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飞机二次共固化蒙皮超声检测缺陷信号的识别方法

2020-04-23杨鹏飞樊俊玲

无损检测 2020年4期
关键词:试块蒙皮波形

何 潇,杨鹏飞,樊俊玲

(中国飞机强度研究所,西安 710065)

由于具有轻质、高比模量、高比强度、耐腐蚀等优点,碳纤维复合材料得到了越来越多的应用。在实际应用中,复合材料整体成型技术[1]可以大幅度减少复杂大型结构的组装和紧固件的数量,提高生产效率,是实现复合材料轻质、高效、低成本的重要途径。二次共固化工艺是一种重要的整体成型技术,是指将一个或多个已经固化而另一个或多个未固化的复合材料零件,通过胶黏剂( 一般为胶膜) 在一次固化中固化并胶接成一个整体制件的工艺方法。

在飞机复合材料结构的制造过程中,蒙皮与筋条共固化整体成型技术被广泛采用,例如复合材料整体机翼、机翼盒段等。成型过程中,如果工艺控制不当,会产生分层、脱黏等缺陷,从而严重影响结构的成型质量和整体性能。

在外场检测或试验中,飞机结构检测工艺的制定必须等到试件到达,经过现场摸索后再制定,这对检测人员的要求较高,也降低了工作效率。随着无损检测应用的不断推广,以及新型材料和复杂结构的出现,飞机结构的检测难度不断加大,对检测工艺的要求也不断提高。

如何在实际检测之前制定正确、高效的检测工艺就成了工作的重中之重。以超声检测为例,检测工艺包括探头的选取和检测方法的确定;而从经济成本和时间成本上考虑,使用所有探头进行实际试验验证是不现实的。此时,需要使用模拟仿真软件进行检测仿真、确定工艺,最终进行实际验证。

笔者针对飞机二次共固化蒙皮结构部分位置的典型缺陷,结合CIVA软件理论仿真与实际检测数据的比对,得到不同类型、不同位置缺陷的典型特征,以便于检测人员更加准确地定性判断缺陷。

1 飞机二次共固化蒙皮结构和典型缺陷标准试块

1.1 飞机二次共固化蒙皮结构

飞机的二次共固化蒙皮结构示意如图1所示,其成型工艺为先进行筋条固化,再进行层压板蒙皮固化,然后筋条与蒙皮一起共固化,二次共固化时蒙皮与筋条间加J-299胶膜,填充区为单向带填充。

蒙皮+筋条材料为ZT7H/QY9611;胶膜材料为J-299胶膜。

图1 飞机二次共固化蒙皮结构示意

1.2 二次共固化蒙皮结构典型缺陷对比试块

为了得到二次共固化蒙皮结构的典型缺陷,制作了与检测对象同工艺的二次共固化蒙皮标准试块。标准试块中含有人工预制缺陷,缺陷形式为分层和脱黏,其结构示意如图2所示。

图2 含预制缺陷的二次共固化蒙皮标准试块结构示意

图2中AG为预制缺陷,材料为聚四氟乙烯膜,薄膜厚度为0.15 mm;H位置为完好区域(不含预制缺陷)。其中:AC位置模拟上蒙皮不同深度分层缺陷,D处模拟上蒙皮与立筋脱黏缺陷,E位置模拟上蒙皮与下蒙皮脱黏缺陷,F、G位置模拟下蒙皮不同深度的分层缺陷。

2 CIVA仿真分析以及与实测结果的对比

2.1 CIVA仿真建模

CIVA超声波仿真模块可以实现整个检测过程的仿真,可以选择常规探头与相控阵探头进行模拟仿真,也可以直接展示缺陷以及工件结构的回波[2]。在检测仿真制定的前期,依照图2中含缺陷的标准试块的结构在CIVA仿真模型中进行建模设置,依照二次共固化蒙皮结构的制造工艺,在CIVA模型中建立等效模型(见图3),设置了上蒙皮、下蒙皮、二次共固化界面,并且在CIVA模型中预制缺陷ag,其位置与图2中标准试块的AG缺陷的位置一一对应。

图3 二次共固化蒙皮结构标准试块的CIVA模型

建立含有预制缺陷的模型后,在软件中选取5PL6的常规探头,进行扫查设置(见图4),模拟中采用接触式脉冲反射法,声束垂直入射,探头沿着ag缺陷位置的方向进行扫查。

图4 CIVA中的扫查设置

2.2 预制缺陷的模拟结果与实际检测结果对比

在CIVA中模拟了将探头置于ag缺陷位置得到的模拟回波结果,并且通过A超与标准试块AG缺陷的实测结果进行了对比。图5所示为完好结构处的CIVA模拟波形与标准试块H位置处的实采波形对比。图5(a)中模拟了探头位置在完好结构H处的超声回波,其中左侧图为A超波形,右上图为B扫图,右下图为探头位置图,从A超波形可以看出,第一个波形是表面回波,第二个波形是二次共固化界面回波,第三个波形是下蒙皮底面回波,这个模拟结果波形与图5(b)中的标准试块的A超实采波形相近似。

当模拟探头在图3中的ac位置(这3处模拟二次共固化结构上蒙皮不同埋深的分层缺陷)时,探头的位置示意如图6(a),(b),(c)中右下角所示,得到的模拟结果如图6(a),(b),(c)左侧图所示,与标准试块中A位置的实采结果(见图7)相近似。

图5 完好结构处的CIVA模拟波形与标准试块H位置处的实采波形对比

当模拟探头在图3中d,e位置(这两处模拟二次共固化结构上蒙皮与下蒙皮脱黏缺陷)时,探头的位置示意如图8(a),(b)中右下图所示,得到的模拟结果如图8(a),(b)左侧图所示,与标准试块中D,E位置的实采波形(见图9)相近似。

图6 二次共固化结构上蒙皮ac位置的CIVA模拟结果

当模拟探头在图3中f,g位置(这两处模拟二次共固化结构下蒙皮中分层缺陷)时,探头的位置示意如图10(a),(b)中右下图所示,得到的模拟结果如图10(a),(b)左侧图所示,与标准试块中F,G位置的A超实采波形(见图11)相近似。

2.3 CIVA模拟结果与飞机二次共固化蒙皮结构盒段对比

为了进一步验证CIVA模拟结果的准确性,实测了飞机二次共固化蒙皮结构盒段在静力试验中出现的脱黏缺陷(见图12)的A超信号(见图13),与CIVA模拟结果中的d位置,e位置的模拟结果(见图8)进行对比,可见CIVA模拟结果与飞机二次共固化结构盒段中的缺陷A超实采信号相近似。

图7 二次共固化结构上蒙皮AC位置缺陷的超声信号实采波形

图8 二次共固化结构de位置的CIVA模拟结果

图9 二次共固化结构D位置和E位置缺陷的超声信号实采波形

3 结论

针对飞机二次共固化蒙皮结构部分位置的典型缺陷,结合CIVA软件理论仿真与实际检测数据的比对,总结出不同类型不同位置缺陷的典型特征。通过CIVA仿真结果与标准试块中的缺陷实采信号的对比,以及与飞机二次共固化蒙皮结构盒段中的脱黏缺陷A超实采信号的对比,得到仿真结果与实际测试结果相近的结论。

图10 二次共固化结构f位置和g位置的CIVA模拟结果

图11 二次共固化结构F位置和G位置缺陷的超声信号实采波形

图12 飞机二次共固化蒙皮结构盒段在静力试验中出现的脱黏缺陷

图13 脱黏区域的A超实测信号(对应图12)

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