不同电极材料下GIS绝缘子表面爬电放电SF6分解组分比值特性分析

2015-04-13屈江江

机电信息 2015年27期

关键词：气室绝缘子比值

沈渡屈江江

（华北电力大学，北京102206）

1 局部放电时SF1气体分解原理

SF6气体作为优良的绝缘介质已广泛应用于气体绝缘组合电器（简称GIS）中。在正常情况下，SF6化学性质十分稳定、不易分解，但在GIS设备内部出现绝缘缺陷并引发局部放电时，SF6气体会发生分解，生成微量的分解气体［1］。

局部放电下陡脉冲强电场激发的高能电子碰撞SF6分子，引起SF6气体分解。

e＋SF6→SFX＋（6－X）F，X ＝1～5

e＋SFX→SFX－1＋F

绝大部分初级分解产物SFX（X＝1，2，…，5）会快速复合为SF6分子，但放电气室内部不可避免存在的水分、氧气等杂质会与低氟硫化物SFX（X＝1，2，…，5）进一步发生反应，生成CF4、SO2F2、SOF2、SO2和SOF4等产物［2］。

如果放电区域周围存在含碳材料（如不锈钢金属电极、固体绝缘材料等），气室中的F 原子和O 原子还会与含碳材料释放出的C原子发生反应，生成CF4和CO2等产物。在高温条件下，C原子还会和CO2反应生成CO［3］。

2 实验系统概述

整个实验系统由GIS实验模型、加压装置、SF6组分分析装置、局放监测装置组成。如图1 所示，GIS 实验模型结构为三相共体设备，绝缘等级为110kV，共分为6 个气室。气室之间采用封闭式盆式绝缘子分隔，且每个气室上设有取气口和气压表。其中竖立的两个气室从上到下分别为6#和5# 气室。SF6组分分析装置使用华爱GC9760B 气相色谱仪。

图1 GIS实验模型外观图

3 GIS绝缘缺陷物理模型构建

在5#、6#气室分别使用铁丝和铜丝设置了盆式绝缘子沿面树枝爬电缺陷，电极一端固定在均压环与绝缘子之间，另一端紧密接触绝缘子表面。铁丝对地净空距离为60mm，对地沿面距离为63mm。铜丝对地净空距离为51mm，对地沿面距离为63mm。铜丝已经过打磨处理。

4 实验数据获取与数据处理

本实验中采用的是高纯SF6气体（纯度为99.999%）。本文对充入放电气室后的SF6气体做了检测，测量结果如下：5#气室CO2含量为1.589 5ppm，CF4含量为1.489 5ppm；6#气室CO2含量为1.577 1ppm，CF4含量为1.476 2ppm。

尽量保证局放量在一个恒定数值，并通过调节电压来保证局放量。实验采用三相共同加压方式，并监测总体局放量，保持实验电压在31～35kV 之间，5# 和6# 气室的局放量在800～1 300pC之间，两个气室SF6气压都是3.5 MPa。进行240h的持续加压，利用气相色谱跟踪测量SF6放电分解气体（每12～24h采集一次样品），分析得到SF6局放分解气体的定性定量结果。

4.1 两气室相同分解组分的对比关系

把两气室相同组分的含量扣除初始含量后放在一起，然后进行曲线拟合，得到变化规律，如图2所示。

图2 两气室气体组分含量的对比

两个气室CO2和CF4含量都随放电时间的延长而增长，并且呈现饱和趋势。其中5#气室的CO2和CF4生成量和增长速率都比6#气室大，5#气室的SO2F2和SOF2生成量比6#气室多。从原理上看，CO2和CF4的产生来源可能为铁丝和盆式绝缘子环氧树脂有机材料，而铜丝生成的碳元素比铁丝少，并且6#气室的放电量可能没有5#气室大。可见用气体组分含量并不能直观区别出两种电极材料。

4.2 两气室分解组分比值的对比关系

本文选择c（SOF2）/c（SO2F2）和c（CF4＋CO2）/c（SOF2＋SO2F2）两组组分含量比值作为识别四种绝缘缺陷的特征量，因为这两组组分含量比值具有明确的物理意义。c（SOF2）/c（SO2F2）的值可用来表征PD能量的大小，c（CF4＋CO2）/c（SOF2＋SO2F2）的值可用来表征绝缘材料和金属材料的劣化程度。

如图3所示，6#气室的放电缺陷c（SOF2）/c（SO2F2）和c（CF4＋CO2）/c（SOF2＋SO2F2）含量比5# 气室大，且数值大小区分度高，可见用气体组分含量能直观区别出两种电极材料。