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电镀填盲孔取消闪镀直接填铜工艺研究

2014-01-13李志丹陈世金胡文广邓宏喜李云萍

印制电路信息 2014年12期
关键词:盲孔印制电路电镀

李志丹 陈世金 胡文广 邓宏喜 李云萍

(博敏电子股份有限公司,广东 梅州 514768)

1 引言

在传统的印制电路板的生产中,在钻孔、化学沉铜后,往往采取闪镀后再进行电镀。而闪镀生产线与填孔电镀线往往不是同一条线,这样不仅增加了成本,浪费了时间,还使得生产流程变得繁琐,影响了生产效率。

通过试验探索了取消闪镀采取直接电镀的填孔方式,采用正交表L16(45)安排了不同介质厚度、浸酸时间和浸酸浓度三因素进行电镀试验,对电镀填孔率的分析以及产品的可靠性的测试得到了最优的填孔参数,以供业界同行进行参考和应用[1]-[4]。

2 实验部分

2.1 实验材料与仪器

试验材料:FR-4双面覆铜箔板(介质厚度为50 μm、60 μm、70 μm、80 μm),养板槽、浓流酸(AR)、某公司的沉铜药液、某公司填孔药水。

仪器与设备:CO2激光钻孔机、宇宙水平棕化线、垂直沉铜线、填铜线、切片研磨机、金相显微镜。

2.2 实验步骤

开料→烤板→减铜→棕化→CO2激光钻盲孔→高压清洗 →垂直沉铜→填孔电镀→金相切片。

2.3 电镀直接填铜试验

用正交表L16(45)安排正交试验,选取介质厚度、浸酸浓度、浸酸时间三个因素进行电镀试验。每个因素取四个水平[8],如表1所示。正交试验安排如表2所示。

2.4 VCP线直接填铜

直接填铜制作前化验药水浓度为(CuSO4·5H2O 230 g/L、H2SO422 ml/L、Cl-50ppm、某公司添加剂A 18 ml/L,B 1.2 ml/L,C 15 ml/L,控制电流密度2.0 A/dm2,喷流循环250 mL/L、温度为22 ℃的条件下电镀60 min进行加工制作[5][6].

3 实验结果与分析

3.1 正交试验安排与结果

完成试验前期准备工作,安排三因素在同样的电镀参数和药液浓度的前提条件下进行电镀试验,选取电镀填孔率为实验指标进行考量得出分析结果[7]。并对结果进行可靠性验证。表3为实验结果分析。

表1 电镀试验因素—水平表

表2 直接电镀填铜正交实验安排表

3.2 正交实验小结

表3 直接填铜实验结果及极差分析

试验后对盲孔的填充率进行分析可以得知,对盲孔填充率影响最大的试验因素为浸酸时间,对盲孔填充率影响最小的实验因素为浸酸浓度。三因素对试验结果的影响大小顺序是:浸酸时间>介质层厚度>浸酸浓度。试验的指标-因素图如图1所示。由图中结果可知,取消闪镀直接填孔工艺中,最佳的浸泡参数为:A2B1C1,即介质层厚度为60 μm,浸酸浓度为1.0 ml/L,浸酸时间为4 h。对于最佳参数,上述实验中没有出现,于是对本试验做一次验证实验。结果发现,在最佳参数下,电镀填盲孔的填充率为2.6 μm这一结果比上述实验中的最佳值要好,说明本次试验得到的结果为取消闪镀直接填孔的最佳参数。最佳参数下盲孔填充的截面图如图2所示。

图1 三因素对试验结果的影响大小

表4 产品可靠性测试及结果

图2 最佳参数下盲孔填充截面图

浸泡液中尽管含有一定浓度的硫酸,但仍不可避免的会有氧气存在,PCB板在浸泡时铜表面可能会与氧气接触并发生反应,浸泡的时间越长,反应进行的程度越大,铜面被氧化的程度越严重;在硫酸存在时氧化铜会与硫酸发生反应生成硫酸铜并溶解在浸泡液中,并露出了新鲜的铜表面使得铜面氧化反应加剧,故浸泡液酸度越高,铜面氧化程度越严重。

3.3 产品可靠性测试

上述得到了取消闪镀直接填孔的最佳浸泡参数,但是得到的产品是否可靠还是一个未知数。为验证这个问题,进行了产品可靠性测试,测试内容及结果如表4所示。产品的热应力、热冲击、回流焊、可焊性测试的结果均合格。因此从产品的可靠性上讲,取消闪镀直接填孔是完全可行的。

4 结论

通过正交试验得出取消闪镀直接填铜的最优参数,对试验过后的产品进行热应力测试、热冲击测试、回流焊测试、可焊性测试未发现任何品质异常。

此次进行优化试验使填孔电镀更加简单,减少以往闪镀加工流程同时确保了生产可观运行。取消闪镀直接填铜将更有效提高生产效率,降低生产成本,取得更好效的经济效益。

[1]宁敏洁. HDI印制板通孔电镀和盲孔填铜共镀技术研究[J]. 印制电路信息, 2012(S1).

[2]熊海平. 垂直电镀线盲孔和通孔同步电镀工艺[J].印制电路信息,2009(06).

[3]Mark Lefebvre, George Allardyce. Copper electroplating technology for microvia filling[J].Circuit World,2003 (2).

[4]曾曙, 张伯兴. 电镀填孔工艺影响因素之探讨[J].印制电路信息,2005(09).

[5]吴云鹏. 盲孔电镀问题分析与改善[J]. 印制电路信息, 2011(04).

[6]刘小平,唐有根,王海波. 电镀铜添加剂的合成及其电化学性能[J]. 电镀与精饰, 2009(02) .

[7]蔡积庆. 电镀铜导通孔填充工艺[J]. 印制电路信息, 2006(08).

[8]何为. 优化试验设计法及其在化学中的应用[M].电子科技大学出版社,1994.

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