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火炮内弹道环境测试技术

2020-01-16郭天吉吴宏斌

电子技术与软件工程 2019年21期
关键词:火炮弹丸滤波

文/郭天吉 吴宏斌

1 引言

火炮是陆战之王,在现代战争中发挥着巨大的作用。火炮发射时,内弹道是弹丸获得动力的重要阶段,弹丸在几十ms的时间内加速到上千米每秒的速度,承受的膛内过载值高达上万g(g为重力加速度)。准确测量和分析弹丸在膛内的发射过载,对评价火炮性能、弹丸的结构和强度设计、弹丸的初速预测、发射药性能的研究、及引信的结构防护和保险设计均具有非常重要的意义。

针对火炮内弹道环境,传统上是采用铜柱法测试(见图1)。该方法是将标准的质量块和铜柱置于弹丸内,火炮发射时,质量块在惯性力的作用下挤压铜柱使其产生塑性变形,根据塑性变形量可获得内弹道最大过载值。铜柱法测试简单实用,但是只能测得最大过载值,无法获得过载值随时间的变化历程。

随着电子技术的发展,尤其是MEMS技术的发展,国内外相继出现了多种型号的高g值MEMS过载传感器,使得电测法成为可能。本文即研究了一种存储测试系统,可置于弹丸内,准确测量弹丸在膛内的过载曲线。

2 测试系统组成

测试系统组成见图2,主要由过载传感器、信号放大电路、信号滤波电路、带A/D的单片机、存储器和电源等组成。

2.1 过载传感器

过载传感器采用中电13所研制的MPA5000-60K,其量程超过了6万g,频响范围0~50KHz,非线性度小于2%,2Vdc~10Vdc的宽激励范围。

图1:铜柱法测试示意图

图2:测试系统原理框图

图3:信号放大电路

图4:信号滤波电路

图5:单片机电路

图6:存储电路

图7:电源电路

MPA5000-60K传感器采用了先进的MEMS压阻体硅工艺加工制造,圆片级封装,性能稳定,可靠性高,适用于恶劣条件下碰撞、爆炸、冲击等场合。

2.2 信号放大电路

信号放大电路基于仪表放大器INA118设计。INA118是低功耗、高精度的通用仪表放大器,采用单电源供电,输入阻抗大,偏置电流小。单个外部电阻就可实现从1至10000的任一增益选择,计算公式为:

2.3 信号滤波电路

信号滤波电路为一个二阶的低通巴特沃思滤波器,基于运放OPA2340设计。OPA2340是微功耗、轨至轨运算放大器,单电源供电,微型MSOP-8封装。具体设计见图4,设计滤波频率为3KHz。

2.4 单片机电路

单片机选用国产STC8单片机,该单片机基于1T8051内核,速度快,资源丰富,使用灵活。STC8单片机比传统的8051快12倍以上,不需要外部晶振和外部复位,本身就是仿真芯片,可直接通过串口进行仿真和程序下载。STC8单片机内部集成了一个12位的高速A/D转换器,ADC的速度最快可达800K,同时STC8单片机还集成了8Kbyte SRAM、4个全双工UART串口、1个高速SPI串口等。具体设计见图5。

2.5 存储器电路

图8:过载曲线

图9:速度积分曲线

存储器选用FM25V05铁电非易失性存储器,其容量为512Kbit,在100KHz采样率条件下,可存储320ms数据。该芯片支持SPI口,可与单片机主控芯片通过SPI口进行高速通讯,具体设计见图6。

2.6 电源电路

电源电路中的电池选用了充电式聚合物锂电池,其标称电压11.1V,容量600mAh。为了防止高过载条件下的电池失效,设计了一个大容量的钽电容和二极管组成的二次电源电路,具体设计见图7。

3 试验及结论

使用设计好的测试系统对某种大口径火炮进行了实测试验,测试到了完整的膛内过载值随时间的变化历程及炮口的扰动情况,过载曲线见图8。由图8所示,弹丸在膛内的运动时间约为38ms,膛内最大过载值约为1.06万g,炮口扰动最大过载值约为3.5万g。对过载曲线进行速度积分后的曲线见图9。由图9所示,积分后的弹丸出炮口速度约为650m/s,而实际的网靶测试速度为667m/s,误差2.5%,在可接受范围内。

实测数据证明了测试系统的设计正确性,也为弹丸和引信的设计提供了数据参考。

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