总线类测试系统的技术现状及发展方向

张荣，王珏，周继昆，张毅，郑敏

（中国工程物理研究院 总体工程研究所，四川 绵阳 621900）

总线类测试系统的技术现状及发展方向

张荣，王珏，周继昆，张毅，郑敏

（中国工程物理研究院 总体工程研究所，四川 绵阳 621900）

归纳了当前测试系统的主流总线架构形式，对当前各种总线架构的测试系统性能及应用进行了分析，同时对当前测试系统的主要软件设计技术现状进行研究。在此基础上，提出了未来复杂测试系统研制的主要方向，要满足未来复杂测试任务需求，应加大应用LXI总线构建大型高精度混合型分布式测试系统。硬件方面，将VXI/PXI/PXI-E/PCI-E/USB3.0总线进行组网集成，满足大型应用测试中低速、高速、高精度的数据采集与传输测试需求；软件方面，应按照行业标准需求，研制功能完备、满足特定行业应用的软件系统。

测试系统；总线架构；网络分布式系统；软硬件设计技术；USB3.0总线

测试系统是武器装备环境试验的重要配套设备，是环境试验与综合评价技术[1]研究的重要内容。测试系统性能的优劣关系到试验数据采集的精准度，直接影响试验数据的分析和试验结果的

评价，研究当前测试系统的设计技术具有重要意义。目前，测试系统的研制主要集中在两个方面：一是总线类测试系统集成化研制；二是基于底层FPGA，DSP等硬件平台以及嵌入式操作系统软件平台的嵌入式测试系统的研发。前者广泛应用于大型地面环境试验测试中，后者主要应用于航空航天测控系统、弹载测控系统以及某些异常环境试验的测试。测试系统研制的关键技术主要集中在测试系统的总线架构设计、测试系统同步触发设计、测试系统精确度设计以及测试系统的软件设计方面。从测试系统的开放程度可将测试系统的研发方式归结为两类：软硬件集成类测试系统的研制；专用类测试系统的研制。所谓集成类测试系统，其硬件系统采用模块化仪器通过积木堆叠方式完成设计，建立在一定的测试总线架构基础上，总线架构的优劣决定了测试系统的性能，而软件系统可根据用户功能需求进行定制开发；对于专用测试系统，其软硬件系统必须完全匹配，用户无法根据自己应用需求进行二次扩展设计，这类测试系统通常由专用的测试系统生产厂商提供。文中研究了现有测试系统总线的性能以及测试系统的软硬件设计技术，展望了未来复杂测试系统的软硬件设计技术发展方向。

1　总线类测试系统架构设计

1.1 当前主流的测试系统架构

当前主流的总线类测试系统架构主要有五种：GPIB总线架构[2—4]、VXI总线架构[5—8]、PXI总线架构[9—12]、PXI-Express总线架构[13—16]以及其他基于通用 PC总线[17—21]的架构。各架构针对不同的测试对象，具有不同的特点，主要表现在数据传输速率、同步触发方式、通道数扩展等方面。

GPIB总线架构测试系统由GPIB主控系统和多套测试终端系统组成，主控系统作为“讲者”通过GPIB总线与作为“听者”的各 GPIB终端系统发送程控指令，各 GPIB测试系统具有唯一地址，“讲者”系统同时最多控制14台“听者”系统，总线上某时只能有一个“讲者”，其架构如图1所示。

