发射光谱仪在地质样品分析中的应用探究

2020-11-23张向远

写真地理 2020年36期

张向远

摘要：科技的快速发展和进步，对于地质样品分析技术起到了很大的促进作用，但由于地质样品有着不同的地质条件和不同的地质构造要素，所以在地质样品分析过程当中，有关地质分析工作人员，不但要具备较强的地质样品分析理论知识，同时还必须要具备较强的实践经验，这样才能根据地质样品实际科学的选择相应的分析技术，提高地质样品分析效率与质量。基于此，下文将地质样品中银、锡元素分析作为对象，运用地质样品分析专用的AES-7200型发射光谱仪进行分析研究，缓冲剂选择焦硫酸钾、氟化钠、三氧化二铝和碳粉的混合物，锗作为内标元素，通过交流电弧发射光谱法，对地质样品当中的银、锡开展分析测定工作，使光栅摄谱仪的相板记录方式与洗相议谱、测光等操作环节被取代，工作效率大幅增强。

关键词：地质样品分析;专用发射光谱仪;交流电流发射光谱法;银;锡

【中图分类号】P632 【文献标识码】A 【DOI】10.12215/j.issn.1674-3733.2020.36.011

下文当中在地质样品银、锡元素分析测试过程当中运用，瑞利分析仪器公司的AES-7200地质样品专用发射光谱仪开展分析测试，缓冲剂主要运用焦硫酸钾、氟化钠、三氧化二铝和碳粉混合物等，内标元素为锗，通过交流电弧发射光谱法对地质样品当中的银、锡元素含量开展测定工作。这一方法的运用，使光栅摄谱仪分析测试过程当中洗像、议谱、测光等环节被省去，一次开展摄谱，通过计算机便能对样品含量直接的进行计算，并出具分析报告，这一方法准确度较好，有着非常高的精准度，而且操作非常简单，有效控制了成本投入，另外不会对环境造成较大污染，相较于同类分析手段发射光谱仪分析方法具有分析速度快，操作简便，成本投入低等各种优点，利用这一分析方法，开展了大量的地质样品分析工作，而且分析结

1 实验部分

1.1 仪器及工作条件

选择应用分析地质样品的专用发射光谱仪（AES-7200型）。电极规格，平头柱状是上电极主要特点，规格Φ4mm，长10mm。细颈杯状是下电极的主要特点，规格Φ3.8mm，孔深4mm，约为0.7mm的壁厚和Φ3.5mm细颈，为4mm长。运用18℃循环水控制水冷式电极，冷却循环水机为D6。采用交/直流电弧发生器作为光源，5A交流电起弧，预然5S后使其达到15A水平，运用30s的曝光时间。

1.2 缓冲剂及试样制备

运用的缓冲剂是由我国地质科学院地球物理化学勘查研究所所提供，缓冲器为专用的发射光谱试剂，三氧化二铝和氟化钠、焦硫酸钾以及碳粉是其重要组成。

制备样品，将试样过200目筛之后准确称取0.2000g，根据该量称取缓冲剂，并通过多头玛瑙混样机进行2min研磨，保证样品均匀的混合，并在下电极当中装入，选用20g/L蔗糖溶液滴入其中两滴，在90℃条件下进行烘干，以备试验所用。

1.3 标准系列

中国地质科学院地球物理化学勘查研究所，提供的專用合成基物主要用于发射光谱测定，同时和测定元素稳定氧化物在相应比例要求下，均匀的混合研磨。各元素在标准系列当中含量情况见表1。

1.4 实验方法

将试样以及缓冲剂分别进行0.2000g准确称取，通过研磨之后，充分混匀。并在下电极当中装入，选用20g/L蔗糖溶液滴入其中两滴，在90℃条件下进行烘干，将电极取出冷却之后，利用AES-7200光谱仪同时对电极和标准系列进行摄谱，依照标准系列，通过计算机对各个元素含量直接计算，并出具相应的报告。

2 结果与讨论

2.1 这一方法检出限分析

选择国家一级硅酸元标准基物和缓冲剂根据1：1的比例均匀的混合，同时开展测定工作，测定共平行12次，获得的结果通过三倍标准偏差，对其检出限进行计算获得的结果参见表2，不同元素检出限与DZ/T0011-2015地球化学普查规范相关要求相符合。

2.2 精密度实验

利用这一方法对于国家一级地球化学标准样GSD-2a中的Ag、Sn元素开展测定工作，确定工作开展过程，当中共进行12支平行测定，获得的数据结果参见表3。