惠瑞捷推出业内首创可扩展测试机台系列V93000 Smart Scale平台

2011年 9月 19日，Advantest集团旗下企业惠瑞捷发布了业界首创可扩展、高性价比的测试机台系列，可用来测试28 nm及更小尺寸工艺和3D架构的芯片。

Smart Scale系列是具备先进通道卡功能的创新一代“智能”测试机台，与惠瑞捷久经大生产考验的V93000平台完全相容。智能测试意味着每个通道卡具有独立的时钟域，通过匹配受测器件的准确数据率要求，实现全面的测试覆盖率。配合电源调制、抖动注入和协议通讯等其他重要特性，系统级压力测试如今可在ATE层执行，提高了故障模型覆盖范围。

“凭借创新的V93000 Smart Scale系列测试系统和通道卡，惠瑞捷在智能测试解决方法方面取得领先地位。这些方法提供了定制的解决方案，可以为客户降低测试成本。”惠瑞捷片上系统测试部执行副总裁Hans-Juergen Wagner表示。

四个等级的 Smart Scale测试机台分别有不同的测试头尺寸，使惠瑞捷可为每个客户提供最高效的特定应用解决方案。

Wagner补充道：“由于每个等级的测试机台彼此完全兼容，当芯片的产量在设备生命周期内变更时，用户可快速轻松地将半导体器件从一个等级移至另一等级的Smart Scale机台。目前没有其他自动测试设备供应商有能力生产具有此功能的机台。”

惠瑞捷的独特技术提高了并行测试的能力，并带来了行业内第一个针对晶圆测试的全性能的解决方案,可以满足高阶的片上系统器件、系统级封装器件和晶圆级芯片尺寸封装的重要性能的测试需求。

V93000 Smart Scale测试机台推出同时，惠瑞捷还发布了三款新的数字通道卡。

新的Pin Scale 1600数字卡和Pin Scale 1600-ME卡为每个数字通道提供了行业最广泛的能力范围。除了提供从DC到1.6 Gb/s的数据率范围，这些通道卡还达到了先前通道卡密度的两倍或四倍。

惠瑞捷的新款Pin Scale 9G卡使实速测试具备了经济性，支持所有通道的双向功能以及单端和差分模式。还可执行有向量和无向量测试，满足绝大多数测试需要，包括面向设计验证的并行I/O测试，以及大批量生产中的串行物理层(PHY)测试。