CBCT测量下颌磨牙位置的方法

孙天瞳等

摘要：为研究下颌磨牙前后向移动量，通过对比颅骨标本直接测量和CBCT三维重建模型测量下颌磨牙近远中位置和近远中倾斜角度的方法，对比两种测量方法的可靠性。使用两种不同方法分别测量下颌第一磨牙到下颌支平面的垂直距离，以及下颌第一磨牙牙体长轴与下颌平面的角度，通过数据分析对比两种测量方法的可靠性。两种方法的测量结果没有统计学差异，通过CBCT以下颌第一磨牙到下颌支平面的垂直距离，以及下颌第一磨牙牙体长轴与下颌平面的角度，是一种简单易行的确定下颌磨牙位置的方法，在进行全牙弓前后移时可以通过该方法对下颌磨牙前后移量进行测量。

关键词：CBCT；下颌磨牙；全牙弓后移；种植支抗

近年来正畸治疗中种植支抗的使用越来越广泛，其中使用种植支抗牵引全牙弓后移动获得间隙是对于牙列拥挤或前突患者矫治的关键[1]，但是通过种植支抗牵引全牙弓后移的后移量如何测定，临床上没有经典的测量方法和统一标准[2]，目前许多文献报道采用侧位片，通过测量标记点的位置，测量标记点间的距离，通过术前术后对比测量值的变化，得出后牙移动的距离[3]，但这一方法存在很大的不确定性，而且误差很大。本研究，分别采用在颅骨上直接测量和CBCT三维重建测量的方法，检测此方法的可靠性，为临床测量下颌后牙的移动提供依据。

1实验材料

1.1颅骨标本成年人干燥颅骨标本5具，由深圳市第二人民医院提供，标本外形完整，无缺损，解剖结构清晰，咬合关系可以定位。

1.2游标卡尺：

1.3KaVo 3D eXam i锥束X射线计算机断层扫描系统（CBCT）。

2实验方法

颅骨标本直接测量：取眶耳平面与地面平行，在颅骨上分别标记髁突后缘点和下颌升支后缘位置，以此确定下颌支平面（RP平面）；标记下颌下缘最低部的位置，并通过这两点做切线，确定下颌平面（MP平面）。标记下颌第一磨牙近远中根根分叉下缘最高点的位置，标记下颌第一磨牙牙体长轴[4]。

使用游标卡尺测量下颌第一磨牙根分叉（下缘）最高点至下颌支平面（RP.ramal plane）的垂直距离，以此标记为下颌第一磨牙至下颌后缘的距离。以下颌第一磨牙牙体长轴与下颌平面（MP.mandibular plane）的夹角标记下颌第一磨牙的倾斜度（如图所示）。为了控制误差，由3名测量者分别进行测量，取平均值。

CBCT测量：使用KaVo 3D eXam i锥束X射线计算机断层扫描系统以0.3mm分辨率进行扫描，应用配套软件对颅骨进行三维重建。取眶耳平面与地面平行，在三维重建图上用鼠标分别标记髁突后缘点和下颌升支后缘位置，以此确定下颌支平面（RP平面）；标记下颌下缘最低部的位置，并通过这两点做切线，确定下颌平面（MP平面）。标记下颌第一磨牙近远中根根分叉最高点的位置，标记下颌第一磨牙牙体长轴。

使用配套软件测量下颌第一磨牙根分叉最高点至下颌支平面（RP.ramal plane）的垂直距离，以此标记为下颌第一磨牙至下颌后缘的距离。以下颌第一磨牙牙体长轴与下颌平面（MP.mandibular plane）的夹角标记下颌第一磨牙的倾斜度。为了控制误差，由3名测量者分别进行测量，取平均值。

3 实验结果

由于下颌骨左右并非100%对称，本研究将下颌骨分为左右两部分分别测量，在CT三维重建时以下颌切牙近中邻面做切线，切除不测量一侧重建影像。此方法所得误差更小，样本量更大，按颅骨标号分别标记为颅骨1，颅骨1'，颅骨2，颅骨2'以此类推。见表1。

经统计学分析，颅骨标本测量结果和CT重建测量结果均没有统计学差异。

4讨论

4.1关于下颌磨牙后移量的确定 常规关于下颌磨牙后移量的测量大多是采用在头颅侧位片上，通过测量L6-SN角：下颌第一磨牙长轴与SN连线的夹角（前下角），表示下颌第一磨牙的远中倾斜程度。L6-PFP：测量下颌第一磨牙牙冠中点至翼上颌裂垂线的距离，表示下颌磨牙的矢状位置。L6-PP（mm）：测量下颌第一磨牙牙冠中点至PP平面的距离。表示下颌磨牙的垂直位置[5]。通过对比术前术后上述测量值的变化情况来观察下颌磨牙位置的变化[3]。

