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某型导发架内部三相电源鉴相电路板设计*

2012-12-10陈利安肖明清

弹箭与制导学报 2012年3期
关键词:交直流三相电源

陈利安,肖明清,禹 航

(空军工程大学自动测试系统实验室,710038)

0 引言

空空导弹是现代空战中最重要的武器之一。它必需通过导发架发射,因此,导发架功能的好坏会直接影响空空导弹能否正常发射,进而可能影响战局。某型导发架内部的115V三相400Hz电源,用以给某型导弹供电。电源性能的好坏,将直接影响导弹能否正常工作。相序不正确,将可能导致陀螺转向改变,造成严重后果[1]。因此,测试导发架电源的性能有重要意义。

在以往测试中,各相电压主要利用万用表测试,相序需要用示波器测量,测试频率需要用计数器,需要的测试资源多,测试效率低,且不能实现自动测试。文中利用C8051F410设计了一种三相鉴相电路板,分别测试其内部电源的相序、各相电压和各相频率;并能将测试结果通过RS422通讯方式发送给上位机。经验证,误差在2%以内,测试精度高,且提高了测试效率。

1 系统总体设计

1.1 需求分析

某型发射架中的三相电源,标准幅值为115V(有效值),频率为400Hz,相角相差120°。设此三相电源的数学表达式为:

其中:Qmax为最大幅值;ω为角频率。各项指标如下[1]:

1)各相电压幅值(有效值):110V、120V;

2)频率:395~405Hz;

3)相序要求是正序(A→B→C)。

1.2 总体设计

系统的总体结构如图1所示。待测三相电源通过继电器引入,分成3组,分别测试电压、频率和鉴别相序。上位机与单片机(C8051F410)之间采用RS422方式通讯。为简化电路设计,所选用的单片机内部集成AD转换器。

图1 系统总体设计框图

2 硬件设计

2.1 主要器件选型

根据系统设计要求,单片机采用Silicon Labs公司的C8051F410。它是完全集成的低功耗混合信号片上系统型MCU,支持非侵入式的在系统调试接口,12位200ksps的24通道ADC,带模拟多路器开关和增强型UART等[2],为方便本系统设计。

真有效值转换芯片选用ANALOG DEVEICES公司的 AD536AKN,它是一种交直流转换芯片。在±15V电源供电时,转换后的直流电压范围是 0~7V[3]。

与上位机通讯采用RS422通讯方式,RS422芯片选用 MAX485[4]。

2.2 各分系统设计

2.2.1 分压电路

在以往的测试中,主要利用万用表,示波器、计数器等测量,可不经过分压,直接测试,但是不利于组建自动测试系统。由于AD536AKN的电压转换范围限制,应在交直流转换前作分压处理。采用的分压电路如图2所示。

图2 分压电路

R1、R2选用高精度电阻,减少误差。R1选220kΩ,R2选10kΩ,设合格电压为 Vs,待测电压为Vx,在输出端得到的电压值为:

由于AD536AKN的直流电压转换范围是0~7V,因此,可测Vx的范围是0~147V,包含合格电压Vs。

2.2.2 交直流转换电路

用分压电路的输出作为本级输入,采用AD536AKN的标准连接电路,如图3所示。其中R3是可调电阻。转换后的值输出到C8051F410的IO口,本设计中选择 C8051F410 的 P0.0~P0.2。

图3 交直流转换电路

调整输入电阻R3,在115V输入时,使Vin端输入电压为4V。在本系统中,选择参考电压为+5V,根据电路的线性性:

因此,可测Vx的范围是0~143.75V。满足系统设计要求。

2.2.3 相序判定电路

某导发架内部三相电源如图4所示,各相分别为正弦周期信号。

图4 某导发架内部三相电源示意图

相序判定主要利用的器件是比较器和D触发器,结果正确时,输出低电平,同时LED灯点亮。结果错误时,输出高电平,LED不点亮。如图5所示。

相序正确时,A、B、C待测三相经过比较器后,形成脉冲序列如图6所示。

图5 相序判定电路

图6 相序正确时序图

根据D触发器的状态转移特性,在时钟信号CLK为低电平时,D触发器的输出端 Q保持不变,当CLK为高电平时,它的转移特性如图7所示[5]。

时钟信号为B相,当相序正确时,由图5可看出,经或非门(U12A)输出为低电平。

若相序错误,如B相与C相顺序错误,则表达式变为:

