NIDays 2012再掀测试测量领域新浪潮记NIDays 2012全球图形化系统设计盛会中国站

本刊记者 王 伟

2012年11月16日，由美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)举办的一年一度的“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站在北京万达索菲特大饭店圆满落幕。本届NIDays吸引了近千名来自不同行业的工程师和二十多家行业媒体到会，通过精心挑选的技术讲座、最新的产品与创新应用展示、精彩的互动交流等环节，向工程师们传达了最新前沿技术信息以及NI在测试测量、控制和设计领域的应用革新。

通过多年对NIDays的关注发现，每届NIDays盛会的主题都极具震撼力，无不揭示了当下测试测量、控制和设计领域的技术发展趋势与市场动向，诸如“绿色应用 科技共享”、“超越 无限”、“创新 让世界更美好”和“融汇成功 启迪未来”。今年的NIDays则以 “仪器 变革进行时”为主题，全面剖析了测试测量领域正在经历的一场划时代的变革。

回顾NI公司30多年来的发展史，NI持续不断地为仪器行业注入革命性的理念。早在上世纪80年代，伴随着LabVIEW的诞生，NI提出了“软件就是仪器”的口号，开辟了“虚拟仪器”这一全新理念。1997年，NI发明了PXI，将模块化仪器推向了全新发展纪元。今年，NI推出业内第一款矢量信号收发仪，将设计、测试和控制融入到统一的图形化系统设计平台之中，再一次重新定义了仪器。

NI东亚区副总裁Ajit Gokhale先生、NI大中华区总经理陈大庞先生以及NI射频与微波测试经理Erik Johnson先生出席了主题演讲。在演讲中，Ajit Gokhale和Erik Johnson都强调了如何通过仪器在测试测量行业延续摩尔定律。Erik Johnson指出：“NI在过去15年推出的各种模块化的仪器都在延续摩尔定律。我们努力将仪器变得更小，性能变得更高，同时不断降低使用成本。本次发布的全球首款矢量信号收发仪VST依然延续了摩尔定律，并能够将多款仪器融于一体，用软件的方式创新性地设计仪器。”

NI东亚区副总裁Ajit Gokhale（左二）、大中华区总经理陈大庞（中）、射频与微波测试经理Erik Johnson（右二）

在主题演讲和20余场技术讲座中，来自NI的工程师们围绕“面向二十一世纪的系统级设计”这一主题，向与会者全方位展示图形化系统设计的优势，以及众多本地客户的最新应用和成功案例。与此同时，揭开数款革命性产品的神秘面纱，包括拥有全新的模板及项目范例的LabVIEW 2012，基于FPGA、软件自定义、支持802.11ac和LTE/LTE-A测试的全球首款矢量信号收发仪(PXIe-5644R)以及用于高性能嵌入式测量与数据记录应用的CompactDAQ独立式机箱(cDAQ-9139)。

除此之外，题为LabVIEW编程技巧、自动化测试与测量、嵌入式控制与监测、行业应用专题和射频应用的五大专题活动和近50个热门产品的应用展示，让与会者了解了最新的测控技术趋势和NI发布的最新产品，其应用涵盖了汽车、电力能源到国防与航空航天等五大领域。

作为已成功举办14届的年度大型技术盛会，每一届NIDays都能准确锁定测试测量领域的新焦点，并围绕这个焦点安排讲座、产品展示和案例共享，让与会者深感不虚此行。我们期待下一届NIDays带给大家更多的惊喜。