X射线荧光光谱分析测试技术在地学中的应用
2016-03-14吕金梁
吕金梁
摘 要 X射线荧光光谱分析方法是一种成熟的成分分析技术,具备多元素同时测定、含量范围宽、精密度高、分析速度快等特点,在地质领域中被广泛应用。本文主要对近年来X射线荧光光谱分析在地学中主要的应用进行了综述。
关键词 X射线荧光光谱分析 地学 应用
中图分类号:P575 文献标识码:A
0前言
X射线荧光光谱法(X -Ray Fluorescence Spec-trometry,XRF)是主、次量元素分析精度、准确度和自动化程度最高的多元素分析方法。
X射线荧光光谱技术作为常规的射线检测技术, 早在20世纪50年代, X射线荧光光谱 (XRF)分析就已经作为常规分析重要手段,经历了50多年的发展,目前已成为物质组成分析的必备方法之一,具有分析速度快、重现性好、准确度高、分析范围广、试样制备简便,测量不损坏试样等优点,并广泛应用于地质领域中。
1 X射线荧光光谱分析测试技术在地学中的四类应用
1.1 X射线荧光光谱法地球化学勘查工作中的应用
地球化学勘查工作中最重要的一项工作就是地质样品测试分析。地球化学勘查要分析数以千、万计的样品,需要检出百万分之几、甚至为十亿分之几的痕量元素的含量,因而必须研究快速的、适于大规模批量操作、具有高灵敏度的分析测试方法。前人的研究成果表明,X 射线荧光光谱法(XRF)具有分析速度快、重现性好,并且在样品前处理方面具备制样简单、非破坏性等优点,该方法适宜于对多元素进行同步测定。所以对地质样品的分析测试工作,X 射线荧光光谱法(XRF)更是得到了广泛的应用。例如可以测定土壤样品中的多主、次量及痕量元素及痕量元素。
1.2 X-射线荧光分析法在地质勘探中的应用
应用便携手提式X射线荧光仪在野外现场原位非破坏性地定性、定量测定岩石(土壤)中矿石的指示元素或指示元素的组合,能够勘察矿的远景区和寻找隐伏矿体,能够快速地发现异常,及时追踪和评价异常,以及现场固定矿(化)体,这对减少地球化学样品、刻槽样品或岩心样品的采样、分析和结果整理时间,特别是在工作量很大和缺乏确定目标的情况下,有着特别重要的意义。
以金矿为例。应用X-射线荧光分析方法勘查金矿已有二三十年的实践,该方法因具有野外现场化、快速化、成本低等一系列优点,在地质勘探中得到了越来越广泛的应用,并取得了很好的找矿效果和经济效益。
1.3 X 射线荧光光谱法在硅酸盐岩石分析中应用
硅酸盐类矿物是主要的造岩矿物,是火成岩、沉积岩、变质岩的主要组分,是工业生产的重要原材料。在地质工作和工业生产中,为了了解岩石内部组分的含量变化,元素在地壳内的迁移情况和变化规律、元素的集中和分散、岩浆的来源及可能出现的矿物,为阐明岩石的成因、岩石矿物定名的确定、解决矿体岩相分带和工业生产的合理有效综合利用,需要进行样品组分全分析。传统的化学分析方法,操作过程繁琐、分析周期长、劳动强度较大、分析结果受分析人员及各种试剂因素影响较大。X 荧光光谱法具有制样简便、分析速度快、重现性好、多元素组份同时分析和低成本等优点,被广泛应用在硅酸盐岩石分析中。
1.4 X射线荧光光谱分析法在检测矿石组分中的应用
以铁矿石为例。含铁的矿物种类繁多,但一般可作为炼铁原料的铁矿石只有磁铁矿、赤铁矿、菱铁矿、镜铁矿、针铁矿、褐铁矿和钒钛铁矿。常用的分析化学法通常采用酸解和碱融分解铁矿石,具有流程长、耗时长、重现性不好等。X射线荧光光谱 (XRF)分析法克服了传统的化学分析方法缺点,大大地提高了测试的效率。但对于SiO2含量较高的铁矿,XRF分析法存在分析精度不够的不足。与熔融法相比, X射线荧光光谱法无需做烧失量校正,克服了硫、铜含量较高的样品及还原性较强的物质对铂坩埚的损坏等问题,同时提高了微量元素测定的峰背比,具有操作简便快速、经济、精度高的优点。
2结束语
X射线荧光分析法作为地质分析的一种方法,可以多元素同时测定,且其检出限、精密度和准确度可以满足地质科学研究需要,在地质样品分析研究中广泛应用。随着仪器的进步、实验方法的改进,X射线荧光分析法以其快速、经济、绿色、多元素分析等特点,必将随着研究需求的变化在更广阔的领域得到更广泛的应用,与其他分析方法的结合也会愈加紧密。
参考文献
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