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CL-20/DNB共晶炸药晶体缺陷的理论计算

2018-09-01杭贵云余文力

火炸药学报 2018年4期
关键词:感度共晶炸药

杭贵云,余文力,王 涛,李 臻

(火箭军工程大学,陕西 西安 710025)

引 言

2,4,6,8,10,12-六硝基-2,4,6,8,10,12-六氮杂异伍兹烷(CL-20)是一种典型的高能量密度含能材料,也是目前综合性能最好的单质炸药,具有广泛的应用价值,但其机械感度高,安全性能差,不能满足钝感炸药的要求,限制了其应用。

近年来,共晶成为一种改善含能材料性能的有效途径。通过共晶,可以降低含能材料的感度,提高安全性,同时改善其力学性能、氧平衡系数与能量密度。2013年,王玉平等[1-2]以CL-20与1,3-二硝基苯(DNB)为原料,制备了摩尔比为1∶1的CL-20/DNB共晶炸药,并研究了共晶炸药的性能。结果表明,CL-20/DNB共晶炸药的熔点比DNB高44.7℃,感度比CL-20低很多,有望成为一种新型的高能钝感炸药。在共晶炸药制备过程,原料中可能会混入其他成分的杂质,从而导致制备的炸药样品中含有杂质。此外,在晶体生长过程中,由于外界因素的干扰,晶体的生长可能会受到影响,使得晶体中存在缺陷,进而影响炸药的性能,如力学性能、稳定性、感度与爆轰性能等,从而进一步影响武器弹药的安全性与使用性能[3-5]。因此,研究晶体缺陷对炸药性能的影响具有重要意义。

本研究分别建立了“完美”型与含有晶体缺陷(掺杂、空位与位错)的CL-20/DNB共晶炸药模型,采用分子动力学方法,预测了各种模型的力学性能、结合能、感度与爆轰性能并分析了晶体缺陷对炸药性能的影响,以期为炸药性能评估提供参考。

1 计算模型与计算方法

1.1 单个分子模型的建立

CL-20/DNB共晶炸药由CL-20与DNB组成,在MS软件中,分别建立CL-20与DNB的单个分子模型,如图1所示。

1.2 CL-20/DNB共晶炸药原始模型的建立

CL-20/DNB共晶炸药属于正交晶系,空间群为Pbca,晶格参数为a=0.94703nm,b=1.34589nm,c=3.36202nm,α=90.00°,β=90.00°,γ=90.00°,单个晶胞中包含8个CL-20与8个DNB分子[2]。CL-20/DNB共晶炸药的单个晶胞模型如图2(a)所示。而后将单个晶胞模型扩展为6(3×2×1)的超晶胞模型,其中包含48个CL-20与48个DNB分子,一共96个分子,如图2(b)所示。为了便于与含有晶体缺陷的模型进行比较,将“完美”型晶体的模型标记为Model-1。

1.3 CL-20/DNB共晶炸药缺陷模型的建立

本研究中共包含3种类型的晶体缺陷:掺杂、空位与位错。

用4个2,4-二硝基甲苯(DNT)分子替换超晶胞模型中的4个DNB分子(图3(a)中标记为黄色),得到含4.17%掺杂类型的缺陷晶体模型,标记为Model-2,如图3(b)所示。

分别用4个1,3,5-三硝基苯(TNB)、4个2,4,6-三硝基甲苯(TNT)、4个六硝基苯(HNB)分子替换图3(a)中的4个DNB分子,得到缺陷晶体模型,分别标记为Model-3、Model-4与Model-5。

