粘结式横腭杆在加强支抗中的应用

曾靖华，王志伟，靳 华，杜翠莲 (.暨南大学医学院口腔系，广东 广州 5063;.中国人民武装警察部队广东总队医院口腔科，广东 广州 50507)

横腭杆是一种正畸支抗加强装置，通过银焊在带环舌侧再粘结固定在上颌双侧第一磨牙。焊接腭杆的制作需经过分牙、试戴带环、取模、灌注模型、焊接等工序，制作过程复杂，患者需多次复诊。随着矫正技术的发展和釉质粘结剂的性能改进，第一磨牙带环逐渐被直接粘接颊面管代替。本实验采用粘结方法固定横腭杆，对粘结腭杆和焊接腭杆的脱落率及对牙周组织健康的影响进行评价，现报告如下。

1 资料与方法

1.1 纳入标准:①年龄16～28岁，已过生长发育高峰期;②安氏二类一分类中等支抗患者;③高面角FMA＞28°;④前牙前突伴轻度拥挤;⑤除第三磨牙外无其他牙齿先天缺失;⑥设计拔除上颌双侧第一双尖牙。

1.2 排除标准:①上前牙腭侧萌出;②上颌牙弓不能同时黏贴托槽者;③磨牙高度过低影响托槽粘结者;④颊舌侧大面积金属充填物。

1.3 一般情况:符合纳入和排除标准者共46例，其中男32例，女14例，平均(21.6±2.8)岁。随机分成试验组和对照组。粘结腭杆组(试验组)23例，焊接腭杆组(对照组)23例，两组性别及年龄分组见表1。成组设计的t检验显示两组患者年龄差异无统计学意义(t=1.0221，P=0.312 3，P＞0.05)，χ2检验显示两组的性别构成差异无统计学意义(χ2=1.394，P=0.238，P ＞0.05)。

表1 试验组和对照组正畸患者基本情况

1.2 材料:MBT托槽(杭州新亚)，上颌第一磨牙托槽(杭州新亚)，带环(杭州新亚)，0.014～0.018英寸镍钛丝(北京有研亿京)，光固化树脂及粘结剂(日本可乐丽)，1.1 mm钢丝(杭州新亚)，焊媒。

1.3 治疗方法:两组患者均采用MBT矫治方法，在粘结托槽前把横腭杆装配到上颌双侧第一磨牙 ，常规整平排齐上下颌牙弓，弓丝顺序为(0.014、0.016、0.018、0.018)×0.025 英寸镍钛丝，在0.019×0.025英寸不锈钢丝上用滑动法关闭拔牙间隙，关闭间隙后拆除横腭杆。

1.4 粘结型横腭杆的制作:酸蚀上颌第一磨牙舌侧面，把上颌第一磨牙托槽用光固化树脂粘结于腭侧，前后上下各光照20 s，腭杆粘结处打磨粗糙，用光固化树脂把弯制好的腭杆粘结到托槽的垂直槽沟上，磨除多余的钢丝，并把粘结处打磨抛光。(粘结后情况见图1)

1.5 焊接型横腭杆的制作:常规用分牙簧分牙，试戴成品带环，取模，灌注模型(带环在印模中)，取出模型，把弯制好的腭杆焊接到双侧磨牙带环的舌侧面，用玻璃离子粘固剂粘固到上颌第一磨牙。两种方法制作的腭杆装配到上颌后均应离开腭部黏膜2 mm，U型曲朝后。

1.6 评价项目及指标

1.6.1 腭杆脱落率的计算:试验组脱落率的计算:横腭杆从第一磨牙托槽松脱或第一磨牙托槽从牙面脱落均计算为脱落。对照组脱落率的计算:焊点松开或带环脱落均计算为脱落。两组均只计算第一次脱落(中途脱落再粘结后不计算在内)。脱落率=粘结型腭杆或焊接型腭杆脱落例数/粘结型腭杆或焊接型腭杆总例数。

1.6.2 牙周检测部位:双侧上颌第一磨牙近中腭侧面、远中腭侧面、正中腭侧面。在患者戴入矫治器之前和带入6个月之后对牙龈指数(GI)、菌斑指数(PLI)进行评价。牙龈指数(GI):采用Loe-Silnessh法，0=正常牙龈;1=轻度牙龈炎症，轻度牙龈水肿，探诊不出血;2=牙龈中等炎症:牙龈色红，水肿光亮，有出血;3=重度牙龈炎症，牙龈明显发红、水肿、自动出血。菌斑指数(PLI):采用Loe-Silnessh法，0=龈缘区无菌斑;1=视诊无菌斑，但探诊可在游离龈及邻近区刮出薄层菌斑;2=龈袋内、游离龈区及邻近区可见中等沉积量的软垢;3=龈袋内、游离龈区及邻近区有大量软垢。

1.7 统计学处理:使用SPSSl3.0软件包，分别采用卡方检验、两样本t检验对粘结型横腭杆和焊接型横腭杆的脱落例数、牙龈指数(GI)、菌斑指数(PLI)进行统计学检验。

