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电子工业气体氧化亚氮中C2烃杂质分离技术研究

2022-07-04孙晓丽宋祥坤赵家有

低温与特气 2022年3期
关键词:乙烷乙炔乙烯

孙晓丽,罗 旭,宋祥坤,常 琳,赵家有,金 炜

(中昊光明化工研究设计院有限公司,辽宁 大连 116031)

1 前 言

氧化亚氮是一种无机气体,有轻微麻醉作用,并能致人发笑,因此又称笑气。广泛应用于麻醉剂,助燃剂,火箭氧化剂等领域。随着科技水平的提高,电子工业得到高速发展,其对应配套设备、原材料等相关技术指标也在逐年提高,氧化亚氮的应用范围也渐渐扩大到了电子工业领域。但因对其极高的纯度要求,因此各项杂质指标也需要进行严格控制[1],其杂质的分析检测难度也大大提高,本文主要针对烃杂质中C2烃的分析方法进行了实验探究。

2 仪器设备

2.1 标准气体

标准气体1以氮气为平衡气,是由中昊光明化工研究设计院有限公司配制的甲烷、乙烷、乙烯、乙炔含量分别为1.00、1.20、1.10、1.09 μL/L的4组分混合气。

标准气体2以氮气为平衡气,是由中昊光明化工研究设计院有限公司配制的甲烷、乙烷、乙烯、丙烷、丙烯、异丁烷、正丁烷、乙炔、异戊烷、正戊烷含量分别为0.992、1.25、1.09、1.02、1.02、1.05 、1.04、1.01、1.01、0.994 μL/L的混合气体。

标准气体3以氧化亚氮为平衡气,是由中昊光明化工研究设计院有限公司配制的乙烷、乙烯、乙炔含量分别为1.17、1.15、1.10 μL/L的3组分混合气。

2.2 实验仪器与设备

仪器1为GAS-D030型气相色谱仪,配有氢火焰离子检测器,GDX-104色谱柱,色谱柱前切割功能,中昊光明化工研究设计院有限公司。

仪器2为GAS-D030型气相色谱仪,配有氢火焰离子检测器,三氧化二铝色谱柱,中昊光明化工研究设计院有限公司。

2.3 仪器条件

2.3.1仪器1具体条件

载气:99.999%氮气,表压:0.04 MPa;氢气:99.999%氢气,表压0.06 MPa;空气:洁净空气,表压0.11 MPa;柱箱温度:50℃,检测器温度130℃,切割时间:1 s,复位时间:80s;色谱柱:2 m×4 mm,80~100目,GDX-104不锈钢色谱柱;定量管:1 mL。

2.3.2仪器2具体条件

载气:99.999%氮气,表压:0.1 MPa;氢气:99.999%氢气,表压0.1 MPa;空气:洁净空气,表压0.1 MPa;柱箱温度:80℃,检测器温度130℃;色谱柱:2 m×4 mm,80~100目,三氧化二铝不锈钢色谱柱;定量管:1 mL。

3 实验部分

目前对于气体中烃杂质的分析使用最多的是三氧化二铝色谱柱和GDX-104色谱柱,因此本次试验主要使用这两种色谱柱进行研究。

3.1 三氧化二铝色谱柱分离C2烃类杂质研究

由于电子工业气体氧化亚氮对烃杂质的检测限要求极为严格,所以优先选用分析较快、灵敏度较高的三氧化二铝色谱柱进行实验。

图1为仪器2使用三氧化二铝色谱柱在80℃柱温条件下,电子氧化亚氮气体的进样谱图。氧化亚氮主体进入检测器,在0.5~1.5 min产生信号峰。

图1 氧化亚氮在三氧化二铝色谱柱谱图

图2为仪器2使用三氧化二铝色谱柱在80℃柱温条件下,标准气体2进样谱图。其中甲烷、乙烷、乙烯、丙烷、丙烯、异丁烷、正丁烷、乙炔对应的保留时间依次为0.390、0.588、0.787、1.192、2.349、2.785、3.220、4.609 min。

图2 标准气体2在三氧化二铝柱谱图

由图1和图2可以看出,使用三氧化二铝色谱柱在80℃柱温条件下,氧化亚氮主体信号峰时间与C2烃中乙烷、乙烯两组分的保留时间重叠,干扰检测,后通过改变柱温,调整载气流速等均无法改变现状。

3.2 GDX-104色谱柱分离C2烃类杂质研究

由于氧化亚氮主体信号峰时间与C2烃中乙烷、乙烯两组分的保留时间重叠,无法通过切割排空的方式排除氧化亚氮主体,所以更换GDX-104色谱柱进行实验。

图3为仪器1使用GDX-104色谱柱在50℃柱温、无切割条件下,电子氧化亚氮气体进样谱图。氧化亚氮主体进入检测器,在1~1.5 min产生信号峰。

图3 氧化亚氮在GDX-104柱谱图

图4为仪器1使用GDX-104色谱柱在50℃柱温、无切割条件下,标准气体1进样谱图。其中甲烷、乙烯+乙炔、乙烷对应的保留时间依次为0.740、1.703、2.263 min。

由图3和图4可以看出,使用GDX-104色谱柱在50℃柱温、无切割条件下,氧化亚氮主体信号峰时间与C2烃中乙烯、乙炔两组分的保留时间基本错开,可以与乙烷完全分离。

为了避免检测限降低,不宜通过降低柱温、载气流速等方法提高分离度,所以使用切割排空的方法排除氧化亚氮主体,避免低含量乙烯和乙炔出现在氧化亚氮信号峰尾影响实验结果。

图4 标准气体1在GDX-104柱谱图

图5 氧化亚氮在GDX-104柱切割谱图

图6 标准气体3在GDX-104柱切割谱图

由图5和图6可以看出,使用GDX-104色谱柱在50℃柱温,前切割条件下,氧化亚氮主体在进入色谱柱前被切割排除,不再出现较大的信号峰,较小的切割信号峰不干扰乙烯和乙炔的检测,标准气体出峰良好。根据图5的1.647 min附近的噪音峰高和图6的1.663 min峰高和2.230 min峰高,计算仪器最低检出限为0.01 μL/L(以甲烷计),完全满足国家标准和厂家要求。

4 结 论

经过实验论证发现三氧化二铝色谱柱在分离烃类组分时,在分析时效方面与GDX-104色谱柱相比有一定优势,可是当以氧化亚氮主体为分析对象时,由于氧化亚氮信号峰的干扰,使C2烃检测成为难题。更换GDX-104色谱柱进行分析实验,通过对最低检出限和分离效果的研究,结合气相色谱仪的前切割技术,完美的解决了电子气体氧化亚氮中C2烃类要求的高标准检测难题。

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