图1 GPIB总线架构测试设备设计方案Fig.1 The design scheme based on GPIB bus architecture

GPIB总线架构的系统体积与质量较大[22]，数据传输率低（≤1 MB/s），且必须使用GPIB控制卡与特殊电缆完成系统控制，测试成本较高。目前这种架构主要应用于数字万用表、数字频率计、频谱分析仪等专用仪器组网测试，以及导弹地面与弹上通信测试等数据传输率要求不高的分布式测试系统研制中，各系统不具备同步触发机制。VXI总线建立在 VME总线基础上，总线带宽可达 40 MB/s[23]，质量轻，可配置使用的测试通道数多，但系统必须由VXI机箱、VXI零槽控制器以及1394火线接口卡实现各槽 VXI总线测量模块的控制。受系统带宽限制，在采样率相对较低（≤1 MHz）的测试系统构建时可采用，典型的应用是构建多通道振动测试系统。在同步触发方面，VXI零槽控制器通过VXI机箱背板总线实现各VXI总线模块的同步触发控制，可构建同步测试系统。PXI总线架构[24—25]测试系统基于PCI总线，在PCI总线上增加星型触发总线、RTSI实时触发总线构成同步测试系统总线，总线传输速率达到 133（主频为 33 MHz）～528 MB/s(主频为66 MHz)，由PXI机箱、PXI零槽控制器、PXI测量模块组成。各PXI测量模块共享PXI总线带宽，相对VXI总线，系统带宽显著提高，并通过编程实现时钟与触发线路的路由，不仅适合多通道振动测试系统构建，还适合高采样频率（≥1 MHz）多路瞬态同步测试系统的构建。高采样率下的测试除依赖于总线传输带宽外，还跟采样模式相关，如采用板载缓存模式，总线的传输带宽可适度降低，依赖于采集板卡上的大容量缓存降低数据传输速率。中国工程物理研究院总体工程研究所在2013年联合北京中科泛华恒兴科技有限公司，完成了一套采样频率为10 MHz，板载缓存为1 GB的64通道瞬态数据采集系统，系统从完成数据采集到下载至计算机内存的时间为 3 min。目前，PXI机箱的槽数最大为18槽，受限于槽数，单机箱PXI总线测试系统的通道数不大，要实现测量通道数的扩展，需采用专门的PXI机箱同步模块互连多个PXI机箱完成。VXI/PXI总线架构测试系统设计方案如图2所示。

图2 VXI/PXI总线架构测试设备设计方案Fig.2 The design scheme based on VXI/PXI bus architecture

在某些应用如微波与电磁兼容等方面的测试，不仅要求测试系统的采样频率高（≥1 MHz），而且还要求长时间连续采集和存储数据，这要求测试系统具备更高的数据传输带宽，采用PXI总线已不能很好地满足测试要求。近年发展了 PXI-Express总线，借鉴PCI-Express总线技术，在PCI-Express总线上增加定时与同步触发线路构建测试仪用总线。PXI-Express总线采用LVDS电气接口标准和串行点对点通信技术，确保每个测试模块独立享用传输带宽，使用独立传输链路，含×1，×2，×4，…，×32等多种速率的链路，×1链路单向传输率可达250 MB/s，×4链路传输率为1 GB/s，×32时传输带宽可达8 GB/s，可完全满足多通道高采样率连续测试的应用需求。PXI-E总线架构测试系统是目前高速数据采集领域的主流研制发展方向。中国工程物理研究院总体工程研究所在2012年研制了一套基于 PXI-Express总线的64通道瞬态数据采集系统，系统采样频率最高达 4 MHz，流盘速度高达220 MB/s，稳定可靠地完成了多次大型跌落环境试验测试。

上述VXI/PXI/PXI-Express总线架构测试系统主要用于构建大型的单机及其级联型模块化测试系统，对于某些小规模测试任务，采用VXI/PXI/PXI-Express总线架构组建测试系统性价比不高，而采用通用PC机/工控机与基于PC总线的数采卡即可完成测试任务。目前主要包括基于PCI-Express总线、USB总线以及以太网总线三类测试系统。当前，基于PC总线的测试系统研制的发展趋势是小型化与高速化，这得益于 USB总线以及以太网总线的快速发展，USB总线由USB2.0（传输速率达480 Mb/s）发展至USB3.0总线[26—30]（传输速率达5 Gb/s），以太网传输速率已从10，100 Mb/s发展到10 Gb/s。这两类总线解决了高采样率下的大数据量实时传输问题，是目前PC类专用测试系统研制的热点方向。

从上述总线的传输速率看，当前USB3.0总线的速率已接近PXI-Express总线速率，但在构建测试系统方面，PXI-Express总线型系统需特制机箱，而USB3.0总线使用信号线少，传输速率高，不需设计特定的机箱，构建的测试系统体积小，增加少量同步触发线即可实现同步测试系统的设计，满足的应用领域将更加广泛。笔者预测，USB3.0总线在未来高速测试系统研制中将占重大份额，近年来已逐渐掀起研发热潮。中国工程物理研究院总体工程研究所目前正在论证一种小性化嵌入式高速采集与实时传输系统，拟建通道为50～100个，采样频率为1 Hz～10 MHz，前端采用光纤远程传输数据，后端采用USB3.0总线传递数据到计算机。这种测试系统将前端采集、信号调理等模块集中在一块电路板上，多路振动和冲击信号的采集结果通过光纤和USB3.0总线实时传输，可很大程度上减少测试系统的布线工作，显著提高测试效率。

