数显测高仪测量不确定度的评定

徐建国

摘要：数显测高仪在几何量计量方面正发挥着重要的作用。本论文在数显测高仪校准过程的基础上，对数显测高仪测量值的不确定度评定过程进行了描述，对进一步提升数显测高仪的校准水平具有一定的借鉴和指导意义。

关键词：数显测高仪；不确定度评定；CMC

中图分类号：TH711 文献标识码：A 文章编号：1006-4311（2017）30-0192-02

1概述

①测量依据：JJF1254-2010《数显测高仪校准规范》。

②测量环境：量程≤500mm：温度（20±1）℃，温度变化≤0.5℃/h：量程>500mm：温度（20±0.5）℃，温度变化≤0.3℃/h。

③測量标准：量块，测量范围（0.5～1000）mm，4等。

④被测对象：分辨力为1μm，量程为1000mm的数显测高仪。

⑤测量过程：机械接触式方式直接测量，数显测高仪的测得值减去4等量块实际尺寸为该点的示值误差。

2不确定度来源

测量不确定度分量概述见表1。endprint