平面近场测量中截断误差对口径场的不确定性分析
2013-04-25陈玉林
陈玉林,于 丁
(1.华东电子工程研究所 微波技术部,安徽 合肥230031;2.西安电子科技大学 天线与电磁散射研究所,陕西 西安710071)
平面近场测量中,近远场变换理论是基于所有辐射能量均被采集了的假设,所以理论上要采集到天线阵面前无穷大平面的能量。但在实际测量中只能在一个有限的平面上进行采样,而在傅里叶变换(IFFT)中同样是将扫面面以外的近场数据设置为零,这必然会在近远场变换以及天线“诊断”技术中带来误差[4-2]。关于截断误差对天线远场方向图的误差影响国内已有文献[3~4]对此进行研究,但其对口径场的误差影响国内暂时没有此方面的报道。因此,关于这方面的研究无论在理论上还是实际中均有重要意义。
1 截断误差引起的口径场误差表达式
1.1 近场到口径场的解析式
为简化理论推导,假设作近场扫描测量所用探头为理想电偶极子,如图1所示,其位于z=d的平面上。
图1 近场扫描测量
则天线的平面波谱At(kx,ky)与采集到的近场横向分量Et(x,y,d)之间的关系为
因为求口径场实际即为d=0处的横向电场,并且考虑只需要得到口径场幅度相位的相对值,在这里略去常数因子。即口径场Et(x,y,0)为
在近场到口径场的变换过程中,考虑到有限面截断的问题,需要将有限扫描面外的场设为零。
1.2 口径场误差表达式
设近场测量中实际扫描面为A0,其互补面积为A1。对近场能量的截断实际为对空间内波谱能量的截断[5]。则由有限截断面引起的横向波谱误差分量ΔAt(kx,ky)为
实际测得的波谱分量为
那么由截断误差所造成的口径场误差ΔEt(x,y,0)为
同理,口径场误差的相对分量δ同样为
2 截断误差的计算机模拟
为能清楚地反映截断误差对口径场的影响,这里构造以半波对称阵子为单元的天线阵列进行建模分析。
如图2所示,半波振子沿y方向放置,整个阵面沿x方向和y方向分别有2Nx+1,2Ny+1个单元,单元之间的间距分别为dx,dy。采样面到天线阵面的距离为d。阵中单元的电流幅度分布沿x和y皆为余弦分布,记为
图2 天线阵列建模
电流相位沿x和y方向分别为βx和βy。那么整个阵列在(x,y,d)处产生场的x分量Et(x,y,d)为[5]
这里取Nx=21,Ny=15,dx=dy=0.7λ,d=4λ,单元电流的相差分别取βx=βy=0。近场采样间隔Δx=Δy=0.45λ,近场采样范围S=l+2d tanθ,θ为截断角,l为天线的最大尺寸。先由式(10)算出天线阵理论的近场数据,然后用傅里叶变换得到天线阵的口径场分布,并变换不同的截断角来分析截断误差对口径场的影响。这里分别取截断角θ=65°;θ=55°;θ=45°的情况与理论口径场进行比较。限于篇幅,这里只给出水平面的口径场幅相分布图,如图3所示。
由图3可知,当取得截断角足够大(θ=65°时),通过傅里叶变换得到的口径场与原始口径场分布基本一致。而随着截断角的变小,口径场的幅度与相位与原始口径场幅度和相位差别越来越大。可见,在考虑多路径反射的前提下,要选择足够大的截断角,以采得足够的能量,从而得到真实的口径场来更好地“诊断”天线。
图3 不同截断角口径场幅相与理论口径场幅相比较图
3 结束语
给出了简单的口径场误差表示式,并用计算机模拟的方式分析了不同截断角对天线口径场分布的影响。结果表明,随着截断角的变小,截断能量给口径场带来的误差越来越大。所以,截断误差是近场测试中较大的一项误差源,在实际测试中,要选择适合的截断角,才能采集到足够的能量。
[1]ENRICA M,OLAV B,STEFANO M.Reduction of truncation errors in planar near-field aperture antenna measurements using the gerchberg-papoulis algorithm[J].IEEE Transactions on Antennas and Propagation,2008,56(11):3485-3493.
[2]ALLENC N.Error analysis techniques for planar near-field measurements[J].IEEE Transactions on Antennas and Propagation,1988,36(6):754-768.
[3] 张士选,张进民,方福仂,等.平面近场扫描截断误差分析[J].西安:西安电 子科技大 学学报,1999,26(4):525-528.
[4] 于丁,傅德民,刘其中,等.超低副瓣天线平面近场测量截断误差分析[J].西安:西安电子科技大学学报,2001,28(3):378-382.
[5] 胡鸿飞.平面近场测量前后变换算法研究及其应用[D].西安:西安电子科技大学,2000.