BIT虚警影响因素分析和解决方案

刘阳，王文秀，王利明，苏峰

（海军航空工程学院青岛校区，山东青岛266041）

BIT虚警影响因素分析和解决方案

刘阳，王文秀，王利明，苏峰

（海军航空工程学院青岛校区，山东青岛266041）

现代飞行器广泛采用机内测试（Built in test，简称BIT）技术，但是常规BIT面临诊断算法固定、不易修改、判断故障的途径单一、缺乏推理和学习能力，因此，存在虚警率高，难以有效发挥其应有的作用。论述BIT虚警的基本理论、虚警的危害及现状，并从BIT虚警产生的原因分析入手，提出解决虚警问题的一些方法和措施。

飞行器；BIT；虚警；解决方案

0 引言

近年来，由于工业和军事领域应用的需要，BIT技术得到了较大的发展，同时，为提高现代飞行器的测试性和维修性，随着传感器技术、信号处理技术、微电子技术和计算机技术的发展，在航空设备中实现BIT测试成为可能。BIT作为系统或设备内部提供的检测和故障隔离的能力，在改善系统测试性、提高故障诊断精确性及缩短诊断时间、降低对维修人员技能要求和保障成本等方面具有重要作用。

在BIT技术的发展中，虚警较高始终是困扰应用及研究的主要问题之一。BIT虚警问题是导致航空设备完好性差、使用保障费用高的重要因素，虚警高不但直接影响BIT的有效性，而且对设备的使用状态产生种种不利影响。本文以BIT虚警问题为重点进行分析，提出一些解决BIT虚警的方法和措施。

1 BIT虚警现状

虚警问题是航空系统的一个重大难题，为此，有必要探讨产生BIT虚警的各种原因，采取相应的方法来抑制或控制虚警。

1.1 BIT虚警产生的原因

根据大量试验数据分析及系统工程经验，造成BIT虚警主要有以下几个方面的原因，故障诊断算法选择不合适，常规BIT故障诊断算法往往是采取基于硬件/软件实现的固定阈值瞬态判决算法，该算法在系统产生间歇故障或瞬态故障时容易出现虚警；另外，如果BIT故障诊断算法过于简单、粗糙，进行BIT信号处理、故障诊断和维修决策时也易导致BIT虚警。

门限值（或测试容差）主要指被测参数的最大允许偏差量。如

V216

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10.16621/j.cnki.issn1001-0599.2017.01.46