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硫酸铜分子结构及热变性的红外光谱*

2021-07-13卫羽萱贺璇儿李佳欣康怡然王晓萱于宏伟石家庄学院

上海计量测试 2021年3期
关键词:变温硫酸铜风化

卫羽萱 贺璇儿 李佳欣 康怡然 王晓萱 于宏伟/石家庄学院

0 引言

硫酸铜是一类重要无机铜盐,广泛应用在农业[1]、畜牧[2]、水产[3]、包装[4]、冶金[5]及电子[6]等行业。硫酸铜的广泛使用与其特殊的分子结构有关。根据文献报道[7],结晶水存在于硫酸铜分子中,水分子凭借其氧原子所带的阴电荷与金属阳离子(Cu2+)相结合。金属以这样的方式吸引水分子,其价层并未用到d轨道,因而金属原子与水分子之间没有形成πd键。在五水硫酸铜分子中,与Cu2+结合的6个氧原子中的4个氧原子来自水分子,其他2个氧原子来自于SO42-。每个Cu2+的第5个水分子不直接连接于Cu2+,而是用它的阴端与结合Cu2+的水分子形成2个羟基键,用它的阳端与来自SO42-的氧原子形成2个氢键。因此,五水硫酸铜容易风化为三水硫酸铜,在373 K的温度下,风化为一水硫酸铜,在523 K的温度下,进一步风化为无水硫酸铜[8]。中红外(MIR)光谱广泛应用于化合物结构研究领域[9-12],而变温中红外(TD-MIR)光谱则是一种较为新型的光谱技术[13-21],可以有效地开展化合物的热变性研究,而应用于硫酸铜研究的相关报道较少。因此,本文采用MIR光谱及TD-MIR光谱,分别开展了硫酸铜的结构及热变性研究,为硫酸铜应用及改性研究,提供了数据支撑。

1 实验部分

1.1 材料

硫酸铜(含有五个结晶水,分析纯,天津市百世化工有限公司生产)。

1.2 仪器

Spectrum100型傅里叶红外光谱仪(美国PE公司);GoldenGate型单次内反射ATR-FTIR变温附件和WEST6100+型变温控件(英国Specac公司)。

1.3 试验方法

红外光谱试验是以空气为背景,采用ATRFTIR变温附件直接测试硫酸铜分子结构。每次对于硫酸铜分子结构信号进行8次扫描累加;测温范围303~573 K(变温步长5 K)。硫酸铜分子的MIR及TD-MIR光谱数据采用PE公司Spectrumv6.3.5操作软件获得。

2 结果与讨论

2.1 硫酸铜分子的MIR光谱

在303 K的温度下,硫酸铜分子含有五个结晶水。首先采用一维MIR光谱,对于硫酸铜分子的结构进行表征(图1)。实验发现:3 166.50 cm-1频率处的吸收峰归属于硫酸铜分子中结晶水OH伸缩振动模式(vOH-303K);1 669.65 cm-1频率处的吸收峰归属于硫酸铜分子中结晶水变角振动模式(δH2O-303K);1 066.83 cm-1频率处的吸收峰归属于硫酸铜分子中SO4基团不对称伸缩振动模式(vasSO4-303K);981.59 cm-1频率处的吸收峰具有拉曼活性,其对应的红外吸收强度较弱,主要归属于硫酸铜分子中SO4基团对称伸缩振动模式(vsSO4-303K)。

图1 硫酸铜分子的MIR光谱(303 K)

2.2 硫酸铜分子的TD-MIR光谱

硫酸铜分子中的结晶水易于风化,但相关机理研究较少。因此,分别选择303~373 K(第一温度区间)、378~473 K(第二温度区间)和478~573 K(第三温度区间),采用TD-MIR光谱,进一步研究温度变化对于硫酸铜分子中结晶水结构的影响。

2.2.1 第一温度区间硫酸铜分子TD-MIR光谱

首先在第一温度区间内,开展了硫酸铜分子的TD-MIR的研究(图2),相关主要官能团TD-MIR光谱信息见表1。

表1 硫酸铜分子的TD-MIR光谱数据(303~373 K)

图2 硫酸铜分子的TD-MIR光谱(303~373 K)

在303~373 K温度区间,随着测定温度的升高,硫酸铜分子 vOH-第一温度区间和 δH2O-第一温度区间对应的吸收强度明显降低。这主要因为在303 K的温度下,硫酸铜分子含有五个结晶水,而随着测定温度的升高,硫酸铜分子中结晶水逐渐风化(图3)。而在373 K的温度下,硫酸铜分子主要含有三个结晶水。

图3 硫酸铜分子中结晶水风化机理

试验发现:硫酸铜分子vsSO4-第一温度区间对于温度变化比较敏感,在308 K的温度条件下,对应的吸收峰消失。因此,303 K温度下对应硫酸铜(五个结晶水)分子特征红外吸收谱带(表4)。而在373 K温度时,626.29 cm-1频率处新的吸收峰主要归属于硫酸铜分子中SO4基团不对称变角振动模式(δasSO4-第一温度区间)。因此,认为373 K温度下对应硫酸铜(三个结晶水)分子特征红外吸收谱带(表4)。

2.2.2 第二温度区间硫酸铜分子TD-MIR光谱

在第二温度区间内,开展了硫酸铜分子TDMIR的研究(图 4),相关主要官能团TD-MIR光谱信息见表2。

表2 硫酸铜分子的TD-MIR光谱数据(378~473 K)

图4 硫酸铜分子的TD-MIR光谱(378~473 K)

在378~473 K温度区间内,试验发现:随着测定温度的升高,硫酸铜分子 vOH-第二温度区间和 δH2O-第二温度区间所对应的吸收强度明显降低,其中硫酸铜分子δH2O-第二温度区间对应的吸收峰在408 K的温度条件下趋于消失。主要因为在第二温度区间内,硫酸铜分子的结晶水继续风化,而主要以硫酸铜(三个结晶水)和硫酸铜(一个结晶水)的混合状态存在。

2.2.3 第三温度区间硫酸铜分子的TD-MIR光谱

最后,在第三温度区间内,开展了硫酸铜分子TD-MIR的研究(图5),相关主要官能团TD-MIR光谱信息见表3。

表3 硫酸铜分子的TD-MIR光谱数据(478~573 K)

图5 硫酸铜分子的TD-MIR光谱(478~573 K)

在478~523 K的温度范围内,随着测定温度的升高,硫酸铜分子vOH-第三温度区间对应的吸收强度继续降低。主要因为在此温度区间内,硫酸铜分子的结晶水继续风化,而主要以硫酸铜(三个结晶水)和硫酸铜(一个结晶水)的混合状态存在。而523 K温度下,则对应硫酸铜分子(一个结晶水)特征红外吸收谱带(表4)。在523~573 K的温度范围内,随着测定温度的升高,硫酸铜分子vOH-第三温度区间对应的吸收强度则没有显著变化。在573 K的温度下,硫酸铜分子vOH-573K仍然具有较大的吸收强度,主要因为在此温度区间内,其更多的是以硫酸铜(一个结晶水)的状态存在。如果要得到无水硫酸铜分子的红外光谱,则需要更高的检测温度,由于受仪器检测温度限制,目前还无法得到有效的相关检测数据。

表4 硫酸铜分子特征红外吸收谱带

3 结语

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