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过钻头测井

2012-08-15杨兴琴

测井技术 2012年4期
关键词:声波测井伽马岩性

过钻头测井

过钻头测井TBL(Through Bit Logging)通过钻柱传输小直径测井仪,穿过特殊的过孔钻头TBB(Through Bore Bit)进入裸眼井段完成数据采集,测井数据采集可选择实时传输和存贮两种模式。目前有代表性的过钻头测井仪有威德福公司的CompactⓇ系列和斯伦贝谢公司的ThruBitⓇSureLogTM系列。

李维斯油田服务公司(Reeves Oilfield Services Ltd)在业内最先开发出57mm超小直径过钻头测井仪系列CompactⓇ及TBL送入工具,并于2002年进行了现场试验。2005年该公司被威德福公司收购后,对CompactⓇ进行了技术改进,目前该系列测井仪的耐温和耐压指标分别达到135℃和103MPa,井下仪器主要包括阵列感应测井仪MAI(Array Induction)和微球聚焦测井仪MFE(Shallow-Focused Electric)、双侧向测井仪MDL(Dual Laterolog)、微电阻率和微侧向测井仪MML/MMR(Microlog-Microlaterolog)、岩性密度测井仪MPD(PhotoDensity)、补偿中子测井仪MDN(Dual Neutron)、交叉偶极子声波测井仪CXD(Cross-Dipole Sonic)、补偿声波测井仪MSS(Sonic Sonde)、伽马温度测井仪MCG(Gamma Ray)、辅助伽马短节MGS(Auxiliary Gamma Ray Sub)、微电阻率成像测井仪CMI(Microimager,61mm直径)以及重复式地层测试器MFT(Formation Pressure Tester,61mm直径)。61mm微电阻率成像仪CMI有64个电扣数量,采样率为21.5ms,垂直分辨率5.1mm,探测深度25.4mm。61mm重复式地层测试器MFT能通过最小内径64mm的井眼缩径,最大预采样室容积为40cm3,极板打开后,可以重复测压,抽吸速率最高为1cm3/s。石英压力计提供精确的压力值,而应变压力计作为备用。

过钻头有限责任公司(ThruBit LLC.,2011年12月被斯伦贝谢公司收购)开发的54mm超小直径四组合过钻头测井系列ThruBitⓇSureLogTM于2008年进行了现场试验,2009年投入商业化应用。ThruBitⓇSureLogTM系列井下仪器主要包括遥测-存贮-伽马组合短节TMG(ThruBit Memory/GR)、补偿中子测井仪TBN(ThruBit Neutron)、岩性密度测井仪TBD(ThruBit Density)、补偿声波测井仪TBS(ThruBit Sonic)和阵列感应测井仪TBI(ThruBit Array Induction),耐温耐压指标分别达到148℃和103MPa。(信息来源:[1]http:∥www.weatherford.com;[2]http:∥www.thrubit.com;[3]Through Bit Logging:A New Method to Acquire Log Data,and A First Step on The Road to Through Bore Drilling[C]∥SPWLA 45th Annual Logging Symposium,2004;[4]Through Bore Drilling Systems:A New Drilling Option[C]∥SPE79794,SPE/IADC Drilling Conference 2003;[5]An Innovative New System for Obtaining Open Hole Logs in Difficult Wells[C]∥AADE National Technical Conference and Exhibition,2011.杨兴琴 编译 王环 审校)

[3] 鞠晓东,李会银,成向阳,等.新型岩性密度测井仪研制[J].测井技术,2005,29(1):59-62.

[4] 鲁保平,张惠芳.四能窗稳谱技术在岩性密度测井仪中的应用[J].测井技术,2008,32(1):76-79.

[5] 肖无云,梁卫平,邵建辉,等.基于FPGA的数字化核脉冲幅度分析器[J].核电子学与探测技术,2008,28(6):1069-1071.

[6] Cosimo Imperiale,Alessio Imperiale.On Nuclear Spectrometry Pulses Digital Shaping and Processing[J].Measurement,2001,30:49-73.

[7] ZHOU Jianbin etc.Study of Digital Gaussian Shaping for a Semiconductor X-ray Detector in Real Time[C]∥Proceeding of 10th International Conference on Electronic Measurement &Instruments,ICEMI′2011,Beijing,China,IEEE,Inc.2011:163-165.

2011-12-26 本文编辑 余迎)

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