提高管道内窥检测数据处理效率及方法

闫海龙

【摘要】随着科技水平的不断进步，管道内窥检测处理系统在20世纪50年代应运而生，到80年代技术基本成熟，能够全面准确的了解管道内部状况，从而更科学的制定管道内窥的养护方案！针对于本文将针对如何提高管道内窥检测数据处理效率及方法做出重要阐释！

【关键词】管道内窥；检测数据；效率；方法

1、管道内窥检测发展概述

管道内窥检测是进行修复和合理养护的前提，目的是了解管道内部状况。根据管道内部状况，可以确认管道是否需要修复和修复应采用何种工法，可以科学地制订养护方案。

对于人员可以进入的大管径管道，从经济上考虑，可以派施工人员直接进入管道内部检查记录。而对于人员无法进入的管道，必须采用其他方法。现今使用最普遍的检测工具和手段就是管道闭路电视检测系统（Closed-Circuit Television，简称CCTV），它是专门应用于地下管道检测的一种工具。该系统出现于20世纪50年代，到該世纪80年代此项技术基本成熟。

2、内窥检测技术

管道内窥检测技术目前主要是以CCTV检测为主，某些情况下CCTV不具备检测条件时，也可采用QV检测或声纳检测。

CCTV检测仪装备有最先进的摄像头、爬行器及灯光系统，完全由带遥控操纵杆的监视器控制，操作简单，移动方便。可以进行影像处理、记录摄像头的旋转和定位。具有高质量的图像记录和文字编辑功能。其主要工作部分为一部四轮驱动的摄像小车和一台计算机。根据不同管径，可以选用不同型号的CCTV。通过它能够将管道中的情况一览无余。

3、新的数据处理方法

管道内窥检测外业完成以后，需要对采集的影像进行数据处理，目前所购买的仪器一般都自带有简单、通用的数据处理软件，这些软件在处理影像、缺陷判读方面基本可以满足要求，但处理效率相对较低，还受使用终端数量限制，不能发挥多数人的作用，分析和评估计算繁琐，数据统计工作量大，因此，为了解决在项目实施过程中处理数据效率低的问题，结合现场数据采集的特点，研发了一套内窥数据处理软件，提高了内业资料处理效率。

管道内窥检测数据处理软件的主菜单，主要功能包括工程管理、数据导入、数据处理、数据导出等。

3.1 系统环境

（1）操作系统：Windows XP或Windows7（32位）系统

（2）开发语言：Visual Basic 6.0

（3）辅助软件：办公软件Office 2003最佳，要求必须安装Word、Excel和Access。

3.2 数据采集录入

数据在Excel平台录入，操作简单、方便、应用广泛，绝大部分人都可以完成，不受软件平台限制。

3.3 数据导入与处理

数据导入时只需要通过路径找到录入的检测记录文件，一次可以同时导入多个Excel文件，还可以对特殊字段内容进行批量导入，导入方法简单、易于操作。

数据处理功能包括更新缺陷分值、更新缺陷描述、充填统计表有缺陷底色、充填成果表缺陷描述底色、过滤缺陷成果表<序号和★>，更新缺陷分值是为下一步计算和评估做准备，且分值是按规范替换，不会产生人为错误。充填底色目的是为了美观导出的统计表和成果表，通过不同颜色区分缺陷等级。

3.4 数据导出

数据导出包括导出缺陷成果表、缺陷统计表、缺陷评估表和缺陷汇总表四个内容，如下图

（1）导出缺陷成果表

缺陷成果表导出菜单，导出的缺陷成果表的缺陷照片，系统将根据窗口左边参数设置的图片路径自动获取缺陷点所对应照片编号，将照片自动插入到成果表中。另外，成果表还可以按预先录入的道路信息选择是否按不同道路名称分别生成独立的成果表。按道路名称生成的成果表，便于业主使用。

（2）导出缺陷统计表

导出的缺陷统计表可按道路名称分别生成，统计表的底色系统会自动充填，无需人为操作，样表如表1。

（3）导出缺陷评估表

评估表的导出是按照管段生成的，不同管段（包括往返）单独进行评估，评估时应根据不同地区，不同土质条件选择K值和T值，按照所选参数自动生成缺陷评估表，同时将不同等级用不同颜色充填，样表如表2。

（4）导出缺陷汇总表

缺陷汇总就是将整个项目的缺陷按结构性和功能性分为两大类，分别统计不同缺陷、不同等级的数量，汇总表的底色系统根据不同等级自动充填，样表如表3。

4、结论

管道内窥检测技术目前在国内除了几大城市（北、上、广、深）开展的项目比较多以外，其他城市也在积极筹备和试运行，仪器设备基本可以解决外业数据采集，但内业资料处理工作繁琐，不同城市业主要求不同，因此单纯依赖仪器自身携带的处理软件是不能满足内业资料整理需求，单位需要有自己的品牌，有一定实力能够随时随地研发不同的处理软件，这样在市场竞争激烈的环境下能够立于不败之地。

参考文献：

[1]衡世权.工业内窥镜在某电厂大修中的应用[J].仪器仪表用户，2008，5（15）：117-118.

[2]程维明，李国栋。用于细小工业管道的视频探测器[J].光学精密工程，2001，9（6）：519-522.