实验室测量设备OEE计算应用

高忠彬

摘 要：OEE（Overall Equipment Effectiveness）作为公认的设备利用效率和维保状况评价指标，提高 OEE 就是提高资产的利用率，改善和优化设备维护程序，合理安排时间和人力。结合检测实验室工作特点，应用OEE计算将会为提高测量设备使用率提供量化参考依据。

关键词：实验室 测量设备 OEE。

一、OEE计算公式

设备综合效率包括设备时间开动率、性能开动率和合格品率三个部分[1]。

设备综合效率=时间开动率×性能开动率×合格品率。

设备时间开动率=实际生产时间/计划运行时间×100%

性能开动率=生产数量×理论加工周期/实际生产时间×100%

合格品率=合格品数量/生产数量×100%

根据计算公式，计算用数据收集统计主要有以下两种方法：

1.以天作为设备计划开机时间、计划停机时间及开动时间的基础统计时间周期，然后乘以每周或每月的工作天数来得到长周期的统计数据[2]；

2.编制设备计划开机时间、计划停机时间及开动时间等基础数据统计表，统计每天的数据信息，然后将计算周期内（月、季度或年）的数据相加得到计算数据[3]。

上述方法中，方法1比较适合工作任务单一、数量固定且任务波动小的设备OEE计算，对于承担几项工作任、任务数量一固定且任务输入不稳定的设备OEE计算将会带来麻烦；方法2能够更加真实地反映出设备运行情况，计算的周期越长越接近该设备OEE的真值，但基础数据每天都要有专人负责收集数据统计，存在工作量较大的特点。

二、典型设备试算

2.1设备简介

设备型号：INSTRON 4486电子拉力机 设备量程：300KN

设备精度：±1% 受控编号：19070015

工作特点：该设备目前主要用于航空业使用的金属材料机械性能指标测试，工作量取决于来自质量控制部门的实验任务委托情况，存在任务委托量波动较大的现象。

2.2计算过程

1.试点设备生产情况统计

2.计算

a.设备时间开动率=设备实际运行总时间/计划运行总时间

其中，每年250个工作日、每日8小时、每小时60分钟计算

按照试点设备生产情况统计表，得出：

2014年设备时间开动率=71932/250×8×60 ×100%=0.60

2015年设备时间开动率=76415/250×8×60 ×100%=0.64

2016年設备时间开动率=83520/250×8×60 ×100%=0.70

b.性能开动率=生产数量×理论加工周期/实际生产时间×100%

按照试点设备生产情况统计表，得出：

2014年设备性能开动率=71932-7500-1920/71932 ×100%=0.87

2015年设备性能开动率=76415-7500-1440/71932 ×100%=0.88

2016年设备性能开动率=83520-7500-1920/71932 ×100%=0.89

c.合格品率=合格品数量/生产数量×100%

按照试点设备生产情况统计表，得出：

2014年设备合格品率=（7852+1028+6369-6/7852+1028+6369）×100%=1

2015年设备合格品率=（8093+1174+6933-5/8093+1174+6933）×100%=1

2016年设备合格品率=（8386+1304+7553-6/8386+1304+7553）×100%=1

故得出试点设备2014、2015和2016年的设备综合效率分别为：

2014年设备综合效率=0.6×0.87×1=0.52

2015年设备综合效率=0.64×0.88×1=0.56

2016年设备综合效率=0.7×0.89×1=0.62

可以看出，该设备的综合效率逐年提高，可以验证出实验室在三年从开展的管理活动效果，但与国际先进制造企业的设备综合效率指标（时间开动率、性能开动率、产品合格品率分别达到90%和95%和99%，设备综合效率85%）进行对比来看，实验室设备综合效率仍有较大的提升空间。

三、评价及启示

在归纳OEE计算数据的传统收集方法特点后，发现对实验室测量设备的OEE计算存在不适用的情况。分析OEE计算公式后，结合实验室设备的工作任务特点，将传统的计算数据收集方法更改为采用以年为计算周期、以实验数量乘以单个任务平均耗时的方式来计算设备运行时间的方式来进行设备综合效率的计算，通过改进后的数据统计收集方法能够真实反映工作类型多、任务量不固定和任务数据不稳定情况下设备的真实运行情况，使设备OEE的计算不会受到短周期内工作波动影响，真实反映设备使用情况。

四、参考文献

[1] 李金热，缪正余，设备综合效率OEE的计算，南京工业职业技术学院学报，2002，（4）：10-13.

[2] 胡朝辉，刘大成，刘穗宏等.基于OEE的企业设备效率诊断与改善[J].制造技术与机床，2006，（01）：81-81.

[3] 汤建红.基于TOC的设备OEE改善[D].上海交通大学，2009.