二氧化钛纳米环状薄膜的制备及光学性能①
2012-09-27孟凡杰钟文武
孟凡杰, 钟文武
(1.河北天择重型机械有限公司,河北 邯郸 056200;2.台州学院,浙江 台州 318000)
0 引言
透明导电氧化物薄膜(TCO)以其优异的导电性、可见光范围内高透射比、红外高反射比及其半导体特性,广泛应用于透明电极、太阳能电池、触摸屏、气敏元件、半导体/绝缘体/半导体(SIS)异质结等[1-4].自从 1907 年 Badeker首次报道采用溅射热氧化的方法制备CdO薄膜以来,TCO逐渐成为研究的热点[5].许多研究者不断研制出各种性能优良的TCO,并且很多材料已经达到大规模生产的水平.迄今为止,已发现的透明导电薄膜多数为n 型半导体,主要包括 In,Sb,Zn,Cd,Sn,Ti等金属氧化物及其复合多元氧化物,其中掺杂的In2O3,ZnO、和 SnO2是研究最多的 TCO材料.Sn掺杂In2O3(ITO)透明导电薄膜的性能最优秀,现在的应用也最广泛[6].但是其原料In元素价格昂贵并且对人体有毒副作用,所以研究者一直在寻找它的替代品.ZnO薄膜材料[7]的光学、电学性能已接近ITO,但是其在制备工艺和热稳定性上存在缺陷,目前也还在探索当中.TiO2薄膜材料和它们相比具有原料廉价、制备方法简单、无毒等优势,再加上其防雾和自清洁等特点,使其成为一种潜在的多功能薄膜材料.
本文采用胶体晶体模板自组装法和溶胶-凝胶法相结合制备TiO2阵列薄膜,研究了退火温度对薄膜形貌和可见光透光率的影响.
1 实验
本实验采用聚苯乙烯、钛酸正四丁酯、无水乙醇为主要原料.第一步采用自组装法制备胶体晶体模板.在器皿的中间放上一片清洗干净并且已经烘干了的玻璃片,向玻璃片的两边分别滴加微量的蒸馏水,使蒸馏水与玻璃片的高度基本相一致;再用量筒量取聚苯乙烯:无水乙醇以1:1的混合液0.005mL滴加到玻璃片上方;混合液由于张力的作用慢慢向玻璃片的两边扩散;当混合液碰到蒸馏水时,由于吸附力作用,胶体球在蒸馏水表面上进行排列,上层白色的为聚苯乙烯胶体球,下层红色的为酒精分子,玻璃片的左右各形成整齐的双纳米结构阵列;用镊子取走玻璃片,待水面平静后,就可以形成排列规则的双纳米结构阵列;然后用另外干净的玻璃衬底捞起胶体球,等到酒精分子蒸发后,就可以得到聚苯乙烯单层胶体晶体模板.第二步采用溶胶-凝胶法制备TiO2薄膜.在上述胶体晶体模板上采用凝胶溶胶旋涂法制备一层TiO2薄膜.首先量取5.0mL钛酸正四丁酯溶解到10mL无水乙醇中配置成溶液,放一块磁石于此少杯中,用保鲜膜密封,再使用恒温磁力搅拌器在常温下水浴搅拌0.5小时,然后将其静置一晚上待用.接着选取制备好的模版中比较好的用匀胶机进行旋涂,在低速下旋涂9秒,匀胶机的转速为500r/min;在高速下旋涂20秒,其转速为2500r/min;然后在100℃的鼓风干燥箱中烘10min.最后对制备好的试样进行退火处理.
2 结果与讨论
图1为所制备的胶体晶体模板SEM图.从图中可以看出,采用自组装方法制备的胶体晶体模板呈规则排列.
图1 胶体晶体模板SEM图
图2 不同退火温度下的TiO2环状薄膜SEM图
图2为不同退火温度下的TiO2环状薄膜SEM图,图 2(a),(b),(c),(d),(e)退火温度分别为300,400,500,580,650℃.从图 2 中可以看出,当退火温度为300℃时,胶体晶体模板还没有除去;随着退火温度的升高,胶体晶体模板逐渐除掉;当温度升高到650℃时,TiO2环状薄膜出现分裂.
X射线能量色散光谱仪(EDX)不仅可以对样品进行定性分析,还可以对某些样品进行定量检测,具有测量快、分析快、灵敏度高、结果准确的特点,广泛应用于炼钢、陶瓷、玻璃、水泥、有色金属、石油等行业.其分析样品可以是薄膜、粉末、液体、熔融片以及固体.在本实验中也不例外得利用X射线能量色散光谱仪对TiO2薄膜样品进行成分测定.
图3 TiO 2薄膜的EDX图
图3为TiO2薄膜的EDX图,从图中可以看出,EDX中含有 Ti,O,Si,其中 O 和 Si为玻璃的成分,这说明薄膜中含有Ti.
图4 TiO2环状薄膜在不同退火温度下的紫外-可见光透过率曲线
图4为TiO2环状薄膜在不同退火温度下的紫外-可见光透过率曲线.在测试样品前,利用两块空白玻璃片校正基准线,然后再测试薄膜的透过率,以消除玻璃基底的影响.从图4中可以看出,所有的薄膜在紫外区有强的吸收边,在可见光区域的透过率高达60%,随着退火温度的升高,薄膜的透过率先降低后增加,当退火温度为300℃时达最大值.
3 结论
采用自组装方法制备的胶体晶体模板呈规则排列;随着退火温度的升高,胶体晶体模板逐渐除掉.当温度升高到650℃时,TiO2环状薄膜出现分裂;薄膜在可见光区域的透过率高达60%,随着退火温度的升高,薄膜的透过率先降低后增加,当退火温度为300℃时达最大值.
[1]X.Jiang,F.L.Wong,M.K.Fung,and S.T.Lee,Aluminum-doped Zinc Oxide Films as Transparent Conductive Electrode for Organic Light- emitting Devices[J]Appl.Phys.Lett.,2003,V83:1875.
[2]M.Katayama,TFT - LCD Technology[J].Thin Solid Films,1999,V341(1-2):140.
[3]姜燮吕.ITO膜的溅射沉积技术[M].沈阳:《真空》杂志社,1998:34.
[4]H.Nanto,T.Minami,S.Shooji,et al.Electrical and Optical Properties of Zinc Oxide Thin Films Prepared by RF Magnetron Sputteringfor Transparent Electrode Applications[J].Journal ofApplied Physics,1984,V55(6):1029.
[5]G.HAACKE,New Figure of Merit for Transparent Conductors[J].Journal of Applied Physics,1976,V47(9):4086.
[6]N.Toshihiro,T.Kohei,T.Kazuki,and T.Kunihide,Ferromagnetism in Sputtered Manganese-doped Indium Tin Oxide Films with High Conductivity and Transparency[J].Journal of Applied Physics,2007,V101:09H105.
[7]W.W.Zhong,F.M.Liu,L.G.Cai,Effect of Growth time on the Structure,Raman Shift and Photoluminescence of Al and Sb codoped ZnO Nanorod Ordered Array Thin Films[J].Applied Surface Science,V257(22):9318.