亚硅氯化氢反应器氢化炉内件腐蚀研究分析
2020-09-24李丰梅邱守光
李丰梅,邱守光
(1.通标标准技术服务有限公司南京分公司, 江苏 南京 210014)
(2.江苏卓质诚工程管理有限公司,江苏 靖江 214599)
1 概述
氢化炉管件表面形成了非正常片层,片层厚度达到3-5mm,部分槽钢销子腐蚀掉落,初步怀疑内件在氢化炉内发生了严重腐蚀。
氯化氢反应器使用工况:
工作温度:5 5 0-5 6 0 ℃;工作压力:1.95MPa;工作组分:工作硅粉、四氯化硅、氢气、三氯化氢硅、二氯二氢硅、氯化氢、金属氯化物。
2 成分分析
将样品进行破碎,对母材进行抛光处理,通过直读光谱仪对样品进行成分测试,测试结果如表1,显示成分符合标准要求。
图1 母材光谱样品
表1 母材光谱分析结果
3 宏观观察
母材腐蚀产物出现不同程度的疏松层厚度,经测量腐蚀外层约2.92mm,内层约2.7mm,腐蚀后母材壁厚约为2.1mm,样品表面腐蚀物出现严重的脱皮、掉渣(图2),样品也出现了严重的分层现象(图3)。
图2 管件纵面
图3 管件横截面
4 金相及扫描电镜分析
对母材横截面进行金相分析,基体组织为铁素体,在铁素体晶界上出现了晶界偏聚,金相组织如图4、图6、图8,通过扫描电镜观察发现,在靠近母材内外壁均出现不同程度的晶界裂纹、晶界孔洞,如图5、图7、图9。
图4 内侧金相 200×
图5 内侧SEM 1000×
图6 外侧金相 200×
图7 外侧SEM 1000×
图8 中间金相 200×
图9 中间SEM 1000×
对晶界处进行能谱分析,能谱成分结果如图10、图11。
图10 正常晶界处能谱成分结果图
图11 晶界偏聚处能谱成分结果图
通过能谱分析结果可以发现晶界偏聚处的Cr含量比正常组织处的含量高,该元素能够促进杂质元素在晶界处的偏聚。
5 扫描电镜腐蚀产物分析
5.1 对氢化炉内件取长×宽为10×10mm的样品,腐蚀产物外表面、中间、内表面形貌如图12、图13、图14。
图12 外表面腐蚀产物形貌
图13 中间腐蚀产物形貌
图14 母材内表面腐蚀产物形貌
5.2 对腐蚀产物进行能谱分析
5.2.1 外层腐蚀产物能谱分析
对外层腐蚀产物进行能谱分析,结果如图15,除Fe基体外,Cl、Cr元素含量相对偏高。
图15 外层腐蚀产物能谱分析结果
5.2.2 中间腐蚀产物能谱分析
对中间腐蚀产物进行能谱分析,结果如图16,除Fe基体外,Cl、Cr元素含量相对偏高。
图16 中间腐蚀产物能谱分析结果
5.2.3 内表面腐蚀产物能谱分析
对内表面腐蚀产物进行能谱分析,结果如图17,除Fe基体外,Si、P元素含量相对偏高
图17 内表面腐蚀产物能谱分析结果
6 分析与讨论
(1)从母材光谱分析结果看,母材成分符合材料要求。
(2)宏观金相可以看出样品腐蚀产物存在脱皮、掉渣、严重分层现象,说明管子内外表面长期在高温下接触介质,高温脱碳氢化造成组织疏松,腐蚀严重。
(3)通过母材金相组织和扫描电镜分析,可以明显看到,基体组织为铁素体,基体组织在晶界处出现晶界偏聚、晶界孔洞。管子在450-650℃区间长时间停留,会引起材料的回火脆性,此类断口呈晶间断裂形貌。
(4)通过对腐蚀产物进行能谱分析可以看出,除Fe基体外,Cl、Cr元素含量相对偏高,内表面Si、P元素含量相对偏高。工作介质在高温情况下会对母材造成腐蚀,尤其硅粉中的P元素在这种高温条件下容易向晶界处偏聚,会削弱晶粒之间的结合强度,进一步增加回火脆性。钢中的Cr元素也会促进杂质元素在晶界的偏聚。
(5)高温条件下,管材在富含氢的腐蚀介质中长期运行,金相组织母材中出现的晶界孔洞也是氢致腐蚀的原因之一。同时氢的存在也会进一步加剧回火脆性。
7 结论
(1)管子长期在550-560℃高温下工作,在腐蚀介质的长期作用下(主要是氢化物以及硅粉中的P元素),引起材料的严重腐蚀以及回火脆性,母材组织出现晶界孔洞、晶界偏聚现象,由晶界处产生裂纹,使材料性能产生失效。
(2)内外表面长期在高温下接触介质,高温脱碳氢化造成组织疏松,腐蚀严重。
◆参考文献
[1] GB/T 4336-2016,碳素钢和中低合金钢多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法(常规法)[S].
[2] GB/713-2014,锅炉和压力容器用钢板[S].
[3] GB/T 13299-1991,钢的显微组织评定方法[S].