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X 光检测机真空频繁报错故障分析

2021-08-27申承志赵英伟郝晓亮马培圣

设备管理与维修 2021年11期
关键词:规管膜片电离

申承志,赵英伟,郝晓亮,马培圣,刘 楠

(中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄 050051)

1 背景

X 光检测机利用X 光透射成像原理,由X 光发射器产生X光,X 光接收装置能接收X 光并成像。X 光接收装置将产生的图像信号传给电脑,在电脑屏幕上显示被测物体的内部结构。这种设备一般用来检测芯片、PCB 板、锂电池和精密铸件等零部件。电子工业中的X 光检测机要求高精度。

某台X 光检测机真空频繁报错,该故障3 天左右出现一次。该型号X 光检测机的真空系统由膜片泵、分子泵、手动放气阀、真空计和透射光束发射器等部件组成,如图1 所示。该X 光检测机与真空有关的部分电路简图如图2 所示,膜片泵运转一段时间后会停机一段时间,进气口真空值(压强)上升速度慢。

图1 某X 光检测机真空部分结构简图

图2 某X 光检测机与真空有关的部分电路简图

2 冷阴极电离真空计原理

高真空计有多种类型,常见的有热阴极电离真空计、冷阴极电离真空计和B-A 型电离真空计。冷阴极电离真空规一般具有3 种电极配置方式,即潘宁规、磁控规和反磁控规[1-2]。早期真空计的规管和控制器是分开的,后来随着技术发展,规管和控制器的主要部分可以组装在一起。

冷阴极电离规在直流高压电源、电场和磁场的共同作用下,形成自持气体放电,一般又称为潘宁放电[2]。冷阴极电离真空计中的电流I与压强P 是非线性关系,但在一定的压强范围内,放电电流与压强的关系遵循幂次方关系[3]:I=KPn,即 lgI=nlgP +C,C=lgK。其中,I 为放电电流,K 为规管常数,P 为压强,n 为指数,一般在1~2,它是与规管结构有关的常数[3]。

冷阴极电离规的硬件电路和软件程序对读数输出是有影响的[2]。要使真空计读数在误差允许范围内,可以在软件里设置误差修正表,通过修改该表来调整输出。冷阴极电离真空计的电路部分长期工作,部分电子元器件电气参数可能发生改变,导致真空计读数偏差。冷阴极电离规在使用过程中免不了放电喷溅沾污。因此,要定期清洁电极表面和内壁,否则会带来测量误差,甚至不激发。

3 故障分析与处理

故障出现后,屏幕上真空指示圆形图标为红色,真空度显示为0,设备不能正常工作。故障原因可能有:①真空计故障;②抽真空部件故障;③腔室漏率大故障;④电气控制故障。

首先从第一个原因开始,图3 是一个有沾污的冷阴极电离规。用万用表测量该规管带孔圆盘上深色的薄层与侧壁的电阻,电阻值在20 kΩ~1.5 MΩ。如图4 所示,阳极杆深色段是放电的地方,这两处与阴极很近。该电离规管电极结构简图如图5 所示。使用百洁布打磨冷阴极电离规管有沾污处,再做清洁。装回设备后可使用一个月左右。这样处理了两、三次,该问题没有彻底解决。

图3 某个有沾污的电离规管

图4 阳极杆深色段

图5 某电离规管电极结构简图

接着查看该设备的膜片泵和分子泵。膜片真空泵有时停止不动,这是间歇式工作模式,与连续工作模式不同。拆下膜片泵,单独测试极限真空,它能抽到的极限真空是500 Pa。该真空泵的极限真空跟它手册上的值是200 Pa 差了一些。膜片真空泵极限真空差是一个可能原因,为此购买了一台该型号真空泵。后联系分子泵厂家得知,前级泵间歇式工作也是正常,要看分子泵电子驱动器的设置。

从图2 可以看出,膜片真空泵受分子泵电子驱动器控制。X3接头辅助输出Aux2(B1)引脚,它的功能由一个参数决定,它可以设置成8 种功能中的一种,其中一种是前级泵(Baking Pump)[4]。前级泵的工作模式由另一个参数决定,它有3 种工作模式,分别是连续、间歇和延时启动[4]。图2 中,驱动器X3 接头上的DO1 引脚控制高真空计的电源,该引脚有15 种功能设置,其中一种是“达到转速设定点开关”,当条件达到时会输出“ON”[4]。由此可见,分子泵电子驱动器控制膜片泵和高真空计,驱动分子泵,是该设备真空系统的控制部件。

故障出现时真空显示如图6 所示,在真空显示处,右下角的圆形图标由绿色变为红色,接着颜色反复变了几次,经过大约2 min,圆形图标保持红色。一段时间以后设备停止抽真空,这个时间由设备真空延时参数决定。

图6 真空显示

这个新的故障现象显示真空度太高(或者说压强太低),导致设备真空出错。设备上高真空计的准确度在1×10-1~1×10-7Pa≈±30%[5]。设备真空正常状态是在2×10-3~3×10-5Pa。膜片泵技术参数中能抽到的真空值≤200 Pa,该设备使用分子泵,还有一些KF 接头,与该真空结构类似的设备极限真空>1×10-4Pa。由此推断该真空系统的极限真空>3×10-5Pa。当它的真空显示值≤3×10-5Pa 时,真空计出现问题的可能性很大。使用2 个KF25 三通,将一套热阴极电离真空计加装到设备上高真空计相同的位置,如图7 所示。发现设备上的高真空计读数比它小一个数量级,读数见表1。可以推断有一个或者两个真空计不准。将设备上的高真空计送到高真空计生产厂家进行维修和调整,修好以后装回设备。设备工作两个月时间,没有再出现该故障。将一个高真空计送去校准,然后用校准过的高真空计与设备上维修过的真空计进行对比,对比值见表2。由此得出故障原因:真空计不准,导致设备真空报警故障。

图7 在设备上加装另外一套真空计

表1 真空值对比

表2 维修后的真空计与校准过的真空计对比

4 总结

获取信息提前到故障现场等待,看到故障发生时的情况。经过多次检测,找到X 光检测机真空故障频繁发生的原因和解决办法。有校准过的高真空计方便维修,加快维修速度。

半导体设备大量使用真空计,设备真空值是一个常用参数。真空达不到要求,设备不能正常使用,或者某一步工艺不能进行。真空计读数准确很重要。若工作中不重视真空计的准确性,则可能无法确认故障原因。

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