TrFE)的性能研究主要集中在高VDF组分含量(>65 mol%)的共聚物方面.
图1 聚(偏氟乙烯‐三氟乙烯)β相分子链
热历史(尤其是冷却和加热与等温保持相结合)和样品/产品处理可以显著改变材料和产品的行为,从而影响最终产物[6].但是由于受扫描速度的限制,传统DSC在研究高分子的热行为时,扫描过程中常伴随高分子由亚稳态向更稳定的状态转变,其扫描结果很难反映高分子内部真实的结构信息[7].因此,实现比标准DSC的典型速率高得多的受控恒定速率是一项具有挑战性的工作.在过去的十几年中,科研人员通过开发各种快速扫描热量计(FSC)实现了突破,这一难题得到了解决.Schick等人[8-10]借助商业应用的热传导性真空规(Xen-TCG3880),发展出一种功率补偿型超快扫描量热仪(Fast Scanning Calorimetry,FSC),该仪器的可控扫描速率高达106K/s,成功解决了超快量热法中最佳冷却介质的选择问题,解释了可结晶高分子的熔融过热现象.本文利用自行搭建的非绝热功率补偿型FSC对配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE)的等温结晶动力学进行了研究.
1 实验部分
1.1 实验样品
本实验的样品是由北京爱普思隆科技有限公司生产的配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE).取少量配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE)粉末置于载玻片上,在体视显微镜下,将其切成和软铜丝直径相当大小的微米级颗粒;利用软铜丝,在显微镜下,将切好的样品转移至薄膜芯片传感器样品侧的中心加热区进行预熔,使其粘附牢固;将薄膜芯片传感器安装在炉体内抽去空气后充入氮气,将炉体放入装有液氮的杜瓦罐中降温,待温度稳定后,利用FSC程序设置不同的扫描速率和等温时间对样品进行检测.
1.2 实验主要仪器及设备
本文使用的超快扫描量热仪是在Schick所改进的非绝热功率补偿型超快扫描芯片量热仪的基础上,自行搭建的非绝热功率补偿型FSC,可控升降温速率达105K/s;仪器使用的芯片是由Xensor Integration公司生产的型号为Xen-39470b 的薄膜芯片传感器,加热器的直径为150 μm;体视显微镜作为辅助设备使用.将配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE)样品以100 K/s、500 K/s、1 000 K/s、2 000 K/s、3 000 K/s、4 000 K/s、5 000 K/s、6 000 K/s和7 000 K/s的扫描速率,先从160 K升温至480 K后再降回160 K以消除热历史,再进行升降温检测,获得熔融曲线.选取现象比较明显、稳定性比较好的扫描速率来设置升降温过程,这里选择一个适中的速率1 000 K/s 进行实验,本实验都将使用1 000 K/s 的扫描速率对配比为80/20 mol%的P(VDFTrFE)样品继续研究.
2 分析与讨论
图2是P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品在360~420 K分别等温60 s的熔融曲线图.样品在等温温度不超过360 K时,样品的熔融曲线没有变化.等温温度超过360 K之后,它的高温熔融峰没有变化,低温峰不断增长且向着高温区移动.等温温度在390 K时,出现了3个峰,这是样品的居里温度,说明等温温度在390 K时,在升温过程中发生了铁电-顺电转变.等温温度在390 K之后,高温熔融峰峰值一直增大,熔融峰的面积也随着等温温度的升高,变得越来越大,峰形越来越尖,直至400 K 时,熔融峰的峰值达到最大值后又逐渐减小,始终向着高温区移动;低温峰峰值也在等温温度为400 K时达到最大值后逐渐减小,始终向着低温区移动.等温温度超过410 K之后,高温峰向低温区移动,峰面积减小,峰值减小;低温峰位置不变,峰面积减小,峰值减小.说明过高和过低的温度都不利于P(VDF-TrFE)晶体的生长.
图2 P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品在360~420 K分别等温60 s的熔融曲线图
图3 为配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE)样品在370 K 温度下等温0.01~10 800 s 的熔融曲线图.由图可以看出,在370 K等温时间为1 s时,样品的升温曲线中存在3个熔融峰,低温区除1个主峰外,隐约存在1个副峰.随着等温时间的延长,低温峰面积增大,并向高温区移动,然后几乎汇成了一个完整的峰;高温区的峰并未移动,且面积逐渐缩小,当等温结晶时间到10 800 s时,近乎消失.由此可以说明,随着等温时间的延长,生成的铁电相逐渐趋于稳定,至于副峰的形成原因还有待研究.高温区的峰是非等温结晶形成的不完备结晶相所形成的.
