美法研究人员使用机器学习算法 提高微波成像准确性

近日，美國杜克大学与法国尼斯物理研究所研究人员使用机器学习算法改进微波成像，提高微波成像准确性，并降低计算时间和功耗需求。由于微波波长与常见物体外形尺度接近，衍射作用明显，因此不能使用类似于X射线的投影成像方法，只能采用更加复杂的基于逆散射的反演算法进行成像。借助机器学习算法，计算机可识别出传感器数据中的重要信息，从而更快拟合出准确图像。相比于传统成像技术需要千百次测量，新方法可在10次探测内准确成像。