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信号完整性测量技术

2013-01-30孙灯亮

中国科技信息 2013年21期
关键词:安捷伦误码率完整性

作 者:孙灯亮

出 版 社:上海交通大学出版社

出版时间:2013-08-01

ISBN:9787313100283

所属分类:

图书 > 电子与通信 > 通信

《信号完整性测量技术》从理论和实践的角度,综合介绍了信号完整性测量相关的问题。内容包括:高速信号测量技术、互连通道测量技术、接收机测量技术、电源完整性测量技术、信号完整性仿真技术五大部分内容。同时详细介绍了相关仪器的工作原理和技术要点,包括数字示波器、矢量网络分析仪、频谱分析仪、阻抗分析仪、误码率分析仪。

《信号完整性测量技术》从理论和实践的角度,综合介绍了信号完整性测量的相关专题。内容包括:高速信号测量技术(主要是抖动和眼图);互连通道测量技术(主要是背板和电缆);接收机测量技术(主要是工业标准接口和总线);电源完整性测量技术(主要是供电网络和直流转换器);信号完整性仿真技术(主要是信号完整性仿真要点和方法)五大部分内容。同时详细介绍了相关仪器的工作原理和技术要点,包括:数字示波器、矢量网络分析仪、频谱分析仪、阻抗分析仪、误码率分析仪。

《信号完整性测量技术》适合从事电子工程和通信工程领域的数字系统研发和测试的工作者,以及大专院校电子工程、通信工程、电子测量与仪器仪表等专业的师生参考。

孙灯亮,1999年毕业于西安电子科技大学。2003年底加入安捷伦科技(中国)有限公司,负责电子测量仪器和方案的技术咨询工作。加入安捷伦之前曾在华为技术和联想电脑,负责技术研究和产品开发工作。

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