2 结果

2.1 两组腭杆组脱落比较:试验组23例，其中脱落4例，未脱落19例;对照组23例，其中脱落6例，未脱落17例。经χ2检验，粘结型横腭杆组与焊接型横腭杆组腭杆脱落率差异无统计学意义(χ2=0.237 7 ，P=0.625 9，P ＞0.05)。

2.2 两组正畸前与正畸6个月后GI指数比较:见表1。经成组t检验，粘结型横腭杆组矫治前与矫治6个月后的牙龈指数差异有统计学意义(t=19.644 1，P=0.000 0，P＜0.05);焊接型横腭杆组矫治前与矫治6个月后牙龈指数的差异有统计学意义(t=21.031 6，P=0.000 0，P＜0.05);矫治前粘结型横腭杆组与焊接型横腭杆组牙龈指数，差异无统计学意义(t=1.1039，P=0.741 7，P＞0.05)。矫治 6个月后，粘结型横腭杆组与焊接型横腭杆组的牙龈指数差异有统计学意义(t=4.174 0，P=0.000 1，P ＜0.05)。

表1 两组正畸前和正畸6个月后GI指数(±s)

表1 两组正畸前和正畸6个月后GI指数(±s)

分组 牙数时间 正畸前 6个月后试验组46 0.18±0.375 1.65±0.342对照组46 0.21±0.394 1.98±0.413

表2 两组正畸前和正畸6个月后PLI指数(±s)

表2 两组正畸前和正畸6个月后PLI指数(±s)

分组 牙数时间 正畸前 6个月后试验组46 0.71±0.524 1.89±0.535对照组46 0.62±0.553 2.240±0.5451

2.3 两组正畸前与正畸6个月后菌斑指数比较:粘结型横腭杆组矫治前与矫治6个月后的菌斑指数差异有统计学意义(t=10.687 0，P=0.000 0，P＜0.05);焊接型横腭杆组矫治前与矫治6个月后菌斑指数差异有统计学意义(t=14.411 9，P=0.000 0，P＜0.05);矫治前粘结型横腭杆组与焊接型横腭杆组菌斑指数差异无统计学意义(t=0.816 7，P=0.416 3，P＞0.05)。矫治6个月后粘结型横腭杆组与焊接型横腭杆组的菌斑指数差异有统计学意义(t=3.108 0，P=0.002 5，P＜0.05)。

图1 腭杆粘结后情况见

3 讨论

横腭杆能满足支抗牙中等支抗强度的要求，在横向、垂直向和前后向起到支抗作用［1］。除了受到向前、颊向作用力外，腭杆还受到舌体上抬的压力。两组患者整平排齐时间不大于6个月，关闭间隙时间不大于8个月，各有1例在第二个月脱落。从表1可知焊接型横腭杆和粘结型横腭杆脱落率差异无统计学意义，说明粘结型横腭杆完全能满足临床要求。5例焊接型横腭杆脱落患者，其中有4例带环脱落、1例焊点虚焊造成。3例粘结型腭杆脱落都是腭杆与磨牙托槽粘结处松脱。有回顾性研究认为直接粘结颊面管脱落是咬硬物时被硌而脱落。带环脱落原因较多［2］，目前使用的带环多为预成带环，与基牙不密合，造成固位力欠佳。粘结时粘固剂调配不当，过稀则强度不够，过稠则不容易完全就位，均易造成带环脱落。

牙菌斑是引起牙龈炎的重要原因，对牙周的影响因人而异［3］。有研究认为戴入固定矫治器1-2个月后牙龈指数会明显增加，到6个月时达到高峰［4］，然后维持在相对稳定水平，拆除矫治器后慢慢恢复到正常水平。牙龈指数升高的原因一方面是矫治器系统对牙龈的刺激，另一方面是口腔卫生维护比较困难，菌斑数量较难控制［5］。表1、2显示正畸治疗后GI、PLI均比基准值增高提示正畸治疗对牙龈的影响。矫治6个月后粘结腭杆组牙龈指数、菌斑指数均比焊接腭杆组低，提示和带环的使用有关，带环的龈缘比较接近牙龈缘，容易形成悬突;带环在颌缘和颈缘与牙面的间隙最宽，粘固剂较厚，微生物也容易聚集在粘固剂的微小裂隙和缺口中［6］。而粘结腭杆是用釉质粘结剂粘结，边缘密闭性好，可以高度抛光，减少菌斑的附着。

粘结腭杆在制作工艺上简单，方便。脱落以后再粘结无需拆下弓丝，粘结面打磨后即可再次粘结，节省大量椅旁时间。粘结腭杆脱落病例中并未发现两侧同时脱落患者，安全可靠。粘结型横腭杆可以代替焊接型横腭杆，对牙龈指数和菌斑指数影响较焊接型横腭杆小。值得在临床上推广使用。

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