网络分析仪校验件设计和参数化过程
2022-10-25王怀念
王怀念
(原广东国昌科技有限公司,广东省东莞市,523758)
1 引言
矢量网络分析仪校验件是一种超精密的测量计量件,价格昂贵。而接头种类繁多,为每种接口外部采购计量件,成本高昂。本文尝试一种简单的工程方法,便于设计生产工程可用的VNA 校验件。本文详细介绍了设计和参数化这些器件的软件及实施步骤,便于工程设计参考。
2 同轴校准系数模型的推导
同轴传输线特征参数
图1 同轴传输线结构
所有传输线可由其特征阻抗(Zc)、传输损耗常数(α)、传输相位常数(β)和长度来定义。它们与校准系数(偏置阻抗ΔZ0、偏移损耗Δloss和Δdelay偏移延迟)有关,相关性如下所示:
Transmissiomlossandphase=e-(α+jβ)l
a-1
a-2
a-3
R-偏置线分布电阻
L-偏置线分布电感
C-偏置线分布电容
G-偏置线分布电导率
ω=2πf,
f-频率,单位Hz
l-长度,单位m
Zc-特征阻抗
假设R很小且G=0,包括非理想导体的自感,传输线特性的二阶近似值为:
a-4
a-5
a-6
对于同轴传输线:
a-7
a-8
a-9
其中:
a-10
a-11
将偏移定义代入公式a-4, a-5, a-6:
a-12
a-13
β1=ω(Δdelay)+α1
a-14
a-15
a-16
参考文献[5]所示,短路电感可根据短路参考面的物理特性确定。然后将计算结果采用最下二乘法,曲线拟合为三阶多项式函数:
ZT≈jωLT
a-17
LT=L0+L1f+L2f2+L3f3
a-18
a-19
ZT——传输阻抗,ZT——反射阻抗,LT——总的寄电感生,ΓT——反射系数
在电感为线性的低频时,可将其建模为额外的延迟项:
a-20
a-21
利用三维微波仿真软件(HFSS或CST),可以确定开路器的边缘电容。然而,开路器的装配结构复杂,会引起仿真问题。如果未将开口用作校准标准,则使用TRL或偏移短路校准技术测量开路响应可能更为现实。然后将测量结果采用最小二乘法,拟合到三阶多项式电容模型中。
a-22
CT=C0+C1f+C2f2+C3f3
a-23
ΓT≈e-2jarctan(ωCTZr)
a-24
在电容为线性的低频时,可将其建模为额外的延迟项:
Δφ=2arctan(2πfCrZr)=2πfΔdelay
a-25
a-26
3 网络分析仪SLOT校验件,包含以下四个器件
A.开路器(Open);
B.短路器(Short);
C.直通(Through);
D.宽频精密负载(load)。
3.1 开路器(Open)
开路器网络分析仪VNA识别需要的参数:
a)边缘电容拟合系数:C0,C1,C2,C3,
获取方法:TRL测试或超精密仿真后,多项式拟合
b)偏移时延(ps),方法:c测试或仿真
c)相位噪声偏差(°),方法:测试或公差超精密仿真分析
图2 开路器等效电容结构
开路等效电容,随频率非线性变化
参考平面处反射系数:
b-27
开路器的S11的幅度是开路震荡的,需要对时延(或相位)测量或仿真。总的时间延迟T0是可以提取来进行工程计算的,开路器长度L的延迟是线性的,需要从总延迟中减除。
开路电容的时间延迟t(Δdelay):
b-28
T0——总的时间延迟;l——开路器物理长度;C——光真空速度
利用公式a-23和a-26,即可进行数值最小二乘法拟合,多项式系数提取即可。
3.2 短路器Short
短路器需要网分识别需要的参数:
a)寄生电感拟合系数:L0,L1,L2,L3,方法:测试或超精密仿真后,多项式拟合
b)偏移时延(ps),方法:计算或仿真都可得到
c)相位噪声偏差(°),方法:测试或公差超精密仿真。
图3 短路器等效电感结构
短路等效电感,随频率非线性变化
b-29
短路器的S11的幅度为零,同开路器一样,需要对时延(或相位)测量或仿真。总的时间延迟T0是可以提取来进行工程计算的,短路器长度L的延迟是线性的,需要从总延迟中减除。
短路电感的时间延迟t(Δdelay),采用公式B-28计算可得。
利用公式a-18和a-21,即可进行数值拟合,多项式参数提取。
3.3 直通(Through)
直通转接器为标准的同轴传输线,需要计量内外径公差,测量驻波和特征阻抗的偏差。
精确计量以下参数即可:
a)偏移时延(ps),方法:计算,测量或仿真
b)插入损耗Insertion Loss, 测量或仿真
c)回波损耗 Return Loss 测量或仿真
3.4 宽频精密负载(load)
精密负载,
a)回波损耗 Return Loss 测量或仿真.需要测试调谐到最优。一般在宽频范围内需要调谐到RL≥30dB以上。
b)阻抗偏差:50Ω±0.2
c)平均功率:0.5W
精密宽频负载的,关键在于处理电阻的分布积分效应。可以采用三种基本的结构获得精密负载。
一种,采用非均匀分布式电阻膜片,电阻分布以指数分布
二种,采用均匀分布式电阻膜片,采用修正孔,等效提供电阻的指数分布
三种,采用柱状均匀电阻,通过改变外导体的直径,提供指数等效阻抗分布
以上结构,都可以通过精密仿真完成,一般实物还需要增加调谐螺钉.分布电阻的计算和仿真,参考文献[6].
