X荧光微区分析在岩矿鉴定工作中的应用

＊曹 峰

（黑龙江省地质矿产测试应用研究所 黑龙江 150036）

X荧光微区分析在岩矿鉴定工作中的应用

＊曹 峰

（黑龙江省地质矿产测试应用研究所 黑龙江 150036）

本文利用日本理学公司推出的带微区分析功能的ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱仪对事先选定的几个矿石样品进行微区分析，通过事先建立的定性分析方法，得到了矿石测量点的化学成分含量，为岩矿鉴定工作提供一种快速、便捷的分析方法和辅助手段。

微区分析；岩矿鉴定

所谓微区分析是指在固体样品的某一微小区域直接进行成分分析或利用各种微束或探针技术来直接（原位）分析在光学显微镜下所选的微区物质进行化学成分分析的一种分析技术。目前已经广泛应用的微区分析仪器有电子探针、离子探针、激光探针、扫描电子显微镜、俄歇电子谱仪等，这些分析技术在矿石鉴定方面发挥着重要作用。尽管探针等技术可定量或半定量测定元素含量，但是其测定的样品需要制备成探针片，绝大部分地质样品不导电，因此需要在真空下进行预处理（喷碳），而且矿石结晶水含量对测定结果影响大，特别是在测定普通光片时，抽真空时间非常长，使其在岩矿鉴定的应用上受到了一定的限制。而X射线荧光光谱仪微区分析具有谱线简单、干扰少、稳定性好、制样简单、方法简便、分析范围宽、适应性广、无损分析、测定结果准确可靠等优点，测量面积还可以根据需要鉴定的矿物的大小进行调整，实现原位测定。

X荧光光谱仪的分析范围很广，从F～U均能够做出定性或半定量的分析，在微区分析中，凡是含量大于十万分之一（0．001×10-2）均可以给出半定量的结果。并且微区分布分析有三种测量模式：点分析、线分析和面分析。在点分析中点测量直径为30μm。可以对指定位置进行定点分析。在线分析和面分析中，通过测量指定位置，可以得到元素分布数据。为岩矿鉴定提供有利的数据支持。

1.实验部分

(1)仪器

日本理学ZSX Primus Ⅱ型波长色散X射线荧光光谱仪，仪器各项参数见表1。

表1 仪器参数

(2)分析元素的测量条件

分析元素的测量条件见表2。

表2 分析元素的测量条件

参数名称 参数值X射线管 端窗型Rh靶材4kV工作电压20kV～60kV工作电流2mA～160mA铍窗厚度30μm视野光栏 0.5mm～30mm

注：PHA为脉冲高度分析器，元素均选用Kа谱线，滤光片为无，衰减器为1/1。

(3)样品的选择

本文选择有代表性的矿石样品作为代表，磁铁矿。

Application of X-fluorescence Micro Zone Analysis in Rock-mineral Determination Work

Cao Feng
（Heilongjiang Test and Application Research Institute of Geology and Mineral Resources, Heilongjiang, 150036）

In this paper, it makes use of the ZSX Primus type of X-ray fluorescence spectrometer with micro zone analysis function launched by Japan Rigaka to take micro zone analysis of the several selected ore samples, besides, through the pre-established qualitative analysis methods, we got the chemical composition content of ore measurement point, which provides a rapid and convenient analysis method and auxiliary means for rock-mineral determination work.

micro zone analysis；rock-mineral determination

2.结果和讨论

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