一种用于X射线荧光光谱分析硅铁合金成分的分析方法

公开号：CN102156142A公开日：2011.08.17

申请人：马鞍山钢铁股份有限公司

本发明公开了一种用于X射线荧光光谱分析硅铁合金成分的分析方法，其中的制样方法为：选择合适的氧化剂；在铂金坩埚中加熔剂，将铂金坩埚放入高温炉中，熔剂高温熔融，制成熔剂打底挂壁的熔剂坩埚；将硅铁合金测试样品、熔剂和氧化剂混合后，倒入熔剂坩埚中，上面覆盖一定量的混合熔剂；将装有硅铁合金测试样品、熔剂、氧化剂和混合熔剂的熔剂坩埚放入高温炉中，先在低温下预氧化，然后移入高温区，高温熔融制成用于X射线荧光光谱分析的硅铁合金测试样品玻璃样片。上述技术方案使得制成的玻璃样片中元素分布均匀，无颗粒效应，可长期保存；操作方法简单、安全、样片制备时间短，实现了同时进行硅铁合金中主次量元素的快速准确的测定。