1.2 总线测试系统发展趋势

当前，采用GPIB/VXI/PXI/PXI-E总线架构设计的测试系统可完成相对独立的测试任务，但也存在不足，主要表现在以下方面。

1）对于测量对象位置比较分散，如火箭系统测试[31]、导弹综合参数测试[32]以及惯导平台[33]等测试任务，其测量信号种类繁多，采样频率多种多样，若采用多套独立测试系统，则每套测试系统均必须带控制计算机和GPIB/VXI/PXI总线模块，每个控制计算机再与系统服务器相连，组成分布式测试系统。这种测试方式的每个测试节点均由计算机控制，即便某测试节点只有一个测点，也需要一台控制计算机和一台总线测试系统，这将造成测试资源的大量浪费。

2）高端武器装备自动测试系统要求快速应对战区变化的计量保障需求，比如对于导弹机动发射任务中的各大型装备的测试，其复杂度高，测试系统种类多，快速适应战区变化的能力就会较弱。

3）GPIB/VXI/PXI总线测试仪器的计量校准尚不规范[34]，试验现场快速进行仪器的故障诊断与实时校准比较困难。为解决这些问题，安捷伦公司和VXI科技公司联合提出LXI（LAN-based Extensions for Instrumentation）总线[35]，其基于成熟工业以太网技术，通过扩展仪器所需的语言、命令、协议内容，将GPIB总线的高性能，VXI/PXI总线仪器的小尺寸以及LAN总线的高吞吐率等优点相结合。与普通PC机构建的网络测试系统相比，其增加仪器必须的定时同步触发、冷却和电磁兼容性功能，构成一种适用于自动测试系统的新一代模块化仪器平台标准，使测试系统由“虚拟仪器”时代过渡到“网络仪器”时代，是未来国内外军用测试系统研制与应用发展的主流测试总线技术，这种架构的测试系统目前已开始逐步面市。

LXI总线架构的测试系统硬件由测控服务器、集线器、交换机以及 LXI测量模块组成，不同于VXI/PXI总线架构的测试系统，它无零槽控制器，无背板总线。VXI/PXI总线采用背板总线的定时和触发机制解决各测试模块的同步，而 LXI总线测试仪器则根据应用的不同场合，采用三类同步触发机制控制各LXI模块仪器的同步：基于网络UDP协议的消息触发机制，同步精度在50 ms内；基于IEEE1588精准时钟同步协议机制，同步精度在100 ns内；基于菊花链/星型配置方式（与PXI总线雷同）的LVDS硬线触发机制，同步精度在5 ns内。测控服务器通过B/S(浏览器/服务器)和C/S（客户/服务器）两种方式集中控制网络上的各 LXI总线测试模块。

基于LXI总线的上述特点，笔者提出一种大型混合总线测试系统架构设计如图 3所示。利用这种架构，除直接将具有LXI总线接口的系统接入系统外，还可将GPIB/VXI/PXI等现有测试系统通过LAN口接入系统，实现现有总线类测试系统的改造升级，节省测试成本。不仅如此，通过USB3.0总线转LAN总线模式，基于USB3.0总线的PC类仪器或嵌入式仪器均可集成在LXI总线上，从而完成比较复杂的分布式高速采集与数据传输测试任务。

图3 基于LXI总线构建大型混合分布式测试系统的方案Fig.3 The large-scale distributed test system design scheme based on LXI bus architecture

军用测试系统采用 LXI总线架构，各类仪器系统在测试现场组网后即可快速组建测试系统，断开网络即可实现快速机动，并通过网络实现异地测试模块的故障诊断、远程控制、实时检测等。在武器试验、武器装备运行状态监测、数字化战场、核爆任务以及航天测试等方面[35]具有应用前景。笔者认为，在大型军用测试任务中，采用如图3所示的总线架构组建大型混合总线的分步式测试系统，可实现测试任务节点的集中调度，测试数据流的集中汇集，通过统一的PC机测控服务器平台，实现大数据的融合分析，从而为现场快速决策提供数据依据。这种大型混合总线测试系统在日益复杂的军用测试方面应用会更加广泛，笔者认为，这是未来测试系统发展的主流方向。因为在当前各种测试总线速率已定的情况下，兼顾新旧测试系统功能应用，覆盖全方位的测试能力，上述架构无疑是最佳的。当然，上述架构将演变出多种架构形式，即凡是能将总线接口切换为LAN接口的测试系统，均可接入LXI总线系统中，比如CAN总线-LXI总线系统、PCI-Express转LXI总线系统等。需依据测试任务的规模和数据传输速率需求，灵活构建基于 LXI总线的混合型分步式测试系统，从而满足特定场合的测试要求。

