基于FPGA技术的多通道符合计数器研制

叶惠等

摘要 设计了基于FPGA的多通道符合计数器，此设计将符合窗口时间的设定集成于FPGA器件中，因此集成度更高，并且通过实验进行了模拟单光子探测器脉冲信号的符合测量，计数误差为0.02%，能用于对纠缠光子对的判定.

关键词 符合计数；纠缠光子对；FPGA

中图分类号 O431-2 文献标识码 A 文章编号1000-2537（2014）01-0053-05

符合测量最早由物理学家博思（Walth Bothe）用于判断在光子和电子的碰撞中，能量和动量守恒定律是否在每一次碰撞中均有效[1].博思由此获得1954年诺贝尔物理学奖.符合计数技术在核物理与宇宙射线的研究领域被广泛运用.随着符合计数技术不断的发展，如今符合计数技术也被应用于量子信息科学中多光子纠缠的测量和判定[23].

简单的符合计数系统可以用简单的门电路或乘法器来实现[4].但是随着符合计数器复杂程度的增加，当用于多通道符合测量时，电路的复杂程度与成本将会随之上升，此时信号在经过门电路后产生的延迟将是无法控制的，很有可能影响到符合测量最终的结果[5].得益于数字电子技术的飞速发展[68]，市场上商品化的符合计数器大多数是用专用集成电路（ASIC）完成的，这些计数器的测量能精确到PS一级，并且有些还可实现符合窗口的随意可调.只是用ASIC实现符合计数器对仪器要求很高，且价格昂贵.但随着现场可编程门阵列（FPGA）的快速发展[9]，FPGA具有更多的门电路，体积更小成本更低，并且方便随时修改设计直至满足实验要求.本文设计了基于FPGA的多通道符合计数器，此设计将符合窗口时间的设定集成于FPGA器件中，因此集成度更高，并且通过实验进行了模拟单光子探测器脉冲信号的符合测量.

1基本结构

实验要求对纠缠光子对进行判定[1011]，在设计上只需要对在一个符合要求的固定的时间窗口内的符合事件发生的次数进行计数，并不需要具体知道两个信号之间的时间间隔.所以本实验最重要的设计要求是记录下符合事件发生的次数.符合计数时间窗口，也称为符合分辨时间，为两路脉冲能发生符合的最大间隔时间，它是判断符合计数器性能的重要依据.所以符合窗口的大小决定了整个实验数据的准确性.大部分的符合计数器都是采用可编程延迟线来进行符合时间窗口的设定，现一般可编程延迟线可提供精度为纳秒量级的从纳秒到微秒范围的符合时间，例如多伦多大学的Alan Stummer所设计的11通道符合计数器就采用了这种方法.而作者的设计不采用可编程延迟线的方法来进行符合时间窗口的设定，而是将可调整的延时模块内置于FPGA器件中，在实现相同功能的前提下，使得设计集成度更高，且成本降低.

设计思路如下：监视四路输入，当任何一路有上升沿输入的时候采样，如用现场可编程门阵列（FPGA）来实现的话，则是把四路信号分为另外同样的四路信号取或之后（简称为四路或），只要监视这四路或信号是否有上升沿输入.如有，则表示四路信号中至少有一路是有上升沿输入的，

而信号通过或门时肯定会有一定延时的（逻辑器件都有其延时，FPGA也不例外，并且不同器件延时时间不同，一般加上线

路延时不超过5 ns）.那么正好得到信号输入时刻与采样时刻的一个延时（如图1）.而这个延时正是一个或门与传输线延时的总和，这正是作者所需要的符合时间窗口.经过测量，作者所使用FPGA器件中或门延时为1～3 ns，符合实验的精度要求.值得注意的是，要求输入信号的持续时间要大于此延时才能正常取样.而在本实验中，单光子探测器的信号是12 ns宽，满足这个前提条件.

符合计数器采样时，如果采到两路或者更多路有高电平信号，就表示在这段延时里出现了这几路信号.可认为在该符合时间的精度下，这几路信号是同时发生的，并且它的符合分辨时间就是此延时.在该符合计数器中，实

测或门加上线延时的总延时时间为1 ns，满足本实验要求.在多光子纠缠领域的实际应用中，符合时间窗口常为3 ns到5 ns间，所以作者在或门之前加入可调延时模块，在或门延时过小时增大符合时间窗口，使实验更加灵活.使用时只需把采集到的相应信号存储下来，就可得到符合信号的计数统计信息.这与初始的设计思想相吻合.接下来只要把有用信号存储并交与PC显示即可.符合计数过程如图2.

在取样随后的存储和与PC交互的过程中，四路输入的信号脉冲将被做为FPGA中的随机存储器的地址信号进行存储，四路信号不同的电平将代表不同的地址，即存储单元.四路输入可以测量的符合情况有16种，不同符合情况下的计数统计将存储在RAM内16个不同的存储单元中（如图3所示）.当第一路有脉冲信号输入时，RAM的地址为0001，此时0001所对应的存储单元中的数据会进行加1.

当在符合时间窗口内，第一路和第三路有信号脉冲上升沿发生，则RAM的地址为0101，相对应的存储单元也会进行加1.本程序所设计的为每1 s进行一次计数显示，也就是在采样开始之后，FPGA不断地进行符合情况的统计计数，并且将统计存储在RAM中，然后通过串口与PC进行计数结果的传输，在PC上每1 s显示一次计数结果，这样使用者就能知道在这1 s之内，有哪些符合情况发生及发生的次数，从而对纠缠光子对进行判定.

4结论

设计了基于FPGA的多通道符合计数器，利用信号发生器模拟单光子探测器发出的信号，测量了几种不同情况信号输入时的符合计数情况，计数误差为002%，证明该符合计数器能用于对纠缠光子对进行判定.相比于其他符合计数器，该设计具有三大优势.第一，相比于ASIC，利用FPGA进行设计价格更便宜，体积更小.其开发难度较小，开发周期较短.并且当需要更多路数据采集时，FPGA器件更容易扩展，基本不会增加成本.第二，由于FPGA可以方便地多次重复程序配置的特性，在该设计中可将调整延迟模块内置于FPGA中，通过对FPGA程序调整可任意改变符合时间窗口，满足不同实验要求.因此该设计相比于其他基于FPGA的符合计数器集成度更高，更加简洁.第三，相比于TAC（时间-幅度转换器）[13]，该设计系统更加简洁.TAC不仅记录符合事件发生的次数，同时还测量发生符合的两信号脉冲的时间间隔.因此TAC更多用于与时间相关的单光子计数等测量实验中.而该设计只记录符合事件发生的次数，专为多光子纠缠研究所研制.

参考文献：

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[9]夏宇闻.Verilog数字系统设计教程[M].北京：北京航空航天大学出版社， 2008.

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[12]周润景，苏良碧.基于Quartus II的数字系统Verilog HDL设计实例详解[M].北京：电子工业出版社， 2010.

[13]李勇，苏弘，千奕，等.多道时间幅度变换电路的设计[J].核电子学与探测技术， 2006，26（4）：454457.

（编辑陈笑梅）

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（编辑陈笑梅）