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智能角位移传感器测试系统面市

2010-08-15

电子技术应用 2010年2期
关键词:角位移控制精度功能测试

日前,北京中科泛华测控技术有限公司(以下简称“泛华测控”)研发设计了传感器测试系列的又一新品——智能角位移传感器测试系统。该系统是泛华测控继“智能直线位移传感器标定与测试平台”之后在智能位移传感器领域的又一力作。

智能角位移传感器测试系统主要用于对磁电式弧形或圆形传感器的标定和功能测试,采用测试台、机柜分离的设计,可与泛华测控早期推出的“智能直线位移传感器标定与功能测试平台”共用除测试台外的其他设备,满足了用户对设备高复用性的要求。同时,该系统以“柔性测试”技术为核心理念,经过周密设计,在温度控制、机械结构设计和运动机构控制与测试精度方面均达到了高水准要求,充分体现了系统的精确性、可靠性和灵活性等特点。

该系统沿袭同系列产品的优势,采用高温绝缘设计,利用特制耐高温箱体设计来达到测试环境的恒温需求,测试箱内的密闭温度可根据被测件的实际需求控制在25℃~125℃之间任意一点,温度控制精度可达±0.1℃,角度的控制精度高达±0.001°,角度的测量精度高达±0.0001°,满足了高精确的测试环境需求。此外,该系统只需更换夹具即可实现半径在10 mm~200 mm之间任意规格的磁电式弧形或圆形传感器的测试,拆卸过程简易快捷,充分满足了用户对系统的灵活性需求。

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