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锗基底的红外增透膜的研究

2012-08-15唐吉龙

吉林广播电视大学学报 2012年12期
关键词:红外光金刚石基底

唐吉龙

(长春理工大学,吉林 长春 130000)

引言

金属锗具有优良的红外光学特性和物理特性,由于锗在大气中对于2-14μm波段具有高而均匀的透明性,是热像仪理想的窗口、透镜和转鼓材料,其大规模应用于侦察和警戒的夜视仪和热成像仪等领域,在红外光学领域具有不可替代的地位。但是由于锗的折射率很高(n=4.3),因此锗光学元件的界面损失非常大,透过率仅为40%,严重影响光学性能,特别是红外光学性能,因此需要制备红外增透膜来改善锗的红外光学透过性能[1]。

类金刚石(DLC)膜在中远红外具有优异的透过性能,因此可作为红外光学元件的光学增透薄膜使用[2,3]。又因为DLC膜具有优异的耐磨性、化学耐腐性和硬度,因此是红外光学薄膜的理想材料,具有广阔的应用前景。DLC膜的折射率在1.6~2.5之间可调,折射率的大小也由制备工艺参数和方法决定[4~6]。基于DLC膜优异的红外光学性能,可用于红外光学元件的增透保护膜。

结合于锗与DLC薄膜的特点,本文采用化学气相沉积法(PECVD)在锗基底表面制备一定厚度的DLC薄膜,作为锗的红外增透保护膜,以提高其8~12μm波段的光学透过性能。

一、实验

采用RF-PECVD设备在预处理过的Ge基底上沉积DLC膜,基底表面在沉积DLC薄膜前必须进行预处理,以清洁基底表面,去除表面的氧化层,调整基底的表面活性,提高基底材料的表面能,从而提高DLC薄膜与基底的附着力。

沉积DLC膜前要采用下列步骤进行清洗:

(1)用 HF:H2O<1:75 的溶液清洗 3~5 分钟,去除基片表面的氧化物;

(2)用去离子水浸泡10分钟后,并清洗两次;

(3)在H2O2:HCl:H2O=1:1:1.5的溶液中超声清洗10分钟;

(4)用去离子水清洗两次,以去除超声液;

(5)在H2O2:NH4OH:H2O=1:1:1.5的碱溶液中超声波清洗10分钟;

(6)用去离子水清洗两次,去除超声液;

(7)放置于酒精:丙酮=1:3的溶液中;

(8)在加入真空室前用干燥的氮气将其吹干。

沉积DLC膜时,真空室内压强为1.0×10-6Torr时通入C4H10,流量为20sccm min-1,通过Throttle阀门调节真空室压力,维持在2.0×10-2Torr,射频功率使用400W,偏压为为-300V。

二、测试与分析

对制备的样品进行傅立叶红外(FTIR)光谱测试获得红外吸收光谱(如图1所示),其中2800-3000cm-1波数范围内对应着DLC薄膜内各基团结构,因此,着重研究该波段的光谱曲线(如图2所示)。

图1 样品的FTIR光谱曲线

测试结果显示:吸收峰所对应的结构为2930cm-1所对应的 sp3CH2,2850cm-1对应的 sp3CH2,2975cm-1对应的sp2CH2,和2985cm-1对应的sp3CH3。当工艺参数改变时各吸收峰的强度也发生改变,即样品为含氢DLC膜,通过Gaussian法进行分峰处理,并通过卷积求取峰值面积的比值[7,8],求得样品中 sp3:sp2=1.93。

图3.7样品的红外特征吸收峰与结构的对应曲线

对样品进行中红外透射光谱测试,测试曲线如图3所示,图中曲线1为基底锗的透射曲线,在8~12μm范围内透过率约为42%,曲线2为单面镀制DLC膜的样品的透射曲线,8~12μm范围内极值透过率约为63%,曲线3为双面镀制DLC膜的样品的透射曲线,8~12μm范围内极值透过率约为93%。测试结果表明:DLC膜是锗的理想增透膜,通过双面DLC膜的制备大大降低了锗的界面反射,有效提高透光比,从而提高锗的红外应用效果。

图3 样品的中远红外透射光谱曲线

图4 样品理论中远红外透射曲线

三、结论

在锗基底表面采用PECVD制备的DLC薄膜,为含氢类金刚石薄膜,该薄膜通过双面镀制可以有效消除因高折射率而形成的界面损耗,从而大大提高其红外透过性能,改善红外应用效果。

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