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理学公司推出用于XRD的一维探测器

2013-01-27

中国设备工程 2013年7期
关键词:计数率节省时间覆盖范围

近日,理学公司推出了新型D/teXUltra250硅探测器。与同类产品相比,它可将数据采集时间降低将近50%。节省时间的实现主要是通过增加孔径的有效面积、增加检测器的角度覆盖范围来实现的。该探测器还拥有非常好的能量分辨率,可以很好地抑制X射线荧光。

D/teXUltra250一维探测器主要特点是减少仪器的X射线衍射(XRD)数据采集时间,提高仪器效率,还可用于理学的Smartlab系列衍射仪。

与上一代探测器相比,D/teX Ultra250拥有多处改进,包括像素间距(0.075~0.10mm)更小、分辨率更高、速度更快、计数率提高和角度覆盖范围增大,其独特的XRF抑制结构使得能量分辨率更高。

(摘编自仪器信息网)

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