恒牙初期安氏Ⅱ1类错畸形颅底形态特征的分析

李 欣 荆 璇 薛美荣 马艳宁 武秀萍*

（大连医科大学附属大连市儿童医院口腔科，辽宁 大连 116021）

颅面复合体由脑颅、面颅和颅底三部分组成，颅底作为颅面复合体的组成部分，是面中部发育的主要支持结构[1-2]。Björk提出颅底结构决定上下颌骨的位置关系，认为错畸形的发生与颅底结构差异有关[3]。因此颅底结构的特征一直受到正畸学者的关注。当颅底的生长发育出现异常时，可能引起骨性错的发生或加重错畸形的程度。所以，了解颅底的形态特征，有助于早期诊断和预测牙颌面畸形的发生、发展和预后，为确立正确的矫治计划奠定良好的基础。

1 材料与方法

1.1 病例采集：按照纳入标准随机挑选出在12～14岁年龄段的80例患者，男女各半，包括安氏Ⅰ类均角组、安氏Ⅱ1类高角组、安氏Ⅱ1类低角组、安氏Ⅱ1类均角组。纳入标准：①安氏Ⅰ类：磨牙、尖牙中性关系，前牙覆牙合覆盖正常，0º≤ANB≤4º，均角（22º＜FH-MP＜32º；29º＜SN-MP＜40º）；安氏Ⅱ1类：两侧磨牙远中关系，ANB角＞4°。②根据上下颌骨垂直向关系将安氏Ⅱ1类分为高角组（SNMP＞40º；FH-MP＞32º）、均角组（22º＜FH-MP＜32º；29º＜SN-MP＜40º）、低角组（FH-MP＜22°；SN-MP＜40°）。③安氏Ⅱ1类、安氏Ⅰ类患者其牙合型和骨型一致。④汉族身体健康，上下颌骨发育无异常，无颞颌关节病史，无影响口颌系统发育的疾病，面部左右对称、无外伤史。⑤未接受过正畸治疗；⑥恒牙初期，第二磨牙已经萌出，无先天缺牙及拔牙史。

1.2 主要仪器及设备：头颅定位X线摄影仪 (SIEMENS公司，German)，Winceph8.0头影测量分析软件（日本Rise株式会社编制）。

1.3 研究方法

1.3.1 头颅侧位片的拍摄：①所有患者均由我院放射科同一位熟练技师，以头颅定位仪严格定位，在相同条件下拍摄。②患者取站立位，两眼平视前方松，受试者的头部在头颅定位仪的严格定位下轻咬在牙尖交错位，面部放松，矢状面与暗盒平行。

1.3.2 确定标记点及参考平面：将头颅侧位片导入到Winceph8.0测量软件。头影测量定点均由同一研究者不同时间重复测量3次，取3次测量结果均值。所有测量数据使用Winceph8.0软件中同一校对标尺，最后将测量数据导入Excel表格。

1.3.3 颅底相关测量项目：包括：S-N，S-Ba，N-Ba，N-S-Ba，S-Ar-Go关节角，SN-FH，SBa-FH，Ba-SE-FMS，Ba-SE-PM，CF-PM，S-N-A，S-N-B，A-N-B。

1.3.4 统计学处理：使用SPSS17.0软件，采用单因素t检验及LSD两两比较的方差分析分别对安氏Ⅱ1类均角和安氏Ⅰ类均角两组间及安氏Ⅱ1类高角组、低角组、均角组三组的13项头影测量数据进行统计分析，以α=0.05作为检验水准，以P＜0.05认为差异有显著性，P＜0.01认为差异有高度显著性。

2 结 果

安氏Ⅱ1类后颅底长（S-Ba），前颅底长（S-N）、全颅底长（Ba-N）均大于安氏Ⅰ类具有统计学意义。安氏Ⅱ1类错与安氏Ⅰ类错相比，颅前基底角（CF-PM），颅中基底角Ba-SE-PM，后颅底平面角SBa-FH，均有显著的统计学差异。安氏Ⅱ1类错的颅前基底角CF-PM，后颅底平面角SBa-FH均小于安氏Ⅰ类错；安氏Ⅱ1类错的颅中基底角（Ba-SE-PM）和颅基底角（Ba-SE-FMS）均大于安氏Ⅰ类错。安氏Ⅱ1颅底角（N-S-Ba）及前颅底平面角SN-FH与安氏Ⅱ1类与安氏Ⅰ类差异无统计学意义。在出生后至2岁期间[4]。Lewis和Roche认为颅底生长有青春快速增长期，且男女间有性别差异，女性颅底在11～13岁发育完成95%，男性较女性晚，到17岁以后仍有生长[5]。本研究选取12～14岁恒牙初期儿童患者，男女各半，以减少年龄及性别差异引起的测量误差。关于颅底软骨的生长方式有的学者认为主要由基因决定，较少受到环境因素的影响[6]。也有研究认为颅底结构正常的标准应该考虑种族的差异，亦即颅底的发育形态与种族相关[7]。

Björk认为颅底结构决定上下颌骨的位置关系，提出颅底结构差异与错畸形的发育有关。本研究发现安氏Ⅱ类颅底角与安氏Ⅰ类无显著性差异。为此本研究对安氏Ⅱ1类组与安氏Ⅰ类组颅底长度进行了

3 讨 论

颅面复合体由脑颅、面颅和颅底三部分组成。颅底部在生长发育过程中，受到颌骨一般性生长发育和脑部的神经型生长发育的共同影响。Brenda对颅底的生长进行纵向研究，发现颅底最快速的增长发生研究，结果显示后颅底长（S-Ba）、全颅底长（Ba-N）均大于安氏Ⅰ类，前颅底长（S-N）小于安氏Ⅰ类，具有统计学意义。颅底长度二者表现为显著差异一方面由于安氏Ⅱ类、Ⅰ类矢状向比较均选择垂直向发育无异常的均角患者，一定程度排除了颅面部通过垂直向生长以代偿矢状向异常生长的情况，另一方面本研究结果可以看到安氏Ⅱ类错与安氏Ⅰ类错相比，除了表现为颅底长度的差异，颅前基底角CF-PM，颅中基底角Ba-SE-PM，后颅底平面角SBa-FH，二者均有显著的统计学差异。安氏Ⅱ类错的颅前基底角CF-PM，后颅底平面角SBa-FH均小于安氏Ⅰ类错；而安氏Ⅱ1类错的颅中基底角和后颅底长却大于安氏Ⅰ类错。

颅底及颅基底形态对安氏Ⅱ1类矢状向，垂直向畸形的形成均有重要影响。矢状向主要表现在后颅底长度及前颅底的倾斜度的改变。而颅底及颅基底的角度在安氏Ⅱ1垂直向上起一定作用。