但这一方法存在诸多问题，①对于侧位片的拍摄受拍摄者和拍摄体位的影响，其放大率存在一定误差；②在实际测量过程中，左右磨牙及翼上颌裂的位置很难完全重叠，这就对在确定下颌磨牙的矢状位置的时候有很大的不确定性，而且在治疗前及治疗后的X线片对比测量误差将会更大；③由于该方法采取的是通过在上颌选取标记点测量下颌的测量方法，在治疗结束时，下颌位置可能受到下颌平面角的改变而发生相应改变的情况[6]。

本研究通过CBCT在下颌选取参照点，测量下颌后牙移动的情况，很好的解决了这一问题，把原本需要在双颌测量解决的情况变为通过单颌测量来解决，测量方法大大简化，而且通过CBCT拍摄的X片也能基本保证1：1的放大率，避免放大率误差和测量误差的产生。

4.2为什么选择下颌升支后缘作为参照平面？ 在本研究中，我们选择下颌支后缘作为下颌骨的参考平面进行测量，其原因主要有：首先、下颌升支后缘好确定，本研究采用眶耳平面与地面平行时髁突后缘点和下颌升支后缘点的连线确定下颌升支后缘，此方法操作简单而且重复性强。其次、作为测量下颌磨牙移动的参照平面，我们需要在整个矫正过程中相对稳定，不会因为牙齿的移动或者年龄的增长而发生改变，在长期的临床观察中我们觉得下颌骨的升支后缘能够满足此研究条件。

4.3测量下颌磨牙后移量牙位的选择 在下颌磨牙后移量的测量中，我们认为最好的测量标地为下颌第二磨牙，①作为保留28颗功能牙的理念，下颌第二磨牙为最远中的磨牙，其远中移动的情况，直接决定了全牙弓远移效果的好坏；②对于测量方法而言，下颌第二磨牙距离下颌后缘最近，在测量时产生误差的可能性更小；③在下颌后牙远中移动过程中后牙在种植支抗牵引力远中移动的过程中，下颌磨牙有向远中倾斜的趋势，而下颌第二磨牙的远中倾斜程度是最大的，磨牙的远中倾斜程度对于全牙弓后移的稳定性具有判断意义[1]。

4.4为什么选择下颌第一磨牙的根分叉下缘的最高点作为测量其移动的标记点？测量牙体长轴与下颌平面的夹角有何意义？

在正畸牙齿移动的过程中，从力学观点分析只有两种最基本方式，即平移和转动，这两种移动方式取决于阻抗中心和和旋转中心的位置关系，一般对于多根牙而言，阻抗中心在根分叉往根尖方向1～2mm处，其位置随牙根长度而变化。所以我们在选择标记点时将下颌第一磨牙根分叉最高点作为我们测量牙齿移动的位置，即方便定位，又能满足尽量接近牙齿阻抗中心的区域，能够准确评定牙齿的移动量。

在全牙弓后移的过程中我们更希望牙体在牙槽骨内做平行移动，在实际移动过程中很难做到牙齿在颌骨内平行移动，往往在平行移动的同时均伴有近远中的倾斜移动即转动，但倾斜移动时常是不稳定的，在矫治力存在时倾斜移动能够保持，一旦矫治力消失，倾斜移动会有向原来状态复发的趋势；所以测量牙体长轴和下颌平面的夹角对于评价全牙弓后移的稳定性具有重要意义。

参考文献：

[1]李加志，刘进，郭鑫.种植支抗牵引全牙弓后移的临床初探[J].中华口腔正畸学杂志，2011，18（2）：76-83.

[2]郭军，杨永进，蔡兴伟.种植体支抗结合片段弓矫治成人下颌牙列拥挤的临床应用研究[J].中国美容医学，2012，21（1）：120-122.

[3]郭军，法永红，蔡兴伟.利用种植体支抗远移下颌磨牙的效果评价[J].口腔医学研究，2010，26（3）：395-396.

[4]Zwei-Chieng Chang，Fu-Chang Hu，Eddie Lai，Landmark identification errors on cone-beam computed tomography-derived cephalograms and conventional digital cephalograms[J].

American Journal of Orthodontics and Dentofacial Orthopedics，2011，140（6）：289-297.

[5]李建军，施生根.微种植支抗关闭正畸拔牙间隙对下颌垂直向位置的影响[J].中国医药导报，2013，10（12）：14-18.

[6]韩剑丽，刘进，葛元输，等.下颌全牙弓后移量及最后界的测量[J].中国美容医学，2011，20（4）：647-651.

编辑/王海静