借助标准圆柱测量键槽对称度的方法
2014-02-06刘兴富
刘兴富
(广州威而信精密仪器有限公司,陕西西安 710075)
0 引言
在机械装配传动中,键与键槽配合的结构使用较为广泛,键槽的加工质量直接影响着装配质量,特别是对称度的超差,常常引起不能装配的故障。轴、孔键槽加工精度十分重要,尤其是轴键槽对称度、键槽宽度的精度测量,会直接影响键联接装配后的技术性能。目前,轴键槽对称度的测量主要采用V形铁、平板、百分表以及表座,这种方法称为“打表法”。该方法操作不便,测量繁琐,可靠性差。生产车间加工现场对键槽的测量一般采用键槽塞规或游标卡尺。这两种测量方法都不能满足精度较高键槽精密测量的要求,而且有部分人员对键槽对称度的概念理解存在着误区。下面对键槽对称度的概念进行阐述,并介绍一种方便的键槽对称度测量方法。
1 键槽对称度公差
键槽对称度公差的定义[1]:键槽的中心面必须位于距离为公差值的两平行平面之间,该两平面对称配置在通过基准轴线的辅助平面两侧。所以键槽对称度误差不仅仅是如图1所示的f截、f长,它有一个确定的公差带。
如何确定误差带的宽度。下面以轴键槽为例,说明对称度误差的计算方法。
如果键槽铣刀旋转中心与工件水平基准轴线正交,且走刀方向与基准轴线垂直方向重合,则加工出的键槽对称度为零。但是,由于零件校正误差、机床误差以及铣刀切削的阻力等,使加工出的键槽产生了偏离,这种偏离应为键槽纵横向的歪斜,而不应只理解为对基面的平移。
(1)长度方向对称度误差f长
键槽铣刀旋转中心偏离工件基准轴线,走刀方向也不与轴线平行,如图2所示,检测时是在键槽的全长上测得各个横截面上的对称度误差,取其最大值作为键槽的对称度误差。
当以标准圆柱辅助测量键槽的对称度误差时,可采用如图3所示的方法:G-G为键槽中心面的左端点、交叉点、右端点对基准轴线O-O的偏离距离。过这些点分别作截面E-E、F-F、H-H,这些截面分别与键槽中心线G-G交于A、B、C三点,三点与基准轴线O-O的偏移量,即两径向测量截面内的距离差之半分别为a1、a2(a2=0)、a3,点A的径向距离最大,为对称度误差a3,则键槽的截面测量最大差值为a3。
只要分别测出横截面的最大测量截面内的距离差之半值Δ1和Δ2,就可计算出该零件的对称度误差[2]。由上述分析可得:
Δ1=a1Δ2=a3
(2)截面对称度误差f截
键槽铣刀旋转中心偏移工件基准轴线,但行走方向与轴线平行,此时键槽任一截面的对称度误差即是键槽对称度的误差。如图4所示,键槽中心面位于距离为f′的两平行平面之间,而且该两平面之间的距离最小。f′即是该截面的对称度误差[1]。由于α很小,为了检测计算方便,检测方法规定均用图中f代替f′[2],由图中的几何关系可推算出:
式中:a是键槽中心面到基准轴线的偏离距离;
h是键槽深;
d是零件轴的直径。
2 键槽对称度的圆柱辅助测量
键槽对称度的检测一般都是用“打表法”进行,这种检测方法很麻烦,仅适用于单件小批量的轴键槽检测,用于大批量的轴键槽检测时效率太低。下面介绍一种借用标准圆柱进行对称度检测和计算的方法。
如图5所示,当键槽不对称时,将标准圆柱分别置于键槽的两侧,OO1与OO2大,键槽对称度的偏差越大,OO1与OO2之间的差值也越大。OO1和OO2可通过外径千分尺测量CD、EF的尺寸间接获得。由图5中的几何关系可计算出键槽的对称度。
从△OO1A和△OO2A中可以求出OO1和OO2:
这样,就可以根据零部件标注的对称度公差,事先计算出OO1与OO2的允许值δ,来控制对称度,简单方便。计算时则应引起注意的是:
(1)标准圆柱的直径d′越小,算出的值δ越大;d′越大,算出的δ值越小,即测量时小直径的标准圆柱对测量结果比较敏感,更加便于控制对称度误差。
(2)测量时零件的轴径、键槽宽及标准圆柱各参数都是给出公差要求的,参数的取值对δ有微小影响。批量生产中,为了控制产品质量,须控制δ不大于某一数值,计算时OB、b、a、H取最小值,h、d取最大值。但在对键槽对称度的质量进行判断时,应取键槽相关尺寸的实际值。
3 结束语
(1)借助标准圆柱辅助测量键槽对称度的方法,测量过程简便、快捷;
(2)借助标准圆柱辅助测量键槽对称度的方法,特别实用于大批量生产中键槽对称度的检测,方法简单,容易掌握,测量效率高。
【1】 全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会.GB/T 1182-2008几何产品技术规范(GPS)几何公差 形状、方向、位置和跳动公差标注[S].北京:中国标准出版社,2008.
【2】 全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会.GB/T 1958-2004产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差 检测规定[S].北京:中国标准出版社,2004.
【3】 王国扬.平键键槽对称度的测量[J].计量技术,2001(1).
【4】 刘新勇,赵平.机械制造检测技术手册[M].北京:机械工业出版社,2011.