删除超晶胞模型中最上层的4个CL-20分子(图4(a)中标记为黄色),得到含空位为4.17%的缺陷晶体模型,标记为Model-6,如图4(b)所示。

分别删除4个DNB、2个CL-20与2个DNB分子,将所得缺陷晶体模型分别标记为Model-7与Model-8。

将“完美”型晶体模型中最上层的CL-20分子向上方移动0.2nm的距离,得到位错缺陷的晶体模型,标记为Model-9,如图5所示。

将“完美”型晶体模型中最上层的CL-20分子向下方移动0.2nm的距离,得到缺陷晶体模型,标记为Model-10。

1.4 计算条件设置

分别对CL-20/DNB共晶炸药的原始模型与含有晶体缺陷的模型进行能量最小化,优化其结构,然后进行分子动力学计算,其中温度设置为295K,压力设置为0.0001GPa,选择NPT系综与COMPASS力场[6-7],温度采用Andersen控温方法[8],压力采用Parrinello控压方法[9],范德华力(vdW)的计算采用atom-based方法,静电作用的计算采用Ewald方法,时间步长为1fs,总模拟步数为2×105步,其中前105步用于热力学平衡,后105步用于统计分析。模拟过程中,每103fs保存一次轨迹,共得100帧轨迹文件。

2 结果与讨论

2.1 平衡判别与平衡体系

在提取数值模拟计算结果时,需要让混合体系达到热力学平衡状态,此时必须同时满足温度平衡和能量平衡。通常认为当温度与能量波动范围为5%~10%时,体系已经达到平衡状态。以Model-3为例,混合体系的温度和能量变化曲线如图6所示。

从图6可以看出,模拟初期,温度与能量均有所上升,并且波动幅度较大。随着时间的推移,温度与能量的波动幅度逐渐减小,最终温度上下波动幅度约为±15K,能量波动幅度也逐渐减小,最终波动幅度在±5%左右,偏差相对较小,表明混合体系已达到热力学平衡状态。对于其他类型的晶体模型,分子动力学计算时,均以温度平衡和能量平衡来判别混合体系是否达到平衡状态。

2.2 力学性能

力学参数可由弹性系数求得,满足广义胡克定律,其表达式为[10-11]:

σi=Cijεj

(1)

式中:σ为应力;ε为应变;Cij(i,j=1,2,…,6)为弹性系数,满足Cij=Cji,因此独立的弹性常数只有21个,对于完全的各向同性体,独立的弹性常数只有2个(C11,C22)。

体积模量(K)与剪切模量(G)的计算公式如下:

KR=[S11+S22+S33+2(S12+S23+S31)]-1

(2)

GR=15[4(S11+S22+S33)-4(S12+S23+S31)+
3(S44+S55+S66)]-1

(3)

式中:下标R表示Reuss平均。柔量系数矩阵S=[Sij]等于弹性系数矩阵C的逆矩阵,即S=C-1。

力学参数之间存在如下关系:

E=2G(1+γ)=3K(1-2γ)

(4)

基于上述公式,可以求得拉伸模量(E)与泊松比(γ)的表达式:

(5)

(6)

当混合体系达到热力学平衡状态后,通过分子动力学计算,可以得到不同模型的力学性能参数,结果如表1所示。根据模拟计算结果,可以得到不同模型的力学性能曲线,如图7所示。

表1 CL-20/DNB共晶的初始模型与缺陷模型的力学性能

从表1与图7可以看出,“完美”型模型(Model-1)的拉伸模量、体积模量与剪切模量的值最大,分别为14.522、8.811、5.926GPa,而柯西压的值(0.042GPa)最小,表明炸药的刚性最强,而延展性较差。由于晶体缺陷的影响,炸药的晶体结构遭到破坏,因此缺陷晶体的拉伸模量、体积模量与剪切模量减小,表明炸药的刚性减弱,在外界作用下,炸药更易发生形变,而柯西压增大则表明炸药的塑性与延展性增强。此外,由图7还可以看出,在缺陷模型中,掺杂缺陷模型(Model-5)对应的拉伸模量、体积模量与剪切模量的值最大,表明力学性能变化最小,而位错缺陷模型(Model-9)与空位缺陷模型(Model-7)对应的拉伸模量、体积模量与剪切模量减小幅度最大,即刚性减小的幅度最为明显。因此,位错缺陷与空位缺陷对炸药力学性能的影响更为显著,而掺杂缺陷对力学性能的影响相对较小。

2.3 稳定性

稳定性主要通过结合能(Eb)来体现。结合能越大,说明炸药中分子之间的相互作用力越强,炸药的稳定性越好。同时,结合能越大,也说明各组分之间的相容性越好。

结合能的计算公式如下:

