Multitest展示“全能型”测试分选机MT2168
2012-09-16
电子工业专用设备 2012年4期
在 SEMICON China 2012展会上,Multitest新任市场销售副总裁James Quinn重点推介了公司MT2168测试机台,MT2168采用开放式非标准化测试位分布结构,使用户既可充分利用相关优势,又不影响产量或产能。测试位分布组件使得测试位间距可快速轻松地进行现场转换。其显著的测试成本优势,不仅适用于集成设备制造商,也适用于分包商及全系列应用。
Multitest市场销售副总裁James Quinn
MT2168覆盖广泛的常温和高温应用范围,包括器件尺寸从3mm×3mm到70mm×70mm、厚度从10mm到0.3mm的各种封装。机台上测试的封装类型切换时间不超过10min。MT2168利用领先技术实现了最佳测试仪利用率,使Index时间(DUT交换时间)、预热能力、并行性和生产率均与新一代测试仪保持同步。
MT2168的设计采用最小数量的拿放转换。同时针对不同封装类型的改装套装组件数量也控制在最少,以实现轻松快捷的设置。MT2168以自校准程序代替人工调整工作,使系统更加稳定可靠。其自适应感应概念确保最佳定位精度,保证了高产出。基于Multitest在温度处理方面的领先优势,MT2168每DUT配备一个单独的温度控制回路。www.multitest.com