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电容薄膜真空规的正确使用

2014-04-16刘兴胜

计量技术 2014年9期
关键词:调零测量范围膜片

刘兴胜

(中国工程物理研究院电子工程研究所,绵阳 621900)

0 引言

在真空测量中,电容薄膜真空规作为一种高精度的压力传感器,测量范围为10-2~105Pa,主要用作粗低真空的精确测量或当参考标准。它的工作原理是弹性薄膜在压差的作用下膜片产生位移,引起电极和膜片之间距离的变化,导致电容量发生改变,通过测量电容的变化,达到测量真空度的目的。

电容薄膜真空规分为绝压式和差压式两种,绝压式是指参考室的压力相对测量室的压力可忽略不计,认为参考室压力为零,实际上是将参考室抽成高真空,用吸气剂维持测量室的真空度在电容规最小分辨率以下。差压式是指任意压力作为零点,测量相对压力。本文所指为绝压式电容规。

电容薄膜真空规的主要特点是:测量准确度高、线性好,灵敏度与气体种类无关,可测蒸气和腐蚀性气体的压力,结构牢固,使用方便。单个规的测量范围可覆盖5个数量级的真空区域,但准确测量一般只有3个数量级。

为了使真空操作人员能够正确使用电容薄膜真空规,从而保证测量的正确性和可靠性,同时延长规的使用寿命,现讨论一下在使用中的注意事项。

1 防止超量程

超量程是指真空超出满量程的10%以上或者更高。虽然偶尔超量程时电容薄膜真空规的固定电极起到保护膜片的作用,不会使膜片压破。但是由于规的膜片很薄,如果长期如此,膜片会发生变形,使膜片不能恢复到原来的位置,以致造成重复性变差,校准数据失效。因此,在电容薄膜真空规使用中,要安装一个隔断阀,到了满量程时,就关闭隔断阀,这样就可以防止膜片过压,以延长使用寿命和保证测量精度。

2 预热

预热是指电容薄膜真空规在正常使用前的通电时间。为避免环境温度影响,精密规加有45℃左右温控色。因此有加温色和不加温色两种。精密规预热时间应在4h以上,如果作为参考标准或精确测量时,预热时间必须在24h以上,如果条件允许,推荐长期预热。例如,美国MKS公司的690A电容薄膜真空规配接该公司的270D-5电控仪时,270D-5电控仪插上电时,还需要把Heater键从off扳到Reg位置,此时右边的黄色指示灯会亮。长时间成功预热后,用手摸690A电容薄膜真空规的表面,会有发热现象,这是一种正常情况。如果Heater键扳在off位置,即使配接的270D-5电控仪长期通电,690A电容薄膜真空规也不会发热,起不到预热效果。

3 零点调节

电容薄膜真空规的零点调节正确与否,直接影响真空度的精确测量。美国MKS公司的690A电容薄膜真空规既有测量电路的调零又有规自身的调零。测量电路的调零是在270D-5电控仪前面板的Null旋钮处调零,FS旋钮处是调仪器的满度。规自身的调零是在该面板的C和F处,C表示粗调,F表示细调。如果在C和F处仍然调不到零,应调节规上的调零旋纽,这个旋钮在规上有一个小孔,可以用小螺丝刀轻轻调节。

俄罗斯BVD-5真空规的调零方法是:按压“〉0〈”键10s以上,显示屏左下角出现符号“0”,同时听到鸣叫声音。反复数次,直至稳定显示在“0”位置。

调零应在预热时间足够的情况下进行,位置应比准确测量范围下限低2~3个数量级。如量程是133.3kPa,则其准确测量范围是133.3Pa~133.3kPa。零点在真空系统抽到1.3Pa或0.13Pa位置左右才能调节,其余量程以此类推。加温色对环境要求不高,一旦零点调好后,在测量的过程中不能再随意进行调节;不加温色对环境要求较高,如温度有变,零点也得调节。

4 温度影响

电容薄膜真空规受温度影响较大,因此控制温度变化对保证测量精度十分重要。尤其是温度变化很大时,各部件的热膨胀造成本来就很小的规腔间隙几何尺寸发生较大变化,从而导致与压力无关的位移,造成电容薄膜规输出信号紊乱,引起零点严重漂移,直接影响规的稳定性和测量精度。实际使用时,室温稳定要求在<±1℃以内,绝对不允许温度的突然变化;如果温度变化过大,必须进行修正或采取必要的恒温措施。

5 环境要求

电容薄膜真空规作为一种高精度的压力传感器,主要用于粗低真空的精确测量或作为参考标准,对环境的要求很高,不宜在不清洁的环境中使用。如果环境受到污染,或空气中含有大量的水蒸汽和灰尘,则测得的结果会不可靠。因此,室内应经常保持清洁卫生,地面为水磨石或木质涂漆地面,无尘埃。为防止机械泵工作时排出气体对环境的污染,可采用在泵的排气口上装设金属或橡胶排气管道的方法,将气体排出室外。同时,还要避免射频和电磁场的干扰,强噪音也会影响规的稳定性,尤其是对振动比较敏感,在使用中应注意。

6 结束语

综上所述,电容薄膜真空规是一种性能优良的规,只要真空操作人员能够熟练掌握好这些注意事项,就能够正确使用它,为科研生产做好服务。

[1]国防科工委科技与质量司.力学计量[M].北京:原子能出版社,2002

[2]《计量测试技术手册》编辑委员会.计量测试技术手册[M].北京:中国计量出版社,1996

[3]达道安.真空设计手册[M].第3版.北京:国防工业出版社,2004

[4]刘兴胜,陈旭.对BVD-5真空计的校准[J].计量技术,2008(11)

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