ynopsys将HAPS纠错可见度提升100倍

全球领先的电子器件和系统设计、验证和制造软件及知识产权（IP）供应商新思科技公司日前宣布：为其HAPS?基于FPGA原型系统的用户推出新版的Deep Trace Debug深度追踪纠错软件。借助HAPSDeep Trace Debug，原型工程师可利用比传统FPGA片上逻辑纠错器所用的存储器高出将近100倍的信号存储容量。新的深度追踪纠错功能同时增强了容量和故障隔离性能，同时释放片上FPGA存储器来满足验证复杂的系统级芯片（SoC）设计之需求。

为确保高速接口设计的正确功能，在几毫秒内通常需要获得几十个采样点。传统上，设计师不得不做出选择：以消耗大量的FPGA存储资源来捕获冗长的信号追踪历史记录，还是丢失信号追踪历史记录的细节可见度来节省FPGA存储资源。通过将Synopsys Identify智能集成电路仿真器（IICE）与一个HAPSDeep Trace Debug SRAM子板配对，HAPSDeep Trace Debug允许许多独特的带有复杂触发条件的信号探点可被记录，并且在系统执行时存储大量状态历史记录来提供更深的记录。SRAM子板也可释放FPGA片上RAM，使其用于为SoC设计的存储模块提供原型。