Eb=-Einter=-[Etotal-(ECL-20+Eother)]

(7)

式中:Eb为结合能;Einter为分子之间的相互作用能;Etotal为混合体系达到平衡状态时体系的总能量;ECL-20为去掉体系中的其他组分后,CL-20分子对应的总能量;Eother为去掉CL-20分子后,体系中的DNB与其他组分的总能量。

计算得到不同模型对应的结合能如图8所示。

从图8可以看出,在所有模型中,“完美”型模型(Model-1)对应的结合能最大,为336.5kJ/mol,表明CL-20与DNB分子之间的相互作用力最强,炸药的稳定性最好。在缺陷模型中,掺杂类型的缺陷晶体(Model-3)对应的结合能最大,为305.2kJ/mol,而空位缺陷模型(Model-6、Model-7)对应的结合能最小,分别为278.6、283.1kJ/mol。与“完美”型晶体相比,缺陷模型的结合能减小,减小幅度分别为9.30%、17.21%、15.87%。结合能减小的原因可能是共晶炸药的晶体结构遭到破坏,导致炸药分子的排列方式发生变化,分子之间的相互作用强度减弱,从而导致结合能减小,炸药的稳定性减弱。

2.4 感度

本研究依据“热点”理论[12]与“引发键”思想[13],选用引发键最大键长、引发键键连双原子作用能和内聚能密度[14-17]为判据,预测炸药的感度。

2.4.1 引发键键长

通常认为引发键是物质中能量最弱的化学键,当受到外界刺激时,引发键最容易发生断裂,从而使炸药发生分解或爆炸。在CL-20/DNB共晶炸药及其缺陷晶体中,CL-20的感度最高,对外界的刺激最敏感,最容易发生化学反应,而CL-20的引发键为分子中N—NO2基团上的N—N键[18-19],因此选择N—NO2键作为“完美”型晶体与缺陷晶体的引发键来预测体系的感度。

以Model-7为例,图9为经分子动力学模拟后,平衡体系中引发键(N—NO2键)的键长分布情况。

表2给出了不同模型达到热力学平衡状态时,混合体系中引发键的最可几键长(Lprob)、平均键长(Lave)和最大键长(Lmax)的变化情况。

表2 不同模型中引发键的键长

从图9可以看出,当混合体系达到平衡状态时,引发键(N—NO2键)的键长分布呈近似对称的高斯分布。从表2可以看出,对于不同的模型,最可几键长与平均键长近似相等,且变化范围很小,说明晶体缺陷对最可几键长与平均键长的影响很小,而最大键长的变化范围较大。“完美”型晶体模型(Model-1)的最大键长最小,为0.1554nm,而缺陷晶体的最大键长大于“完美”型晶体模型。其中掺杂缺陷模型(Model-2)的键长值最小(0.1561nm),而空位缺陷模型(Model-7)的键长最大(0.1628nm),最大键长的增大幅度为0.45%~4.76%。最大键长增大,说明引发键的活性增强,炸药的感度增大,安全性变差。

2.4.2 引发键键连双原子作用能

引发键键连双原子作用能(EN—N)的计算公式如下:

EN-N=(E1-E2)/n

(8)

式中:E1为混合体系达到热力学平衡状态时系统的总能量;E2为固定CL-20中的所有N原子后,混合体系达到平衡状态时的总能量;n为混合体系中CL-20分子中N—NO2键的数目。

不同模型中键连双原子作用能(EN—N)的变化图如图10所示。

从图10可以看出,“完美”型模型(Model-1)的键连双原子作用能最大,为165.74kJ/mol,其次是位错缺陷模型(Model-10),为157.28kJ/mol,空位缺陷模型(Model-7)对应的键连双原子作用能最小,为137.23kJ/mol。与“完美”型晶体相比,缺陷晶体模型的键连双原子作用能减小幅度为5.10%~17.20%。键连双原子作用能减小,说明引发键的强度减弱,在外界刺激下,引发键更容易发生断裂或者破坏,从而使炸药发生分解或爆炸。因此,“完美”型晶体的感度最低,安全性最好,而缺陷模型的感度升高,安全性变差。