4 2.4mm 公头校验件开路器设计制作
4.1 结构设计及仿真参数提取
图4 开路器内部结构
a.双端口仿真内导体时延S21_T0, 端口直接加在内导体末端
图5 开路器l0传输电磁仿真模型
图6 开路器l0传输群延迟group delay
b.单端口仿真S11_GD
S11_Δdelay=S11_GD-2*S21_Group_delay
图7 开路器电磁仿真模型
C-30
图8 开路器群延时GD 单位ns
4.2 最小二乘法,参数拟合
带入Excel三项式拟合,提取系数
图9 开路器电容拟合
表1 频率/时延/寄生电容数据表.....到50GHz数据省略
C0=22.468E-15;C1=1340.6E-27;C2=65.098E-36;C3=0.89635E-45
S21_Δdelay=19.546 ps
对比Keysight 85056 2.4mm校验件开路,我们由于介质支撑大,寄生电容波动大,性能略差。但我们的开路支撑更可靠。Keysight开路尾部支撑常常出现掉针的情况。
图10 Keysight 85066 开路器电容多项式拟合
5 2.4mm 公头校验件短路器设计制作
5.1 结构设计及仿真参数提取
图11 短路器内部结构
a.双端口仿真内导体时延S21_T0, 端口直接加在内导体末端
T0=0.0225367174 ns
图12 短路器l0传输电磁仿真模型
图13 短路器l0传输群延迟Group Delay
b.单端口仿真S11_GD
采用公式3-30,S11_Δdelay=S11_GD-2*S21_Group_delay
图15 短路器单端口群延迟Group delay
图16 短路器电容拟合
L0=0.10072E-12;L1=15.025E-24;L2=0.48813E-33;L3=-3.3487E-45
S21_Δdelay=22.5367 ps
表2 频率/时延/寄生电感数据表.....到50GHz数据省略
图17 Keysight 85066 短路器电感多项式拟合
对比Keysight 85056 2.4mm校验件短路器,仿真寄生电感波动小很多。这是由于公差和加工误差的原因,实际的器件参数要比仿真的波动大。因此,在实际拟合时,需要导入测试值更好。
6 2.4mm 公头精密负载
基于柱状精密金属膜电阻的容易获得,我们采用金属膜电阻来制造精密负载。负载的精度,决定了校验后的回波损耗的精度。基于参考资料[6]
c-31
ZF0——同轴中介质波阻抗,空气波阻抗377Ω,
R0—电阻总值,l0—电阻长度,α—电半径阻
通常,电阻尺寸越小,电阻分布效应越小频率越高。但为了进行调谐,我们需要增加电阻长度,提供调谐螺钉进行调谐。
图18 柱状电阻分布补偿[6]
图19 负载内部结构
图20 负载电磁仿真模型
图21 电磁仿真同实践测试结果对比(*实物通过了调谐)
7 结论和讨论
本文通过实际的工程实践,详细的讨论了网分仪检验件开路器/短路器/精密负载的数学模型,设计方法及软件技巧。通过精密电磁仿真,研究了开路电容,短路电感的特性及数学处理方法。通过仿真时延直接计算寄生电感/电容,比通过相位计算更为直接简单。本方法实用于所有的校验件设计及参数提取,为精密测试件提供了一种通用性的工程实践方法。通过2.4mm校验件开发实例,充分验证了我们的设计理论及工程方法的有效性。同时,发现一些问题还需要持续研究。一是短路器的寄生电感,在高频时某些频段仿真及测试会出现容性。二是实际校验测试中,同Keysight的校验差异还是比较大。关于校验件的计量本文还没有讨论。校验件的一般设计方法:
图22 实物照片[国昌公司]
1)设计/仿真,开路/短路器。开/短路器的群延迟最大化保持一致。
2)提取模型的S参数,计算相位及时间延迟。本文通过时延进行参数拟合,比相位更方便。
3)精密负载仿真及实物调谐。
4)输入校验参数到网分仪的校验设置。