高功放高压联锁电路改进与测试
2012-11-19金华松邱冬冬刘斯亮
现代电子技术 2012年19期
金华松 邱冬冬 刘斯亮
摘要:高压联锁性能的好坏直接影响设备能否正常工作。通过分析CPI高功放(HPA)的延时加高压程序、高压联锁电路和交流延时器工作原理,研究出一种新改进的高压联锁电路方案和用于交流延时器的测试方法。分析阐述表明,该方案和测试方法克服了CPI高功放的高压联锁方案的弊端。另外,根据分析结果设计了延时测试电路,它可对交流延时器性能参数进行定量测试。
关键词:CPI; 高功放; 高压联锁; 交流延时器
中图分类号:TN913.31+334; TM133 文献标识码:A 文章编号:1004373X(2012)19015503