2　测试系统精度发展方向

测试系统的精度主要取决于数据采集卡的A/D转换精度，A/D转换器的转换精度经历了8位/12位/16位的发展阶段。对于振动测试系统，采集卡的精度在12～16位即可满足要求；对于冲击测试系统，采集卡的精度通常为14～16位。随着高保真音频、高精度称重、精密测距等精密测试应用需求，目前数据采集卡的A/D分辨率已向18～24位方向发展，并且涌现了大量产品，这类采集卡的A/D芯片采用“Σ-Δ”[36—38]的过采样和噪声整形技术。与传统的A/D转换器相比，采集前端不需设计抗混叠低通滤波器，对前端的模拟信号调理电路要求不高，直接利用数倍于采样率的信号过采样输入信号，然后在其内部增加一个数字抽样滤波器对采集的信号滤波，滤波完成后进行信号降采样处理，得到满足采样率要求的高信噪比信号，实现宽频带弱信号的精确测试，主要应用在精密测量领域。从行业主流产品看，各大厂商都在开发24位的测试板卡，高分辨率的（≥24 bit）的测试系统将是未来测试系统的重要发展方向，其关键技术主要涉及数据采集板电路的精致布局布线设计技术、模拟信号精密调理电路设计等。中国工程物理研究院总体工程研究所在国家重大科学仪器专项——高精度惯性仪表校准检测项目中，设计了24位高精度数据采集卡，测试系统本底噪声为400 μV，有效实现了精密离心机动态半径测量不确定度为0.21 μm的高精度，这在16位分辨率的A/D中无法实现。同样，对于振动应变的测试，为提高测试精度，现在各厂家也广泛设计24位A/D采集卡完成。

3　软件设计技术研究

测试系统的软件在测试系统研制中扮演重要角色，其主要研究内容包括软件开发语言、软件功能模块的完备性设计两方面。

对于开发语言，主要集中在以 NI公司的LABVIEW 平台[39]为主的仪用开发平台以及通用软件开发语言如VC++，DELPHI，LabWindow/CVI的开发平台。LABVIEW作为仪器专用开发平台，提供了专业的测试程序设计架构、多线程自动协调调度与保护机制、网络接口控制、各类测试总线架构驱动等程序子集，更重要的是其集合了多类信号的时频分析、信号显示、存储与回调模块以及与第三方平台如MATLAB接口和基于COM组件的调用功能（如DLL[40—45]调用等）。可以说LABVIEW平台可完成任何其他编程语言可实现的程序设计，是目前最高效的测试系统软件开发语言。其他基于VC++，DELPHI等语言的软件开发平台，适合开发一些小规模的测试软件，与LABVIEW相比，其缺点是明显的，对于多线程协调解决机制、网络编程以及信号处理等均较复杂。当前，对于NI硬件平台构建的测试系统，采用LABVIEW语言开发应用软件，而对于非NI硬件平台，采用的主要方式是将硬件的系统驱动程序、其他语言设计的算法等封装为DLL组件，由于DLL具有语言无关性特点，然后在LABVIEW下调用DLL即可实现硬件驱动、数据分析模块在LABVIEW环境下的集成处理等。目前，大部分测试系统生产厂商都采用这种基于DLL或 ActiveX[46]接口规范实现软硬件集成开发或为用户提供部分功能模块的二次开发能力。

在软件功能的完备性方面，大部分国外厂商均提供行业功能完备的应用软件，如奥地利Dewetron公司、德国 m+p数据采集系统公司在振动测试系统研制领域比较著名，这些厂商均提供完备的振动测试软件，其中包括了振动模态测试、各类振动信号处理与分析模块等，美国的Nicolet公司的冲击测试系统提供完整的冲击信号分析与处理软件。可以说，软件的功能模块是测试系统的重要卖点。而国内的测试系统生产商在软件设计方面存在差距，通常是针对具体的测试应用编制特定的软件，如国内的TOPVIEW公司、纵横测控有限公司、成都天奥测控技术有限公司的冲击测试软件产品都是这种情况。从调研资料看，在振动、冲击等行业测试领域内，各研发商都在主推功能完备的行业软件系统，考虑软件功能的覆盖性和不同行业应用的差异，各行业测试软件也留出二次开发接口，方便各式用户的特殊应用，但是行业软件的功能标准化设计是目前研发的重点和主要发展方向。