图7 钟控D触发器状态转移图

经过比较器后,产生的时序如图8所示。

图8 相序错误时序图

2.2.4 测定频率

频率测试点从比较器的输出端引出,直接连接至C8051F410的IO口,利用MCU内部计数器测量。本设计中,选择 P0.6 和 P0.7。

3 软件设计

软件流程如图9所示。系统开机进入等待命令模式,握手成功后,可接收主机发送的命令选择测量电压、监测相序和测量频率。

3.1 测幅值

在实际电路中,A相、B相和C相进行交直流转换后,分别连接至单片机的P0.0~P0.2口。在C8051F410内部进行AD转换,将转换后值换算成实际值。参考电压选用C8051F410内部参考电压5V,因此调整图4交直流转换电路中的R3,使输出电压为4V。

在这个过程中,最重要的工作是如何将单片机中AD采集到的值与实际值对应起来,在本设计中采用的方法是分区间设定转换系数的办法。

转换系数的依据是利用电路的线性性。本电路的工作在常温状态下,因此系数在常温下测得。具体方法是:

1)首先给本电路板输入不同的电压值,用精确电压表测得电压,记录在矩阵M中。

2)在交直流转换的输出端测得对应电压,记录在矩阵N中,以下是示例,在实际应用中应增加取样数,提高精度。

M=[110.0111.2113.9115.3118120.6 122.3];N=[3.83 3.87 3.96 4.02 4.11 4.20 4.26]。

3)用矩阵M中的值除以对应N矩阵中的值,得到矩阵Q:

Q=[28.70 28.70 28.74 28.68 28.69 28.7128.70]

4)对矩阵Q分区间,求得各区间的平均值矩阵R。

在实际程序中,分为100~110;110~113;113~117;117~120;120~125共5个区间。若测出值不在此区间内,直接回错误代码0xFF。利用在此条件下得到的N矩阵作为程序判断区间的依据,由此得到系数矩阵。在单片机AD转换后,先判断区间,乘以相应的转换系数,就可得到实际值。

图9 软件流程

3.2 测频率

测频率时用到两个定时器,定时器1定时,定时器2计数。使定时器1中断,取出定时器2中的数值保存,并清空定时器2。为提高测试精度,采用多次测量求平均值办法,将每5s钟测量出的5个值平均,减小误差,各相频率依次测量,每相分配时间30s。

3.3 测相序

相序判定已经由硬件实现,在软件中要做的是直接读IO口,高电平表示相序错误,低电平表示相序正确。

3.4 通讯协议

采用RS-422通讯,它是一种平衡传输规范,数据信号采用差分传输方式[6]。在本设计中,定义了上位机发送命令字格式和鉴相板回发字格式。

4 结论

文中所述设计已投入实际应用,结果表明,幅值误差在2%以内,频率误差在0.5%以内,相序测量正确,结果可信。提高了测试效率,有利于组建自动测试系统。

[1]肖明清.某型导弹系统引论[M].西安:空军工程大学工程学院,2007.

[2]Silicon Labs.C8051F410技术手册[OL/M].http://download.csdn.net/tag/c8051f/orderbypubdate/28.

[3]ANALOG DEVICES.True RMS-to-DC Converter AD536A 技术手册[OL/M].http://www.datasheetcatalog.org/datasheet/analogdevices/320060823AD536A_b.pdf

[4]MAXIM.MAX485技术手册[OL/M].http://www.waveshare.net/datasheet_pdf/MAX485-PDF.html.

[5]IEEE.422 通讯规范[OL/S].http://standards.ieee.org/.2011.

[6]王毓银.数字电路逻辑设计(脉冲与数字电路)[M].3版.北京:高等教育出版社,2002.

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