基于Innography平台的高功率半导体激光器专利分析

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〔摘要〕本文利用Innography专利检索与分析平台，对高功率半导体激光器专利进行检索，并对检索结果进行核心专利分析、可视化分析及引证分析等，得出了全球高功率半导体激光器专利技术的发展研究概况，供该领域研究人员借鉴和参考。

〔关键词〕Innography；专利检索；专利分析；专利情报；高功率半导体激光器

DOI：10.3969/j.issn.1008-0821.2015.10.024

〔中图分类号〕G25553〔文献标识码〕A〔文章编号〕1008-0821（2015）10-0128-06

Research on High Power Semiconductor Laser Based on

Innography Patent Retrieval and Analysis PlatformHao YiWang DaizunDai Lei

（Institute of Scientific and Technical Information of Jilin，Changchun 130033，China）

〔Abstract〕Based on Innography patent retrieval and analysis platform，the paper retrieved high power semiconductor laser patents，and proceeded core patent analysis，visualized analysis and citation analysis on obtained results，which enabled to acquire the development and research situation of global high power semiconductor laser.The paper aimed to provide references to counterparts.

〔Key words〕Innography；patent retrieval；patent analysis；patent intelligence；high power semiconductor laser

高功率半导体激光器以其广阔的应用前景和巨大的潜在市场而成为各国竞相追逐的热点。目前高功率半导体激光器所面临的主要问题是激光器的低性能，即激光器的输出光功率和转换效率偏低，可靠性和稳定性、一致性差等问题，这在很大程度上限制了其实际应用。高功率半导体激光器的性能除跟外延材料有关以外，还跟激光器的散热、封装有关。要获得高稳定性、高可靠性、高功率半导体激光器就必须设计制作高质量激光阵列条和高效散热结构，同时为了便于广泛应用，封装结构必须简单、高效、低成本。然而我国的高功率半导体激光器（大于200W）的研制一直无法达到国际先进公司（Jenoptik、Nlight、SDL等）的技术水平。本文以促进高功率半导体激光器国产化水平为出发点，分析了高功率半导体激光器的专利发展态势。

1Innography专利检索与分析平台概述

Innography是Dialog公司旗下最新的专利检索与分析平台，可检索和获取包含90多个国家和地区的同族专利、法律状态和专利全文；收录了超过8 000多万件全球专利数据；同时还包括了邓白氏商业数据、美国专利诉讼数据和美国商标数据[1]。Innography实现了专利检索和商业智能分析工具高度整合，其简单明了地为用户展现了技术全景图和对其中专利强度的自动标引，使技术领域的竞争情报更加可视化的呈现在用户的面前，在专利信息的利用过程中发挥了重要的作用。Innography专利检索与分析平台的功能主要包括：全球首创专利强度（Patent Strength）指标能快速分离出高价值专利；同时对专利气泡图、热力图、专利聚类分析等图的创新，能让科研人员快速有效地了解技术差距和发展方向；另外，Innography还可以进行专利无效检索与侵权检索以及独创的诉讼专利检索与分析。

2高功率半导体激光器专利分析

本文以高功率半导体激光器为研究对象，在Innography专利平台进行检索与分析研究。从Innography[2]数据库检索到高功率半导体激光器极其相关专利2 379件，由438个组织机构、2 969个发明人完成，涉及到了75个IPC小组，专利申请在33个国家和组织内实施，检索时间为2015年1月17日，检索式为：（@title（″semiconductor laser′～4 OR ″laser diode″～4 or ″diode laser″～4 OR ″semiconductor diode″ OR ″junction laser″））and（@title（high power）or（high bright*）or（high efficiency）or waveguide OR passivation OR packaging OR bonding OR ″beam shap*″ OR ″beam combination″ OR ″beam transform″）。

2015年10月第35卷第10期现？代？情？报Journal of Modern InformationOct，2015Vol35No102015年10月第35卷第10期基于Innography平台的高功率半导体激光器专利分析Oct，2015Vol35No1021基于专利强度的核心专利分析

专利强度是Innography独创的专利评价新指标[3]，是Innography的核心功能之一，其来自于加州大学伯克利分校及乔治梅森大学的最新研究成果。其作用是帮助用户快速有效地寻找核心专利。endprint