我国启动研制 高分辨耐辐照硅探测器
2019-09-10盛利
科教新报 2019年14期
盛利
近日,从中国工程物理研究院材料研究所传出消息,国家重点研发计划“高分辨耐辐照硅探测器的研发与产业化应用”项目正式启动。该项目将打破国外垄断,首次研发出一系列具有自主知识产权的高分辨耐辐照硅探测器,未来应用于国防特殊辐射测量设备、公共安检X射线探测等诸多领域。
“射线探测技术作为现代科技关键核心技术,可称为‘国之利器’,在公共安检设备、国防建设、核能开发利用等领域有广泛应用空间,目前我国硅辐射探测器市场上的产品绝大部分被国外壟断,迫切需要在关键领域进行重点突破。”项目技术专家组组长、浙江大学材料学院硅材料国家重点实验室主任、中科院院士杨德仁介绍。