图3 P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品在370 K等温结晶0.01~10800 s的熔融曲线图
图4 为配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE)样品在380 K 温度下等温0.01~10 800 s 的熔融曲线图.由图可知,样品在等温0.01 s时有2个熔融峰,随着等温时间的延长,低温峰面积逐渐变大,峰值逐渐增大,半峰宽无明显变化;而高温峰先是几乎保持不变,随后消失.说明随着等温时间的延长,P(VDF-TrFE)晶体逐渐在完善,同时也没有发生铁电-顺电相的转变,在380 K下等温,有利于P(VDF-TrFE)铁电相的生长.
图4 P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品在380 K等温结晶0.01~10 800 s的熔融曲线图
图5 是配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE)样品在等温温度400 K 下等温0.01~10 800 s 的熔融曲线图.由图可以看出,样品在等温0.01 s时有2个熔融峰,随着等温时间的延长,低温峰始终向着低温区的方向移动,峰面积先增大后减小,峰高先增大后减小,半峰宽无明显变化;高温峰则随着等温时间的延长逐渐向高温区移动,峰面积逐渐增大,峰值逐渐增大,半峰宽无明显变化.说明此时晶体存在共混相(铁电相和顺电相),且随着等温时间的延长,生成的顺电相逐渐趋于稳定,等温时间在超过30 s后,不利于铁电相的生长.
图5 P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品在400 K等温结晶0.01~10 800 s的熔融曲线图
图6 是配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE)样品在等温温度410 K 下等温0.01~10 800 s 的熔融曲线图.由图可以看出,样品在等温0.01 s时有2个熔融峰,此时晶体存在共混相,随着等温时间的延长,低温峰始终向着低温区的方向移动,峰面积先增大后减小,峰高先增大后减小,半峰宽无明显变化;高温峰则随着等温时间的延长逐渐向高温区移动,峰面积逐渐增大,峰值逐渐增大,半峰宽无明显变化.说明随着等温时间的延长,生成的顺电相逐渐趋于稳定,等温时间在超过30 s后,不利于铁电相的生长,且较400 K等温结晶时,生成的晶体更为稳定.
图6 P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品在410 K等温结晶0.01~10 800 s熔融曲线图
图7是配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE)样品在等温温度415 K下,等温结晶0.01~10 800 s的熔融曲线图.由图可以看出,样品起初为双重熔融峰,存在顺电相或者铁电相和顺电相的共混相.随着等温时间的延长,低温峰慢慢向低温区移动并且加强,并稳定在385 K左右.高温峰的面积逐渐增大并稳定在436 K左右,峰形越来越尖锐.当等温时间在300 s时,出现了3个峰,当等温时间超过300 s后,在436 K处开始出现高温峰,且熔点几乎没有变化.说明P(VDF-TrFE)直到等温时间超过300 s后才开始结晶,在415 K处等温不利于样品晶体的生长,随着等温时间的延长,由等温结晶形成的晶体越来越稳定.
图7 P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品在415 K等温结晶0.01~10 800 s的熔融曲线图
3 结束语
本文通过对配比为80/20 mol%的P(VDF-TrFE)样品进行FSC检测并对结果进行分析,得出以下结论:
(1)P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品以1 000 K/s的扫描速率,在不同的等温结晶温度下(360~420 K)分别等温60 s,发现在390 K温度下等温结晶时,P(VDF-TrFE)晶体发生了铁电-顺电相的转变,熔融峰峰值随着等温温度的升高表现出先升后降的趋势,说明过高和过低的温度都不利于P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品的结晶.
(2)P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品以1 000 K/s的扫描速率,在相同的等温结晶温度下(370~410 K)分别等温不同的时间(0.01~10 800 s),发现在380 K等温结晶时,更有利于P(VDF-TrFE)晶体铁电相的生长,熔融峰随着等温时间的延长而趋于稳定,说明随着等温时间的延长,P(VDF-TrFE)80/20 mol%样品结晶程度越来越高,等温结晶所形成晶体稳定性越高.
(3)等温结晶温度在390 K以上时,更有利于P(VDF-TrFE)晶体顺电相的生长.