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菲涅耳双棱镜干涉实验的误差改进

2014-09-21姚雪都进学王全武

关键词:棱镜透镜条纹

姚雪 都进学 王全武

(重庆科技学院数理学院,重庆 401331)

利用光的干涉、衍射原理进行光波波长测量实验时,通常误差较小,一般能控制在3%以内。目前菲涅尔双棱镜干涉测钠黄光的波长实验实验误差却偏大,一般只能控制在5%以内。本次研究目的是提高测量精度,降低实验误差,改该实验效果。

1 菲涅耳双棱镜干涉实验测波长原理

菲涅耳双棱镜干涉实验测波长作为大学物理的基本光学实验之一,简单易懂,实验现象良好。菲涅耳双棱镜干涉实验是利用双棱镜界面的两次折射,将单缝s发生的光波阵面分成沿不同方向传播的两束光,这两束光相当于由虚光源s1、s2发生的两束相干光,在它们相重叠的空间区域内产生干涉。该区域中均可得到明暗交替的干涉条纹。实验原理如图1所示。

图1 菲涅耳双棱镜干涉实验原理图

图2 菲涅耳双棱镜干涉实验简化光路图

根据干涉理论Δ=Kλ,为亮条纹,因此可推得亮条纹位置满足以下关系:

暗条纹位置则满足关系:

由式(1)、(2)可看出,任何两条相邻的亮条纹(或暗条纹)之间的距离即干涉条纹间距为:

所以计算光波波长的原理公式为:

只需要测出l、D和σx,就能根据式(4)来计算光波波长。

2 菲涅耳双棱镜干涉实验测波长的不足

计算光波波长的原理公式非常经典,简单可测。大多数高校在该实验中采用一次成像法计算l,平值法测σx,对D采用了近似相等的取值,无疑增大了系统误差。

(1)D采用近似间接测法。以狭缝平面代替虚光源平面,以狭缝底座上的标线代替狭缝平面位置,用狭缝平面与观察屏的距离代替D。这种近似方法存在狭缝与虚光源并不共面的系统误差。即使D自身足够大时,狭缝平面与虚光源平面相差很小,所含系统误差可忽略。但狭缝与其底座上的标线也不共面。另外观察屏位置无法直接测量,具体计算D时,用狭缝平面与目镜距离减去厂家所设目镜到观察屏距离,进行间接计算,同样会增大其系统误差。

(2)l的数值一般采用一次成像法计算。即保持狭缝、双棱镜和测微目镜位置不动,在双棱镜和观察屏之间放上透镜L,调节L使得在读数显微镜中出现清晰的像 s′1、s′2,记下缝、双棱镜、透镜 L 以及测微目镜的位置。测出 s′1、s′2之间的距离 l′。根据透镜成像光路得,故只要求出 a、b 值,读数显微镜测出l′,就可算出l。此方法简单,但同样用狭缝到透镜距离代替物距a,使a、b的值仍然存在较大的近似性,导致l的测量出现误差。

(3)测量干涉条纹间距σx,采取连续读出8σx或者10σx的宽度,然后求出平均值的方法计算。满足D>4f时,干涉条纹清晰可见,但光强原因导致亮度较暗,在连续数多条条纹间距时非常容易出错,会导致较大的系统误差。

3 实验优化措施

针对以上产生误差的原因,通过大量翻阅资料并进行推算,找出减小误差的具体理论计算公式及相应的测量方法。

(1)两虚光源间的距离l以及虚光源到屏的距离D理论计算公式推导。图3所示为凸透镜二次成像的光路图,其中透镜处于I位置时成像物距为u1,像距为v1,处于Ⅱ位置时成像物距为u2,像距为v2,透镜焦距为f,透镜I、Ⅱ位置的距离为D1。下面利用二次成像推导的虚光源间距离l的计算公式。

图3 二次成像光路图

当透镜处于Ⅰ位置成像时,有:

根据空气中的高斯公式得:

当透镜处于位置Ⅱ成像时,有u2=D-v2,根据空气中的高斯公式可得二次成像时的焦距:

同一透镜焦距f相同,由式(5)、(6)可得

对于虚光源s1,结合式(7),有

对于虚光源s2,有:

由式(8)、(9)两式相乘可得:

下面利用以上结论推导D确切计算公式

由式(8)、(9)两式相除可得:

结合式(7)(10)可得

由此可见,采用二次成像法,只要测出 l1,l2,D1,便能较为准确地求出l和D。

3.2 逐差法计算σx

条纹间距为等间距,实验中都能调出15个左右的条纹间距。为了克服连续多个条纹间距容易数错的问题,我们可以采用逐差法计算以减小误差。具体做法是:克服回程差后,向着同一个方向每2个条纹读一次其位置坐标,连续读出6组数据,记为k1,k2,k3,…,k6。用逐差法计算:

4 实验数据实例对比分析

当调试好满足条件的干涉条纹后,固定狭缝、双棱镜、测微目镜的位置分别分别为133.00、122.30、32.63 cm。二次成像的透镜位置分别为76.25、47.78 cm。虚光源间距离l以及条纹间距σx的测量数据分别如表1、表2、表3。

表1 二次成像法测量数据 mm

显然,根据改进前的计算方法,由表1、表2可得:

表3 逐差法测量条纹间距σx mm

根据改进后的推导公式及二次成像法,由表1、表3可得:

根据改进后的公式和方法多次进行测量,数据对比分析发现误差均较改进前小,并且改进后误差基本能控制在1%以内。由此可见,该方法对减小误差有一定的参考意义。

5 结论

(1)采用二次成像法,可直接用读数显微镜较准确地测量l1、l2,根据公式计算两虚光源间距离l,从而可提高l的精确度。

(3)多次读数,用逐差法计算σx,可有效降低读数误差。

将以上理论分析应用到实验当中,测出l、D和σx,代入原理公式计算出光波的波长。经多次测量,相对误差均可以控制在1%以内。

实验中,在二次成像法成放大像时测量像距,遇到了困难,像找不到。分析发现其原因,D大于4f虽然都能二次成像,但当D过大,会导致成放大像时两虚光源成像的距离l2过大,超出了读数显微镜的范围,不便测量。D过小,两次成像的透镜距离过小,不便测量,且增大了D1的误差。经过反复实验发现,D只略大于4f就行了。当透镜焦距等于190 mm时,狭缝和显微镜的距离为100~110 cm时效果较好,不会出现上述问题。

[1]葛松华,唐亚明.菲涅耳双棱镜干涉实验中虚光源位置的讨论[J].大学物理实验,2011(2):56-57.

[2]唐海燕.大学物理实验[M].北京:国防工业出版社,2010:192-196.

[3]洪丽.菲涅耳双棱镜干涉实验中凸透镜的成像[J].海南师范学院学报,2007(1):48-49.

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