轻型颅脑损伤电生理研究及其在临床法医学上的应用

唐国栋

（莒县中医医院，山东日照 276500）

轻型颅脑损伤指的主要是单纯型的脑震荡，它是临床上常见的脑外伤类型。临床上多认为它是伤后出现的短暂性脑功能障碍。但如何对患者脑功能损害程度进行确认，在现今的临床医学上还无确切指标[1-2]，结果如下。

1 资料与方法

1.1 一般资料

将2015年2月—2017年2月本院收治的轻型颅脑损伤患者57例纳入本次研究，为实验组。将同时期来医院进行健康体检对象57例纳入本次研究，为对照组。对照组男女分别为28和29例，年龄18～62岁，平均年龄（32.65±2.14）岁。实验组男女分别为29和28例，年龄19～63岁，平均年龄（33.24±2.10）岁。经比较，两组研究对象的一般资料经组间比较无明显差异（P＞0.05），不具有统计学意义。

1.2 方法

（1）ABR测试

利用Nicolet Compact Four 电生理记录仪做实验所用的描记系统，TDH-39耳机选定80 BHL Click声展开刺激，频率设置20次/s，叠加1 000次后，分析20 ms，带通滤波选定为1000 HZ，患者静卧隔音室开展ABR描记。

（2）VEP测试

利用Nicolet Compact Four 电生理记录仪做实验所用的描记系统，由LED进行闪光刺激，光源设定为高亮度3×5模式红光，频率设置为1.9次/min，叠加100次，分析250 ms，带通滤波设置为80 HZ，双眼交替进行测试。

（3）BEAM测试

利用脑电图仪作为描记系统，与信号处理机连接。电极按导联10/20系统法放置[5]。高频滤波30 HZ，时间常数0.3，患者实施3 min过度换气后，有10 s清醒时间后进行描记采样。

1.3 诊断标准

上述开展的测试工作都按照对照组纳入的正常人检测值为标准，异常标准选用指标如下：（1）ABR：各主波潜伏期（PL）及峰间潜伏期（IPL）＞-2.5 s；同耳波幅V＜0.5，双耳波V振幅差异率＞50%，各波消失或波形都已经恢复正常。（2）LEDVEP：各波潜伏期＞ +2.6 s，波幅＜ -2 s。（3）BEAM：δ、θ平均功率均＞2.5 s。

2 结果

由表1可知，Ⅰ-ⅢIPL组间差异比较明显，提示Ⅰ-ⅢIPL延长是MHI患者中最常出现的ABR异常。据此认为，MHI排除了患者听觉系统病损坏外可能出现的所有ABR异常，也就是可以确切反应脑干出现的损伤，见表1。

表1 MHI患者ABR潜伏期与正常人比较（x±s）

3 讨论与结论

本次研究的开展是以临床诊断为主要依据，通过诱发脑电与自发脑电相结合方式，对患者进行早期检测及三个月之后的追踪检测。并根据此项结果提出了关于MH1脑功能性损伤程度的电生理分级标准。0级-头外伤后早期ABR、LED-VEP、BEAM检测正常，三个月后对患者ABR及BEAM进行复查，发现各项指标都恢复正常，提示患者的脑功能状态已经恢复正常。Ⅰ级-头外伤后早期检测三项中发现其中一项出现异常，三个月后对患者进行复查，发现ABR及BEAM均正常，提示患者脑功能已经恢复正常。根据本次研究得出的结果，建议在对这类患者进行的法医鉴定中，将分级标准中的0-Ⅰ级设定为轻微伤，将Ⅱ级设定为轻伤。综上所述，通过对MHI电生理变化特征进行了揭示，有助于临床上对患者的诊断以及对患者开展的预后判断，并以此为法医评定这类损伤提供具体依据。

[1] 秦燕，周顺科，刘军.多种MRI技术在轻型颅脑损伤中的应用研究进展 [J]. 磁共振成像，2015，603：235-240.

[2] 李晋，左超，刘云阳，等.磁共振扩散张量成像对轻型颅脑损伤患者评价的临床应用[J].磁共振成像，2015，604：271-276.