2.4.3 内聚能密度

内聚能密度(CED)等于范德华力与静电力之和,即分子的非键力。通过分子动力学模拟,得到不同模型的内聚能密度与相关能量,结果见表3。

表3 不同模型的内聚能密度与相关能量

从表3可以看出,“完美”型模型的内聚能密度、范德华力与静电力的值最大,分别为0.897、0.257和0.640kJ/cm3,而缺陷模型的内聚能密度、范德华力与静电力均小于“完美”型模型对应的能量值。在缺陷模型中,CED的最大值与最小值分别为0.875和0.774kJ/cm3。与“完美”型晶体相比,CED减小的幅度为2.45%~13.71%。内聚能密度减小,说明炸药的感度增大,安全性变差,因此晶体缺陷使得炸药的感度增大,其中位错缺陷模型对应的CED值最小,表明其感度最高。

2.5 爆轰性能

采用修正氮当量法[20]计算炸药的爆轰参数并对其能量特性进行预测。

对于由C-H-O-N 4种元素组成、化学式为CaHbOcNd的炸药,氧平衡系数(OB)计算公式为:

(9)

式中:a、b、c分别为炸药分子中包含的C、H与O原子的数目;Mr为炸药的摩尔质量,g/mol。

对于混合炸药,氧平衡系数的计算公式如下:

OB=∑wiOBi

(10)

式中:wi为混合炸药中第i种组分所占的质量分数(%);OBi为第i种组分对应的氧平衡系数。

根据修正氮当量理论,爆轰参数(D、P)的计算公式如下:

(11)

式中:D为爆速,m/s;p为爆压,GPa;ρ为炸药的密度,g/cm3;∑Nch为炸药的修正氮当量;pi为1mol炸药爆炸时生成第i种爆轰产物的摩尔数;Npi为第i种爆轰产物的氮当量系数;BK为炸药分子中第K种化学键出现的次数;NBK为炸药分子中第K种化学键的氮当量系数;Gj为炸药分子中第j种基团出现的次数;NGj为炸药分子中第j种基团的氮当量系数。

根据修正氮当量法,通过计算得到不同模型的爆轰参数,结果如表4所示,其中炸药的密度可以直接从分子动力学结果中提取得到。

表4 不同模型的爆轰参数

从表4可以看出,“完美”型模型(Model-1)的密度、爆速、爆压最大,而缺陷晶体的密度与爆轰参数均有所减小。在缺陷模型中,掺杂缺陷模型(Model-5)对应的密度、爆速、爆压最大,而空位缺陷模型(Model-6)对应的密度、爆速、爆压最小。与“完美”型模型相比,缺陷晶体(Model-6)的密度、爆速、爆压减小幅度分别为6.28%、5.15%、13.15%。密度与爆轰参数减小,说明炸药的能量密度减弱,威力减小。因此,可以看出晶体缺陷使得炸药的能量密度降低,其中空位缺陷的模型能量密度最低,即空位缺陷对炸药能量密度的影响最大。

3 结 论

(1)与“完美”型晶体相比,缺陷晶体模型的拉伸模量、体积模量与剪切模量的值减小,而柯西压增大,表明由于晶体缺陷的影响,炸药的刚性减弱,延展性增强,其中空位缺陷与位错缺陷对力学性能的影响更为显著,而掺杂缺陷的影响相对较小。

(2)由于晶体缺陷的影响,炸药的晶体结构与分子排列方式发生变化,导致分子之间的相互作用力减弱,结合能减小,炸药的稳定性减弱。

(3)缺陷晶体的引发键键长增大,而键连双原子作用能与内聚能密度减小,表明炸药的感度增大,安全性减弱。

(4)由于晶体缺陷的影响,炸药的密度与爆轰参数减小,表明炸药的威力减小,能量特性受到削弱,其中空位缺陷的晶体密度与爆轰参数最小,即空位缺陷对能量特性的影响最大。

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