4　国内外总线类测试系统研制现状

在集成化总线测试系统开发方面，NI公司作为 PXI总线仪器硬件供应商，主要研制系列PXI/PXI-E总线测试产品，包括PXI机箱、PXI数据采集卡，基本不提供用户完整的软硬件解决方案，测试软件大部分由用户自行开发，仅提供软硬件开发支持。国内，对于PXI总线测试系统的研发，在 PXI硬件研发方面主要有北京中科泛华及其附属的泛华恒兴科技公司，NI的大部分PXI总线数据采集卡硬件设计技术都已被其掌握并国产化，其采样分辨率从12～24位，包括同步与异步采集卡等，采样频率覆盖了DC到数 MHz。另外该公司推出一套完整的测试测量仪器系统通用平台开发软件XDesigner[47]，包括系统驱动管理、测试流程管理与数据采集等三个子模块，整合了各类模块化硬件和平台化软件处理，使用户能灵活配置测试系统，其缺点也明显，软件内部资源繁多，运行缓慢，也未完全包含行业标准相关完备的信号分析模块，该软件的具体应用官方报道较少。另外，凌华科技有限公司也是 PXI/PXI-E总线测试系统硬件开发供应商，其PXI-E机箱的带宽已达8 GB/s，适合构建超高速与超大容量的测试系统。该公司也未提供成套的测试系统软件，软件设计时，主要采用该公司的DAQMaster[48]管理系统和接口，并通过DLL调用在LABVIEW中驱动板卡硬件，测试软件开发和调试的难度比NI硬件平台下更大。国内还有成都天奥测控技术有限公司、纵横测控技术有限公司开发的 PXI总线类测试系统，其硬件开发能力尚可，但软件开发方面还大部分集中在应用VC++开发平台，除提供专用测试系统外，其提供板卡的DLL库供用户二次开发测试系统。在GPIB/VXI/LXI总线方面，国外Agilent公司和陕西海泰电子有限责任公司是主要产品提供商，在VXI总线方面主要是研制 VXI总线同步数采卡、波形发生器等，在GPIB总线方面主要是PXI/USB-GPIB接口卡，对于 LXI总线，主要是各类通用开关模块、任意波形发生器，这类总线也提供相关驱动程序供用户进行二次开发等。总而言之，基于总线式的测试系统构建，硬件平台主要依赖专业厂商的产品，测试软件则由用户根据自己的应用需求自行完成设计。

在专用测试系统研制方面，国外的著名厂商有奥地利的Dewetron公司以及美国Nicolet尼高力公司（现在由德国HBM公司接管）、德国的m+p公司。其中Dewetron公司是开发动态测试与瞬态测试系统的知名公司，其提供测试系统软硬件全套解决方案，其专用测试系统采用的总线主要是PCI/USB总线[49]，其数据采集分辨率为16～24位，同步采样，数据存储容量达 1 TB，通过级联，其测试系统的通道数可达1000通道以上。值得一提的是，该测试系统的应用软件功能齐全，除实时测试和分析电压、ICP、噪声等多种参数，完成实时试验数据采集和时频分析外，还具有专业的SIMO、SIMO和MIMO模态分析软件。美国的Nicolet公司主要从事瞬态数据采集系统的研发，其硬件架构依然采用PCI总线背板结构，采用上下位机组网形式进行数据采集，上位机作为数据显示与存储器通过网络向下位机发送测试命令，下位机将测试结果实时返回上位机显示。单台测试系统的通道数达48个，同步采样频率为1 MHz。其高速数据采集软件Perception[50]包含了瞬态测试系统的时域、频域分析模块，与其他任何测试类应用软件相比，Perception 软件采用专利技术StatStream技术。该技术采用数据的压缩编码技术，能在高速采集模式(1 MHz)下连续显示测试的大量数据，10 GB的数据可在10 s内播放完成，并且该软件最大可支持1080个通道的信号分析。德国m+p公司是业界公认的优秀振动测试系统供应商，其振动测试硬件产品采用LXI总线架构设计，A/D采集精度达24位，软件功能完备，著名的VibRunner振动软件提供振动测试、模态分析、噪声测试分析功能，VibCon软件提供单轴、多轴振动控制等功能，广泛应用于我国航天测试、兵器测试以及诸多大学试验部中。国内著名的测试系统生产商是东方振动与噪声技术研究所，该所的测试系统主要以PCI总线和CPCI总线为主，数据采样分辨率为24位，采样频率为102.4 kHz，动态范围为110 dB，最为知名的是其应用软件DASP[51]，其包含完整的声学测试软件、模态分析和动力学分析软件、振动与冲击计量系统、旋转机械和故障诊断软件等模块，其硬件测试平台技术含量低，主要以测试软件研制为主。成都拓普测控技术有限公司采用 PCI总线设计多通道的瞬态数据采集系统，其软件TopView2000[52]功能相对简单，但包含通用的冲击测试信号分析模块，如 GJB半正弦波套容差分析模块、冲击响应谱分析模块等，满足常用冲击测试的需要。纵横测控的Signal View 通用信号处理软件在国内军用 PXI/ VXI总线专用测试系统中也具有一定的应用。另外，江苏东华测试技术研究所在国内振动应变测试系统研制方面能力较强，其应力应变测试系统主要基于USB与以太网模式传输数据，信号采集精度为 24位，其测试软件采用VC++研制，功能相对简单。

