高纯氧化铝中杂质元素的测定方法研究
2021-10-30张宗娥
张宗娥
(龙口东海氧化铝有限公司,山东 龙口 265700)
随着科学技术的发展,高纯氧化铝的需求量逐渐加大,对于纯度的要求也越来越高。目前,高纯氧化铝被广泛的应用在制作稀土荧光材料以及单晶材料上。同时,高纯氧化铝也作为制作航空功能器件、精密仪表和集成电路基板等的重要元件[1]。其中,高纯氧化铝中的杂质种类和含量,对于其使用上会直接影响其物理和化学性能。针对上述问题,本文利用电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化铝中的杂质元素,为氧化铝的测定提供更加合理的方法与技术。
1 实验准备
1.1 选择实验仪器与试剂
本次测定高纯氧化铝中的杂质元素选用电感耦合等离子体质谱法[2]。选择测定仪器,同时选择本次实验所需试剂,其主要仪器如下表1所示。
表1 实验主要使用仪器
实验准备的主要试剂有:盐酸;铝基体溶液;Mn、Ca、Ni、B、Si、Zn、Ti、Cu、Fe、Li、Cr、Mg,1ug·mL-1的高标准溶液。
1.2 确定元素分析线
在电感耦合等离子体质谱法的分析中,我们需要克服的主要问题之一就是光谱的干扰。在使用等离子光谱仪中,有一套TEVA的软件,在该软件中可以查询到各个元素多条的灵敏谱线,该软件也会给出在每一条分析线上可能产生干扰的元素谱线[3]。这就对测定高纯氧化铝中的杂质元素提供了极大的方便。利用TEVA软件,我们选取灵敏度高的元素谱线,同时尽量避开其他元素谱线的干扰。每个元素选择两条灵敏谱线,对着两条灵敏谱线进行扫描,然后选择元素间干扰最小的,或者是没有互相干扰的曲线[4]。下表为确定的元素谱线。
根据上述表2不同元素确定的元素谱线长度来保证实验过程中干扰最小,实验结果准确。
表2 不同元素确定的元素谱线长度
2 电感耦合等离子体质谱法测定氧化铝中杂质元素
2.1 高频功率对实验结果的影响
使用不同的高频功率,测定高纯氧化铝中的杂质元素,根据各元素的发射强度,分析信背比,确定功率的选择。ICPMS2000电感耦合等离子体质谱仪的输入功率最大为1500w,对试剂样品的应用范围一般在750w至1350w之间,所以我们选择四种功率进行实验,分别分750w、900w、1050w、1300w。下表3为在四种高频功率下待测元素的发射强度。
表3 四种高频功率下待测元素光谱线强度
根据上表3的数据,我们可以得知,从750w到1300w高频功率下,高频功率越高,供给能力则开始增大,待测定的元素分析线的强度增强。但同时根据表3数据,计算得出的信背比。如下图所示。
在高频功率越高的情况下,信背比越低。但高强度和高的信背比,都能够使得实验测定精度变高,因此,本此实验选择1050w的高频功率。
2.2 铝基体浓度对实验结果的影响
铝基体的浓度可以直接影响溶液粘度,进而影响溶液的雾化效率,导致元素谱线强度发生变化。
所以本次实验准备三组不同浓度的铝基体溶液,分别为1mg·mL-1、3 mg·mL-1和6 mg·mL-1。下表4为三组浓度下元素光谱强度。
根据上述表4的数据来看,铝基体的浓度对元素的光谱线强度会产生一定的影响,对发射强度存在不同程度抑制作用。
2.3 盐酸酸度对实验结果的影响
在进行实验室,溶液的粘度发生变化会影响溶液进样速率,表面张力发生变化会影响溶液的雾化效率,密度发生变化会影响溶液提升量发生变化,这些变化就会导致谱线的强度发生改变。而酸度就会影响溶液发生变化,所以本次实验选择五种不同的酸度的盐酸检测对谱线强度的影响。分别设定3%、6%、9%、12%以及15%浓度的盐酸。下表5为五种不同酸度溶液对元素谱线强度的影响。
表5 不同酸度下待测元素光谱线强度
从上表5数据来看,在不同的盐酸的酸度下,元素谱线强度有一定的变化,说明酸度对元素谱线的强度有一定的影响,但从数据看来,影响不大。
3 结语
本文使用电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化铝中的杂质元素。通过完整的实验,确定了高频功率、铝基体浓度和溶液酸度在测定杂质中存在的影响。根据实验结果,选择1050w的高频功率,保持试样溶液与标准溶液内铝基体浓度和酸度相同,测定出来高纯氧化铝中的杂质元素最为准确。