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P 沟道恒流二极管的电流扩展方法*

2015-11-22鲁冬梅杨发顺

贵州大学学报(自然科学版) 2015年2期
关键词:集电极恒流二极管

鲁冬梅,刘 桥,杨发顺,陈 睿

(贵州大学 贵州省贵阳市微纳电子与软件重点实验室,贵州 贵阳 550025)

恒流二极管(CRD,current regulative diode)具有稳定性好、恒流范围大、输出电导低等优点,其在放大器、基准源、稳压电源、LED 驱动电路等电路的应用广泛[1]。P-CRD(P 沟道恒流二极管)是一种特殊的二极管,利用它可以得到稳定电流,但是由于空穴的迁移率比较小,所以其恒流值比较小,其应用范围受到很大的限制。并联多个可以提高恒流值,却增大了芯片面积,增加成本。

NPN 双极型晶体管(BJT,Bipolar Junction Transistor)的电流放大倍数一般都能达到几十至一百以上。若能结合两者优点,采用一种半导体兼容制造工艺将两者在一块半导体上实现,就能得到一个恒流效果好,恒流值大的器件,在大功率领域得到好的应用。

1 P-CRD 的研究

在N-Si衬底上,外延一层P-区作为P 沟道,外延层上注入两个P+区作为源漏,注入一个N+区作为顶栅,衬底引出一个电极作为底栅,将底栅和顶栅连接在一起一个P-JFET 结构就出来了。将P-JFET 的栅源短接作为正极,漏端作为负极,即可得到P-CRD。它的工作原理是利用两个背靠背的PN 结分别反偏形成空间电荷区,将沟道夹断[2]。沟道夹断以后,由于沟道电阻增大,所以正极电压的增大,将全部降落在沟道区,以此达到恒流效果[3,4]。

工艺上,CRD 的沟道长度、沟道厚度、沟道杂质浓度、栅漏间距等参数对其恒定电流、起始电压、击穿电压等都有影响。在silvaco 仿真软件中对器件特性进行仿真,沟道长度增大,恒定电流减小,起始电压和击穿电压不变;沟道厚度增大,恒定电流增大,起始电压增大,击穿电压不变;沟道浓度增大,恒定电流增大,起始电压增大,击穿电压减小;栅漏间距增大,恒定电流减小,起始电压和击穿电压不变。通过调整这几个参数,减小沟道浓度、沟道厚度和栅漏间距,减小沟道长度进行结构优化,可以得到恒定电流值大、恒流范围大的恒流二极管[2,5]。

2 P-CRD 的电流扩展

在同一块半导体材料上,将P-CRD 和NPNBJT 同时制造,并把P-CRD 的恒定电流作为NPN的输入电流,那么经过NPN 的放大,将把P-CRD的恒定电流扩大β 倍[6],如图1 所示。

对BJT 来说,共射电流放大倍数β,与基区宽度、基区杂质浓度都有关系。基区宽度越小,β 越大。但是,受基区宽度调制效应的影响,基区宽度太小,将会使同一基极电流下集电极输出电流的变化较大[7]。基区杂质浓度过大,发射结注入效率下降,β 减小。外延层杂质浓度过高,会使CE 击穿电压减小;外延层杂质浓度过小,越易发生纵向基区扩展效应[8]。

图1 P-CRD 的电流扩展原理图

CRD 是三层结构(衬底-外延-电极),而NPN-BJT,将其发射区做在基区内部,则是四层结构[2]。本文做了两个改变。第一,保留BJT 的四层结构,从CRD 的外延区,引出一个电极作为底栅和顶栅、源极连接在一起,作为CRD 的正极。第二,将CRD 的沟道区和BJT 的基区、CRD 的顶栅和BJT 的发射区以及集电区、CRD 的源漏接触区和BJT 的基极接触区几个同时制造,且浓度一致,扩散时间和温度一致,大大简化了工艺步骤,降低了生产成本。

