高重复频率纳秒脉冲放电特性
2022-01-27李帅康黄邦斗
邵 涛,李帅康,黄邦斗,章 程
(1.中国科学院电工研究所,等离子体科学和能源转化北京市国际科技合作基地,北京 100190;2.中国科学院大学,北京 100049)
非平衡态等离子体中电子温度和离子温度相差较大,能够促进一些常规条件下苛刻的化学反应进行[1-2]。其电子能量较高,气体温度偏低,故不易对生物组织造成不利影响[3-4]故非平衡态等离子体在生物医疗[5-6]、表面改性[7]、能源转化[8]、环境治理[9]、流动控制[10]、点火助燃[11]等诸多领域应用广泛,并展现出良好的应用前景。
等离子体产生方式较为多样化,包括火花放电[12-13]、介质阻挡放电[14-15]等。火花放电注入到等离子体中的能量较高,产生的电子数量较多。大气压介质阻挡放电更为弥散,相对更均匀,但放电功率相对较低。常见的驱动放电的高压电源包括直流高压电源、交流高压电源、高压脉冲电源[16]等。直流放电不能驱动介质阻挡放电,交流高压放电气体温度偏高。脉冲放电对负载要求较小,不存在负载匹配问题。
纳秒脉冲放电由于上升时间较短,放电通常在超过10倍过电压下的情况产生。但由于脉冲上升时间和半高宽极短,仅为纳秒级,放电发展的时间极其有限,电子碰撞过程持续的时间相对较短,放电通道难以热化,故碰撞出的电子总数较少,即电子密度较低。电子密度较低,平均约化场强较高,因而电子能量较高,易于产生高能逃逸电子,可产生快速电离波。同时,由于脉宽较窄,放电通道加热时间在纳秒级。放电通道热化时间很短,难以发展成为平衡态等离子体。故纳秒脉冲放电的气体温度偏低,放电更为弥散,适用范围更为广泛。但受限于脉宽较窄,单脉冲能量有限,如果脉冲重复频率过低,产生的活性粒子数量有限。为解决这一困境,提高脉冲重复频率势在必行。国内外研究人员也据此研制了许多脉冲电源。
纳秒脉冲电源是产生纳秒脉冲放电的基础。性能优异的纳秒脉冲电源是当前的研究热点之一。纳秒脉冲电源的重要参数包括输出电压幅值、上升时间、脉冲半高宽、脉冲重复频率等。其中脉冲重复频率和上升时间较为关键,在极大程度上影响着产生的非平衡等离子体的状态参数。近年来,许多研究人员的研究成果提升了脉冲电源的各种参数性能。基于漂移阶跃恢复二极管技术,以色列研究人员Merensky制作了上升时间短于1 ns,脉冲重复频率高达1 MHz的重频纳秒脉冲电源,但其电压幅值仅有2.2 kV[17]。金属氧化物场效应晶体管通断速度较快,耐压较高,可产生重复频率较高的脉冲。重庆大学姚陈果等人据此研制了脉冲重复频率可达10 MHz的脉冲电源,但其电压幅值不到500 V[18]。韩国研究人员Kim等人据此研制了电压幅值可达1.8 kV脉冲电源,其重复频率可达1 MHz[19]。中科院电工所李帅康等人报道了输出电压幅值可达25 kV,连续运行重复频率可达600 Hz的重频纳秒脉冲电源[16]。磁压缩技术可产生电压幅值较高的电压脉冲。南京理工大学李凯等人基于磁压缩技术研制了输出电压幅值可达70 kV的纳秒脉冲电源,但受限于磁芯发热,其重复频率较低[20]。
脉冲重复频率较高时,注入放电能量随之增加。产生的等离子体能量较高。但重复频率较高时,放电通道出现了热化加重的现象。为产生较大规模的低温等离子体,需了解其放电通道热化现象出现的原因。故开展高重频纳秒脉冲放电特性的研究具有重要的意义。本文使用重复频率高压脉冲驱动大气压火花放电,并研究其放电参数变化,分析放电状态。使用光谱仪测量放电时的光谱,并计算放电时电子温度随脉冲重复频率的影响。
1 实验装置
实验装置图如图1所示,使用自行研制的高重复频率纳秒脉冲电源驱动大气压火花放电[21]。电压幅值为5 kV,脉冲上升时间为12 ns,空载情况下重复频率1~100 kHz连续可调,火花放电时脉冲重复频率在1 Hz~30 kHz连续可调。脉冲重复性较好,不同脉冲的各参数抖动较小,对实验结果影响较小。放电时保持上升时间和脉宽不变,只改变脉冲重复频率观察重频脉冲放电时的等离子体参数变化。
图1 实验装置示意图
使用针-针电极放电,电极间隙为1 mm,电极直径为2 mm。由于放电在纳秒级的时间尺度内完成,故需使用高采样率的示波器进行击穿电压和击穿时延的观测。使用高压探头(PINTECH P6028A)和示波器(LeCroy Wave Runner/WR204Xi 2 GHz)配合观测放电电压波形,使用罗氏线圈(Pearson 4100)和示波器配合观测放电电流参数变化情况。使用光谱仪(复享光学PG2000-PRO-3)测量氩气气氛中的发射光谱,并使用玻尔兹曼图法拟合电子温度,探究电子温度随脉冲重复频率的变化。
2 实验结果与讨论
