勘误声明
2021-04-05
电子元件与材料 2021年5期
电子元件与材料杂志社在此声明:对在《电子元件与材料》 上发表的论文《硫酸对铝箔交流腐蚀影响机理的研究》 (作者:吕根品,闫小宇,方铭清,黄宏亮,肖远龙,2021 年40 卷4 期,页码为344-349,DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2021.1728) 印刷版进行勘误。
勘误内容:将原文页脚处“基金项目:国家自然科学基金(11461063);新疆维吾尔自治区自然科学基金(2017D01A24);新疆财经大学基金(2019XTD002) ”内容删除;将原文“通信作者:李国东,教授,博士,研究方向为非线性电路与系统。E-mail:lgdzhy@126.com”修改为“通信作者:肖远龙,高级工程师,博士,研究方向为电极铝箔开发。E-mail:xiaoyuanlong@hec.cn”。
特此告知,并诚挚地向读者致歉。