通常为了降低集电极的串联电阻,集电极一般都做成深集电极[9]。本文中,将BJT 的集电区和发射区同时制作,在进行温度扩散之后使集电极成为深集电极,少了一个单独制作深集电极的工艺步骤。两个器件间采用常见的PN 结隔离技术进行隔离,得到P-CRD 和NPN-BJT 的兼容结构,图2 即为P-CRD 与NPN-BJT 的兼容结构图。

图2 P-CRD 的电流扩展结构图

工艺上,减小发射极的扩散时间或温度,减小发射极注入浓度,基区宽度增大。考虑到减小集电区电阻的影响故在设计结构的时候,一般需要在衬底上做一层N+埋层。合理控制发射区、基区、集电区杂质浓度及扩散时间和温度,才能得到高性能的BJT。

主要工艺流程:衬底制备,埋层制备,外延层,隔离,氧化,硼注入,退火,氧化,磷注入,退火,氧化,硼注入,接触孔光刻,淀积铝,光刻铝合金,钝化。

3 各个参数影响及仿真结果

本文的难点:沟道厚度和基区宽度大小一致,沟道厚度增加恒定电流增大,基区宽度调制效应减小;另一方面,沟道厚度的增大,使电流放大倍数β减小。故沟道厚度过大或过小,都不能同时制作性能好的CRD 或BJT。这里,考虑到β 对输出电流大小的影响比较大,故侧重于小的沟道厚度。本文通过调整发射区、基区、集电区的掺杂浓度和扩散的时间及温度,对基区宽度分别为0.476 μm、0.492 μm、0.714 μm、0.952 μm 进行仿真,最终得到,当基区宽度为0.714 μm 时,兼容结构的输出电流比较大,起始电压比较低,击穿电压比较大。

在silvaco 公司的athena 和atlas 中分别作兼容结构,并对兼容结构进行特性仿真。图3为恒流二极管的输出电流,输出电流为7.7 μA(当V正极=5 V时),起始电压为3.8 V。图4为NPN-BJT 的输出电流曲线,其中,基极电流为8 μA,集电极输出电流为583 μA(当VC=8 V 时),β为72.88。图5为P-CRD 的电流扩展仿真图,其中,可以发现集电极输出电流为586 μA(当VC=5 V 时),电流扩展了73.77 倍。这和理论值基本吻合,验证了理论的真实性。

图3 P-CRD 的电流输出特性曲线

图4 NPN-BJT 的输出电流曲线

图5 P-CRD 的电流扩展仿真图

4 结语

将恒流二极管和双极型晶体管兼容制造,可以将P-CRD 的恒流值放大β 倍,这样只要增加一个双极型晶体管,即可少去将恒流二极管并联多个,换句话说,可以将芯片面积大大降低。将这种兼容应用在双极型集成电路中,也可以作大电流的恒流源,简化原有恒流源的结构。

[1]林言方.硅基恒流二极管[J].半导体技术,1986(6):42-46.

[2]冯晓敏.硅基恒流二极管的设计[D].大连:大连理工大学,2012.

[3]傅兴华,丁召.半导体器件原理简明教程[M].北京:科学出版社,2010:134.

[4]SIMON M.SZE,KWOK K.NG.Physics of Semiconductor Devices[M].New Jersey:Wiley-Inter-science,2008.

[5]王荣娟.恒流二极管的特性和应用[N].电子报,2001-08-19E02.

[6]方佩敏.恒流二极管的扩流及调光[J].电子世界,2011(4):13-14.

[7]谢广新.基区宽度调制对晶体三极管特性的影响[J].临沂师范学院学报,2002(6):130-131.

[8]傅兴华,陈军宁,童勤义.高性能双极型集成电路晶体管[J].电子科学学刊,1993(6):631-642.

[9]朱正涌.半导体集成电路[M].北京:清华大学出版社,2009:23.

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