综上所述，国内外专用测试系统的测试总线主要基于PCI/CPCI/USB/以太网组建，采样分辨率为16～24位，硬件研发不是重点，各公司的核心竞争力在其软件功能的设计上，软件设计体现在行业应用标准化以及行业信号分析完备化两方面。

5　结语

从当前总线类测试系统的发展趋势看，测试系统研制应向以下三方向发展。

1）走行业标准化仪器设计道路。硬件上，基于现有背板总线和数据采集卡构建通用测试硬件系统，而对于异常复杂的综合测试系统，主要应采用 LXI总线对各类总线类系统进行集成，采用分布式测试架构进行组网测试。软件上，充分调研行业功能需求，构建行业功能标准化的测试软件系统，包括冲击测试软件与振动测试软件，软硬件集成包装形成产品，参与市场竞争。

2）应用USB3.0、光纤高速传输总线等目前先进的高速传输总线，增加硬线触发信号，研制基于USB3.0总线以及光纤高速传输总线的 PC类仪器或便携式仪器，并在采集模块中增加LAN收发器，将USB3.0、光纤高速总线测试仪器与LXI总线进行组网，设计硬线触发与软件触发相结合的专用同步触发模块实现混合总线测试系统的同步，满足相当复杂的高速分布式测试应用需求。

3）研发分辨率≥24 bit 的高精度数据采集器是主流发展趋势。

总之，必须加快先进高精度混合总线测试系统的研制，为武器装备环境试验测试能力提升奠定技术基础。

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Technique Status and Development Direction of Bus-type Test System

ZHANG Rong, WANG Jue, ZHOU Ji-kun, ZHANG Yi, ZHENG Min
(Institute of Systems Engineering, CAEP, Mianyang 621900, China)

The work generalizes the mainstream bus architecture form of current testing systems and analyzes their performances and applications. It researches the main software design techniques state for current test systems and then puts forward the main direction of future development of testing system. To satisfy future complex test requirements, the main design direction of test systems is to develop large-scale and high precision mixed test systems based on LXI bus. In the aspect of hardware design, VXI/PXI/PXI-Express/PCI-Express/USB3.0 bus will be integrated by local area network to satisfy low-speed, high-speed and high precision data acquisition and transmission requirements. In the aspect of software design, it is necessary to research and develop a software system that has completed functions and can meet the needs of special applications according to industrial standards and needs.

testing equipment; bus architecture; network distributed system; software and hardware design technique; USB3.0 bus

2016-05-14；Revised：2016-06-03

10.7643/ issn.1672-9242.2016.05.025

TJ06

A

1672-9242(2016)05-0151-09

2016-05-14；

2016-06-03

中国工程物理研究院总体工程研究所基地建设基金PXI-64

Fund：PXI-64， Base Construction Fund， Institute of Systems Engineering， CAEP

张荣（1979—），男，四川资阳人，硕士，高级工程师，主要研究方向为测试系统软硬件设计技术以及测试技术研究。

Biography：ZHANG Rong（1979—）， Male， from Ziyang， Sichuan， Master， Senior engineer， Research focus: hardware and software design of test and control system and test technique.