提高静电放电性能对半导体技术及汽车电子元件的影响



提高静电放电性能对半导体技术及汽车电子元件的影响

集成电路中最普遍出现的问题之一是静电放电故障，每年造成约40%的集成电路故障。分析了单一晶体管和复杂电子模块电路对集成电路的静电放电影响，由于物理结构不同，因此还需要考虑下一代晶体管（金属-氧化物半导体场效应半导体晶体管）的解决方案。

由于新一代硅技术给静电放电能力、保护电路设计和物理机制等带来新的挑战，因此也会影响晶体管、电子电路、生产过程和最终产品的质量（如整车质量）。研究了静电放电性能的鲁棒性，包括放电控制、放电故障、放电测试、放电保护，以及设计方法技术的鲁棒性比较。

电子元件数量的增加不仅体现在传统的电子控制单元（ECU），而且体现在远程信息处理、信息娱乐系统、车载娱乐方案和安全系统等方面。汽车包含大量的感性负荷（发电机、压缩机、雨刮电机等）而导致瞬间静电放电，对电子元件性能和寿命造成影响。

由于使用了更强大的静电放电晶体管，因此可以消除或减少外部电路保护设施。随着集成电路技术的发展，新的拓扑保护研究技术不断出现。

Leonardo Navarenho de Souza Fino. SAE 2014-36-0304.

编译：杨昆