首先使用针针电极进行放电。火花放电图像如图2所示,可以看出发光较强,放电较为剧烈。图3为频率为1 kHz时单个脉冲放电电压及电流波形,明显可以看出电压达到3.79 kV之后发生击穿,体现为电压迅速下降到较小值,同时电流急剧增加。改变放电频率,观测了击穿电压和击穿时延随脉冲重复频率的变化情况,进而分析重频脉冲放电和单个脉冲放电的区别和联系。然后,使用光谱仪观察不同频率放电时的发射光谱,使用玻尔兹曼图法诊断等离子体电子温度随频率的变化情况。
图2 纳秒脉冲火花放电图像
t/ns
2.1 击穿电压与击穿时延
观察针-针放电时击穿电压和击穿时延随频率的变化情况。放电间隙为1 mm。放电电极为钨电极。前人也有对重频放电时的击穿电压和击穿时延开展研究,但受限于电源重频性能,研究范围大多集中在5 kHz以下的范围内。实验观察了更宽频率范围内击穿参数。
图4给出了不同频率下击穿参数的变化。结果显示击穿电压和击穿时延随频率的增加而不断下降。相比于重复频率低于1 kHz的结果,发现在更高频范围内变化趋势没有发生变化,仅是击穿电压和击穿时延下降在15 kHz时出现饱和。
频率/kHz
由于负载为1 mm针针放电间隙,其体积较小,电容较小,可近似看作阻性。使用电压乘以电流作为瞬时功率的波形,再对其进行积分得出单脉冲能量。单脉冲能量随频率变化的情况如图5所示。其展现出相对复杂的趋势,随频率的增加,单脉冲能量先增加,再减小,最后继续增加。频率不同时,记忆效应通过影响放电发展改变脉冲注入能量。
频率/kHz
2.2 电子温度
纳秒脉冲放电由于脉宽较窄,放电通道加热时间也相应较短。电场能量主要用于电子加速,离子由于质量较大,加速较为缓慢。故电子温度和离子温度相差较大,等离子体状态为非平衡态。为进一步验证纳秒脉冲放电产生的等离子体为非平衡态等离子体,观测了纳秒脉冲放电时产生的光谱。使用玻尔兹曼图法拟合电子温度。根据文献中的结果,电子从能级i跃迁到能级j时,满足下式[22-23]。
(1)
λ/nm
根据式(1)拟合出玻尔兹曼图,拟合结果如图7所示,可见数据点比较分散,相距较远,故拟合结果比较可信。然后根据直线斜率计算出不同频率放电时的电子温度,如图8所示。当脉冲重复频率小于5 kHz时,电子温度为~2.5 eV,而10 kHz以上时,电子温度降低至~0.8 eV。由于火花放电典型气体温度在700~3000 K之间[24],故此时电子温度(8 000~30 000 K)远高于气体温度,此时放电仍为典型的非平衡态等离子体。电子能量和温度正相关,电子温度较高表明电子能量较高。
-(Ei-Ej)/k
λ/nm
2.3 结果与讨论
高重复频率下脉冲放电中击穿电压和击穿时延下降与记忆效应有关[1]。先前脉冲放电产生的电荷具有一定的寿命,残余在电极间隙中。残余电荷提供了电子崩发生的初始电荷,使放电更容易发生,降低了间隙的绝缘强度,表现为击穿电压和击穿时延下降。放电产生的带电粒子中,电子速度较快,寿命极短,对后续放电产生的影响较小,正离子寿命较长,对后续脉冲电场起到一定的畸变作用。
记忆效应对脉冲注入放电的能量具有较为复杂的影响。当频率较低时(<5 kHz),记忆效应粒子残余较少,记忆效应比较弱,放电难以发生。记忆效应随着频率的增加而不断加强,间隙绝缘强度变弱,放电越来越容易发生,击穿时间越来越早。在相同宽度的脉冲情况下,放电发生的越早,放电持续的时间就越长,故而放电持续时间变长,单脉冲注入放电的能量增加。当频率在5~15 kHz之间,记忆效应较为显著,击穿电压大幅下降。击穿电压较小时,放电电流峰值也较小,导致放电功率下降。进而单脉冲能量变小。表现为记忆效应不利于能量注入。当频率大于15 kHz时,击穿电压下降趋势出现饱和现象,故单脉冲能量表现为缓慢增加。
根据玻尔兹曼图法拟合电子温度,发现电子温度整体较高,明显高于常规火花放电的气体温度[24]。据此可知重频纳秒脉冲放电产生的等离子体为非平衡态等离子体。由于放电发生时刻提前,放电持续时间增加,放电电流增加,即放电间隙总的电子数量增加,平均到每个电子上的能量变小。放电频率变高时,残余到下一次脉冲的电子数量增加,则在下一次放电初期有更多的电子崩同时发展,相当于同样的能量分散到更多的电子上,单个电子分得的能量变小。10 kHz左右时,等离子体电子温度急剧下降,对比发现单脉冲注入能量也出现下降现象。这是由于在该频率范围内残余电荷导致击穿电压下降,不利于脉冲能量的注入。
3 结论
本文研究了高重复频率纳秒脉冲放电特性和电子密度与电子温度等等离子体参数,脉冲重复频率范围为1 kHz~30 kHz,得到主要结论如下:
(1)放电击穿电压和击穿时延随脉冲重复频率的增加而不断下降,但当重复频率大于15 kHz,降幅趋缓。单脉冲能量随着脉冲重复频率增加先减小,后增加,但单位时间内脉冲注入能量增加。
(2)电子激发温度在0.8~5 eV范围内,为典型的非平衡态放电。当脉冲重复频率增加到10 kHz以上,电子温度下降,这是因为高重复频率下残余电荷降低击穿电压,不利于脉冲能量的注入。