钙钛矿X射线探测器电流漂移研究

中国科学院上海光学精密机械研究所邵宇川研究员团队，基于脉冲电压法提出了对钙钛矿器件偏压下电流漂移现象的理解，并实现X射线探测器件在高偏压下的稳定探测性能。相关成果发表于《ACS光子学》（ACS Photonics）。金属卤化物钙钛矿作为最具潜力的X射线探测材料之一，其光电性能已大幅超越传统半导体材料，但是电场下的稳定性严重限制了其在商业上的应用。新研究通过脉冲电压法研究器件在电场作用下的电流漂移现象，发现随着等待时间的加长，电流漂移逐渐从正向渐增漂移变为负向渐减漂移，并逐渐趋近于零漂移，且在不同电压下呈现负向漂移的饱和现象，这一现象与钙钛矿材料的“软”晶格特性紧密相关。